Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 1999.11c
- /
- Pages.833-835
- /
- 1999
Efficient Delay Test Algorithm for Sequential Circuits
순차 회로를 위한 효율적인 지연 고장 테스트 알고리듬
- Huh, Kyung-Hoi (Dept. of Electrical Eng., Yonsei Univ.) ;
- Kang, Yong-Seok (Dept. of Electrical Eng., Yonsei Univ.) ;
- Kang, Sung-Ho (Dept. of Electrical Eng., Yonsei Univ.)
- Published : 1999.11.20
Abstract
지연 고장 테스트는 디지털 회로의 정확한 동작을 보장하기 위해서 필수적이다. 그러나 순차 회로에는 상태 레지스터들이 존재하기 때문에, 지연 고장을 검출하는 것이 쉽지 않다. 이러한 난점을 해결하기 위해 본 논문에서는 역기능적 지정 방법을 좀 더 효율적으로 적용할 수 있는 테스트 알고리듬을 제안한다. ISCAS89 벤치마크 회로에 대한 실험 결과, 테스트 가능한 경로의 수를 기존의 스캔 기법들에 비해 크게 향상시킬 수 있다는 것을 알 수 있다.
Keywords