Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 1984.07a
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- Pages.205-206
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- 1984
Electrical Characteristics of MOS Structure with Thin $SiO_2$ Films
얇은 Si 산화막을 지닌 MOS 구조의 전기적 특성
- Published : 1984.07.20
Abstract
Keywords