초기고장률과 와이불분포의 적합성 검토

기술의 발전으로 전자기기(또는 부품)의 수명은 상당히 길어졌다. 따라서 장기간에 걸친 기기의 신뢰성을 예측하기 위해 초기고장률로 부터 일정기간 지난후 부터를 상수고장률로 추정하여 사용하고 있다. 그러므로 초기고장률은 기기의 수명예측에 중요한 역할을 하고 있다. 본 고에서는 초기고장률 모형으로서 와이불분포의 적합성을 검토하는 새로운 통계적 방법을 소개한다.