직접 접합법으로 제조한 SOI 구조에서의 산화 적층 결함의 응집거동

Gettering Behaviors of Oxidation Induced Stacking Faults in Silicon-on-Insulator structure obtained by Wafer-Direct-Bonding

  • 김규태 (연세대학교 세라믹공학과) ;
  • 최두진 (연세대학교 세라믹공학과)
  • 발행 : 2000.04.21