Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)

1985.07a
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Pages.185-186
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1985

The Korean Institute of Electrical Engineers (대한전기학회)

권호 표지

Improvement is the Stability of MOS Structure by TCE Oxidation

TCE 산화법에 의한 MOS 구조의 안정성 향상

최원은 (중앙대학교) ;
장의구 (중앙대학교) ;
권보 (중앙대학교)

Published : 1985.07.26

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Abstract

Keywords