Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 2001.07d
- /
- Pages.2511-2512
- /
- 2001
Simplified Error Generation Scheme for LMS Adaptation
PRML 체널에서 LMS 적응화를 위한 간략화된 오류 발생 구조
-
Park, Hyun-Soo
(Samsung Electronics, DM R&D center, High density recording system team)
;
- Kim, Ki-Hyun (Samsung Electronics, DM R&D center, High density recording system team) ;
- Shim, Jae-Seong (Samsung Electronics, DM R&D center, High density recording system team) ;
- Seo, Joong-Eon (Samsung Electronics, DM R&D center, High density recording system team) ;
- Jung, Kiu-Hae (Samsung Electronics, DM R&D center, High density recording system team) ;
- Shin, Dong-Ho (Samsung Electronics, DM R&D center, High density recording system team)
-
박현수
(삼성전자 DM연구소 고밀도 기록기기팀)
;
- 김기현 (삼성전자 DM연구소 고밀도 기록기기팀) ;
- 심재성 (삼성전자 DM연구소 고밀도 기록기기팀) ;
- 서중언 (삼성전자 DM연구소 고밀도 기록기기팀) ;
- 정규해 (삼성전자 DM연구소 고밀도 기록기기팀) ;
- 신동호 (삼성전자 DM연구소 고밀도 기록기기팀)
- Published : 2001.07.18
Abstract
디스크의 탄젠셜 성분의 틸트가 생긴 경우 발생하는 체널의 변화에 대해 적응형 부분 응답 신호처리 과정인 비터비 디코더를 적용하게 되면 비트오율에 상당한 효과를 가져온다. 이러한 적응 과정을 효과적으로 진행하기 위한 간략화된 오류 발생 알고리즘을 제안한다.
Keywords