• 제목/요약/키워드: thermo-elastic mismatch

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Crack behavior of Surface Strengthened Zirconia-Alumina Composite During Indentation

  • Balakrishnan, A.;Chu, M.C.;Panigrahi, B.B.;Choi, Je-Woo;Kim, Taik-Nam;Park, J.K.;Cho, S.J.
    • 한국재료학회지
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    • 제16권12호
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    • pp.743-746
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    • 2006
  • ZTA tubes were prepared by centrifugal casting and sintered at $1600^{\circ}C$ for 2 hrs. The ZTA tubes were machined into specimens of $3{\times}4{\times}40$ mm. Molten Soda lime glass (SLG) was penetrated into the surface of ZTA at an optimized condition of $1500^{\circ}C$ for the holding time of 5 h and furnace cooled. The extra glass on the surface was removed using a resin bonded diamond wheel. The glass penetrated samples were tested for their flexural strength using four point bend test. Vickers Indentation cracks were made on the glass penetrated surface at different loads of 9.8 N, 49 N, 98 N and 196 N. The residual compression on the surface enhanced the flexural strength and crack arrest behaviour remarkably. This was attributed to the thermoelastic mismatch between the glass and ZTA matrix during cooling.

마이크로 머신(MEMS) 소자 패키지의 열응력에 대한 연구 (A Study on the Thermo-Mechanical Stress of MEMS Device Packages)

  • 전우석;백경욱
    • 한국재료학회지
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    • 제8권8호
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    • pp.744-750
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    • 1998
  • 마이크로 머신 소자는 일반전자 소자와 달리 소자 자체에 미세한 기계적 구조물을 갖고 있으며, 이의 구동을 통하여 센서 또는 엑츄에이터의 기능을 갖게 된다. 이 소자들은 그 작동 요구특성에 따라 패키지의 기계적, 환경적 격리를 요구하거나 분위기조절이 요구되는 등 까다로운 패키지 특성을 필요로 한다. 또한 미세한 작동소자들로 인하여 열 및 열응력에 매우 민감하며, 패키지방법에 따라 구동부위의 작동 특성이 크게 변화할 수 있다. 본 연구에서는 마이크로 머신 소자가 패키지 상에 접촉되어 패키지 될 때, 소자의 접촉 재료 및 공정온도, 크기 등이 마이크로 머신 소자에 미치는 열응력을 연구하였다. 유한요소해석법을 사용하여 소자에 미치는 열응력과 이로 인한 마이크로머신 소자의 물리적 변형을 예측하고, 이를 통하여 마이크로 머신 소자 패키지에 최소한의 열응력을 미치는 소자접속 재료의 선별과 패키지 설계의 최적화를 이루고자 하였다.

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온도변화에 따른 MEMS 자이로스코프 패키지의 미소변형 측정 (Deformation Behavior of MEMS Gyroscope Package Subjected to Temperature Change)

  • 주진원;최용서;좌성훈;김종석;정병길
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제11권4호
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    • pp.13-22
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    • 2004
  • MEMS 소자의 패키지는 일반적으로 패키징 과정에서 큰 온도변화를 받게 되는데, 이에 의한 패키지의 변형은 패키지 및 소자의 신뢰성에 큰 영향을 미칠 수 있다. 본 논문에서는 진동형 MEMS 자이로스코프 센서의 패키지를 대상으로 하여, 온도변화로 인한 열변형 거동에 대한 광학실험과 해석을 수행하였다. 이를 위하여 실시간 모아레 간섭계를 이용하여 각 온도단계에서 변위분포를 나타내는 간섭무늬를 얻고, 그로부터 MEMS 패키지의 굽힘변형 거동 및 인장변형에 대한 해석을 수행하였다. MEMS 칩과 EMC 및 PCB의 열팽창계수 차이로 인하여 패키지는 $125^{\circ}C$ 이하에서는 전체적으로 아래로 볼록한 굽힘변형이 발생하였으며, 온도 $140^{\circ}C$를 정점으로 그 이상의 온도에서는 반대의 굽힘변형이 발생하였다. MEMS의 주파수에 영향을 줄 수 있는 칩 자체의 수축변형률은 약 $481{\times}10^{-6}$로 측정되어서 MEMS 설계시 이를 고려하여야 함을 알 수 있다.

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