Proceedings of the Polymer Society of Korea Conference
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2006.10a
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pp.236-236
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2006
Time-resolved photoluminescence spectroscopy measurements of oligofluorenes with various side chains were studied. With extremely pure oligofluorenes, two kinds of red-shifted green emission were observed which have different origins; aggregate formation and on-chain chemical defect. The green emission around 490 nm was largely dependent upon the intermolecular interaction of oliglfuorene molecules. Moreover, by using oligofluorene with high-order liquid crystalline phase, we observed that the green emission was strongly dependent upon the molecular packing in solid films.
$YAlO_3:Tb{_x}^{3+}$ has been synthesized by a combustion process and the concentration x of Tb was varied from 0.001 and 0.05 mol% per mole of $YAlO_3$. The emission optical properties on the $YAlO_3:Tb{_x}^{3+}$ have been investigated by time-resolved photoluminescence spectra and decay curves of center wavelength. The emission color changes from blue to green with increasing the $Tb^{3+}$ concentration from x= 0.001 to 0.05 mole fraction in $YAlO_3$ host. This emission color change can be explained in terms of cross-relaxation processes. Decay curves of emission intensity indicate that the type of energy transfer is donor-acceptor transition.
$Sr_2Si_5N_8:Eu^{2+}$, one of the most recently developed phosphors for use in white light emitting diodes, exhibits a two-peak emission. Namely, the emission band of $Sr_2Si_5N_8:Eu^{2+}$ is deconvoluted into two Gaussian peaks irrespective of the $Eu^{2+}$ concentration. We examined the two-peak emission of $Sr_2Si_5N_8:Eu^{2+}$ by analyzing the time-resolved photoluminescence spectra. We revealed that the two-peak emission was closely associated with the energy transfer taking place between $Eu^{2+}$ activators located at two different crystallographic sites in the $Sr_2Si_5N_8$ structure. The experimental results coincided well with the rate equation model involving the crystallographic information of the host.
From time-resolved optical emission spectra, we have investigated the effects of a transverse magnetic field on the expansion of a plasma plume produced by laser ablation of a ZnO:$P_2O_5$ ceramic target in oxygen active atmosphere. The emission spectra of $Zn^{+*}$, $P^{+*}$, and $Zn^*$ neutrals in the presence of magnetic field turn out to be considerably different from those without magnetic field. The characteristics of the deposited films grown on amorphous fused silica substrates by pulsed laser deposition (PLD) are examined by analyzing their photoluminescence (PL), X-ray diffraction (XRD), and UV-visible spectra.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2015.08a
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pp.191.2-191.2
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2015
Details of carrier dynamics in self-assembled quantum dots (QDs) with a particular attention to nonradiative processes are not only interesting for fundamental physics, but it is also relevant to performance of optoelectronic devices and the exploitation of nanocrystals in practical applications. In general, the possible processes in such systems can be considered as radiative relaxation, carrier transfer between dots of different dimensions, Auger nonradiactive scattering, thermal escape from the dot, and trapping in surface and/or defects states. Authors of recent studies have proposed a mechanism for the carrier dynamics of time-resolved photoluminescence CdTe (a type II-VI QDs) systems. This mechanism involves the activation of phonons mediated by electron-phonon interactions. Confinement of both electrons and holes is strongly dependent on the thermal escape process, which can include multi-longitudinal optical phonon absorption resulting from carriers trapped in QD surface defects. Furthermore, the discrete quantized energies in the QD density of states (1S, 2S, 1P, etc.) arise mainly from ${\delta}$-functions in the QDs, which are related to different orbitals. Multiple discrete transitions between well separated energy states may play a critical role in carrier dynamics at low temperature when the thermal escape processes is not available. The decay time in QD structures slightly increases with temperature due to the redistribution of the QDs into discrete levels. Among II-VI QDs, wide-gap CdZnTe QD structures characterized by large excitonic binding energies are of great interest because of their potential use in optoelectronic devices that operate in the green spectral range. Furthermore, CdZnTe layers have emerged as excellent candidates for possible fabrication of ferroelectric non-volatile flash memory. In this study, we investigated the optical properties of CdZnTe/ZnTe QDs on Si substrate grown using molecular beam epitaxy. Time-resolved and temperature-dependent PL measurements were carried out in order to investigate the temperature-dependent carrier dynamics and the activation energy of CdZnTe/ZnTe QDs on Si substrate.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.17
no.11
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pp.1212-1217
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2004
Red organic electroluminescent (EL) devices based on tris(8-hydroxyquinorine aluminum) (Alq$_3$) doped with red emissive materials, 4-(dicyanomethylene)-2-t-butyl -6-(l,1,7,7-tetramethyljulolidyl-9-enyl)4H-pyran (DCJTB). poly(3-hexylthiophene) (P3HT). rubrene and 4-dicyanomethylene-2-methyl-6[2-(2,3.6.7-tetrahydro-lH,5H-benzo-[i,j]quinolizin-8yl)vinyl]-4H-pyran (DCM2) were fabricated for applying to the red light source, The photoluminescence (pL) intensities of red emissive materials doped in Alq$_3$ are limited by the concentration quenching with increasing the doping ratio and the doping concentration of DCJTB, DCM2, P3HT and rubrene measured at the maximum intensity showed 5, 1, 0.5 and 2 wt%, respectively. Time-resolved PL dynamic results showed that the PL lifetime of red emissive materials doped in Alq$_3$ were increased more than the value of material itself. It means that the efficient energy transfer occurred in the mixed state and Alq$_3$ is a suitable host materials for red emissive materials, The device which was used DCJTB as a dopant achieved the best result of the maximum luminance of 594 cd/$m^2$ at 15 V and showed the chromaticity coordinates of x=0,624, y=0,371.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2012.08a
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pp.184-184
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2012
