Measurement of Lattice Parameter of Primary Si crystal in Rheocast Hypereutectic Al-Si Alloy by Convergent Beam Electron Diffraction Technique (수렴성빔 전자회절법을 이용한 리오캐스팅시킨 과공정 Al-Si합금에서 실리콘초정의 격자상수 측정)
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- Applied Microscopy
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- v.25 no.3
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- pp.99-107
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- 1995