Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)

1984.07a
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Pages.197-198
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1984

The Korean Institute of Electrical Engineers (대한전기학회)

권호 표지

A study of impurity distribution in MOS capacitor by c-v curvemeasurement

MOS Capacitor의 C-V 측정에 의한 불순물분포측정에 관한 연구

김봉흡 (한양대) ;
김진주 (한양대 대학원)

Published : 1984.07.20

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Abstract

Keywords