Recently, InGaN/GaN multi-quantum well grown on GaN pyramid structures have attracted much attention due to their hybrid characteristics of quantum well, quantum wire, and quantum dot. This gives us broad band emission which will be useful for phosphor-free white light emitting diode. On the other hand, by using quantum dot emission on top of the pyramid, site selective single photon source could be realized. However, these structures still have several limitations for the single photon source. For instance, the quantum efficiency of quantum dot emission should be improved further. As detection systems have limited numerical aperture, collection efficiency is also important issue. It has been known that micro-cavities can be utilized to modify the radiative decay rate and to control the radiation pattern of quantum dot. Researchers have also been interested in nano-cavities using localized surface plasmon. Although the plasmonic cavities have small quality factor due to high loss of metal, it could have small mode volume because plasmonic wavelength is much smaller than the wavelength in the dielectric cavities. In this work, we used localized surface plasmon to improve efficiency of InGaN qunatum dot as a single photon emitter. We could easily get the localized surface plasmon mode after deposit the metal thin film because lnGaN/GaN multi quantum well has the pyramidal geometry. With numerical simulation (i.e., Finite Difference Time Domain method), we observed highly enhanced decay rate and modified radiation pattern. To confirm these localized surface plasmon effect experimentally, we deposited metal thin films on InGaN/GaN pyramid structures using e-beam deposition. Then, photoluminescence and time-resolved photoluminescence were carried out to measure the improvement of radiative decay rate (Purcell factor). By carrying out cathodoluminescence (CL) experiments, spatial-resolved CL images could also be obtained. As we mentioned before, collection efficiency is also important issue to make an efficient single photon emitter. To confirm the radiation pattern of quantum dot, Fourier optics system was used to capture the angular property of emission. We believe that highly focused localized surface plasmon around site-selective InGaN quantum dot could be a feasible single photon emitter.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2010.02a
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pp.119-119
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2010
We report strong exciton transition and exciton-phonon couplings in photoluminescence (PL) of ZnO thin films grown on MgO/sapphire (buffer/substrate) by plasma-assisted molecular beam epitaxy. The PL spectra at 10 K showed the intensity of the dominant emission, donor-bound exciton transition of front surface (top surface, the latter part in growth) is found to be about 100 times higher than that of back surface (in-depth bottom area, the initial part), while the room temperature PL spectra showed dominant contributions from the free exciton emissions and phonon-replicas of free excitons for front surface and back surface, respectively, It could be attributed to the strong contributions of exciton-phonon coupling. Time resolved PL spectra reveal that the life time of exciton recombination from the front surface are longer than those from back surface. This is most probably due to the fact that reduction of non-radiative recombination in the front surface. This investigation indicates that the existence of native defects or trap centers which can be reduced by the proper initial condition in growth and the exciton-phonon interaction couplings play an important role in optical properties and crystal quality of ZnO thin films.
Park, J.S.;Goto, T.;Hong, S.K.;Chang, J.H.;Yoon, E.;Yao, T.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2010.08a
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pp.259-259
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2010
Periodically polarity inverted (PPI) ZnO structures on (0001) Al2O3 substrates are demonstrated by plasmas assisted molecular beam epitaxy. The patterning and re-growth methods are used to realize the PPI ZnO by employing the polarity controlling method. For the in-situ polarity controlling of ZnO films, Cr-compound buffer layers are used.[1, 2] The region with the CrN intermediate layer and the region with the Cr2O3 and Al2O3 substrate were used to grow the Zn- and O-polar ZnO films, respectively. The growth behaviors with anisotropic properties of PPI ZnO heterostructures are investigated. The periodical polarity inversion is evaluated by contrast images of piezo-response microscopy. Structural and optical interface properties of PPI ZnO are investigated by the transmission electron microcopy (TEM) and micro photoluminescence ($\mu$-PL). The inversion domain boundaries (IDBs) between the Zn and the O-polar ZnO regions were clearly observed by TEM. Moreover, the investigation of spatially resolved local photoluminescence characteristics of PPI ZnO revealed stronger excitonic emission at the interfacial region with the IDBs compared to the Zn-polar or the O-polar ZnO region. The possible mechanisms will be discussed with the consideration of the atomic configuration, carrier life time, and geometrical effects. The successful realization of PPI structures with nanometer scale period indicates the possibility for the application to the photonic band-gap structures or waveguide fabrication. The details of application and results will be discussed.
Chung, Roy Byung-Kyu;DenBaars, Steven P.;Speck, James S.;Nakamura, Shuji
Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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2011.10a
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pp.14-14
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2011
AlInN has been studied extensively over the past few years due to its interesting material properties that are not present in other ternary nitrides. However, basic material study of AlInN has not been reported as much compared to device applications due to the difficulty in the growth. We have performed the material studies from various aspects. A secondary ion mass spectrometry (SIMS) has shown high oxygen content above $1{\times}10^{18}\;cm^{-3}$ with its insensitivity to the growth conditions. While the free carrier concentration observed by the capacitance-voltage (C-V) measurements was about $3{\times}10^{17}\;cm^{-3}$, the activation energy measured by temperature dependent C-V was only about 4 meV. Si doped AlInN (Si level ${\sim}2{\times}10^{18}\;cm^{-3}$) showed almost no carrier freeze-out at carrier density of $1{\times}10^{18}\;cm^{-3}$. More studies were carried out with a transmission electron microscopy, time-resolved photoluminescence and other analytical techniques to understand the results from SIMS and C-V studies. In this report, we will discuss the possible correlations between the abnormal characteristics in AlInN.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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