The transfer characteristics of zinc tin oxide(ZTO) on silicon dioxide($SiO_2$) thin film transistor generally depend on the electrical properties of gate insulators. $SiO_2$ thin films are prepared with argon gas flow rates of 25 sccm and 30 sccm. The rate of ionization of $SiO_2$(25 sccm) decreases more than that of $SiO_2$(30 sccm), and then the generation of electrons decreases and the conductivity of $SiO_2$(25 sccm) is low. Relatively, the conductivity of $SiO_2$(30 sccm) increases because of the high rate of ionization of argon gases. Therefore, the insulating performance of $SiO_2$(25 sccm) is superior to that of $SiO_2$(30 sccm) because of the high potential barrier of $SiO_2$(25 sccm). The $ZTO/SiO_2$ transistors are prepared to research the $CO_2$ gas sensitivity. The stability of the transistor of $ZTO/SiO_2$(25 sccm) as a high insulator is superior owing to the high potential barrier. It is confirmed that the electrical properties of the insulator in transistor devices is an important factor to detect gases.
Using the Vienna ab initio simulation package (VASP) incorporating both semiempirical and nonlocal van der Waals interaction, the structural, adsorption, and magnetic properties of Ni/BN/Co systems were investigated. We proposed that the relative spin direction of Ni and Co magnets can be easily tuned, because the total energy difference between ferromagnetic (FM) and antiferromagnetic (AFM) states is small. Despite this feature, very interestingly, both Ni and Co layers manifest half-metallic state, whereas the spacer BN layer becomes weak metal for one monolayer (ML) thickness and an insulating barrier for two ML thicknesses. The half-metallic behavior of the magnetic layers seems very robust, because it is independent of the magnetic coupling between Ni and Co. This finding indicates that the Ni/BN/Co system can be used as a potential candidate for tunneling magnetoresistance system.
Polyimide is a well-known organic dielectric material, which has not only high chemical and thermal stability but also good electrical insulating and mechanical properties. In this research, we have synthesized a polyamic acid(PAA), which is a precursor of the polyimide. To obtain the optimum conditions of polyamic acid alkylamine salt(PAAS) Langmuir-Blodgett(LB) film deposition, the ${\pi}-A$ isotherms were examined by varying subphase temperature, barrier moving speed and spreading amount of solution. Film formation was verified by measuring transfer ratio, absorption of UV/vis spectra and scanning electron microscope(SEM) images.
SiO 7f the SiO/TiN film is used as the insulating layer and TiN film is chosen as the barrier against the diffusion of Al which is the terminal connected by ohmic contact because TiN has the advantageous properties such as good thermal stability and very low diffusion rate in spite of it\`s relatively low specific resistance. In this study we investigated it\`s electrical and optical characteristics to determine refractive index, absorption coefficient and Permittivity. The films are differently fabricated in thickness method for this experiment.
Using the Vienna ab initio simulation package (VASP) incorporating van der Waals interaction, we have explored structural, adsorption, and magnetic properties of Ni(111)/BN/Co(111) systems. We have found that both Ni(111) and Co(111) layers shows half metallic state, while the spacer BN layer becomes weak metal for one monolayer (ML) thickness and an insulating barrier for two ML thickness. The half metallic states in both Ni(111) and Co(111) layers are robust because it is unchanged independently on the magnetic coupling of Ni(111) and Co(111). This finding suggests that the Ni(111)/BN/Co(111) systems can be utilized for perfect tunneling magnetoresistance system. Moreover, it can be applied for potential spin injecting into semiconductor in FM/semiconductor system due to the fact that the half metallic state in FM layers at the interface will be unchanged.
We have studied the ac conductivity of insulating $La_{0.7}Sr_{0.3}FeO_3$ in the frequency range 20 Hz-l MHz and in the temperature range 80-300 K. We have analyzed experimental results in the frame works of the quantum-mechanical tunneling mechanism (QMT) and the hopping of barrier mechanism (HOB). We observed that small polaron QMT model is the most suitable mechanism for the low temperature ac conductivity of $La_{0.7}Sr_{0.3}FeO_3$.
In this days, the thinner film of dielectric materials is required while its capacitance is required to be still large at the VLSI process. Most of such VLSI have MOS structures. For the research on this requirement, MOS capacitors were fabricated on the silicon wafer in four different thickness groups by RF sputtering method. SiO of the SiO/TiN film is used as the insulating layer and TiN is chosen as the barrier against the diffusion of Al which is the terminal connected by ohmic contact because TiN has the advantageous properties such as good thermal stability and very low diffusion rate in spite of its relatively low specific resistance. In this study their electrical and optical characteristics are investigated to find refractive index, absorption coefficient and Permittivity.
We studied the magnetotransport properties of tunnel junctions with AlO and AlN barriers fabricated using microwave-excited plasma. The plasma nitridation process provided wider controllability than the plasma oxidization for the formation of MTJs with ultra-thin insulating layer, because of the slow nitriding rate of metal Al layers, comparing with the oxidizing rate of them. High tunnel magnetoresistance (TMR) ratios of 49 and 44% with respective resistance-area product $(R{\times}A) of 3 {\times} 10^4 and 6 {\times} 10^3 {\Omega}{\mu}m^2$ were obtained in the Co-Fe/Al-N/Co-Fe MTJs. We conclude that AlN is a hopeful barrier material to realize MTJs with high TMR ratio and low $R{\times}A$ for high performance MRAM cells. In addition, in order to clarify the annealing temperature dependence of TMR, the local transport properties were measured for Ta $50{\AA} /Cu 200 {\AA}/Ta 50 {\AA}/Ni_{76}Fe_{24} 20 {\AA}/Cu 50 {\AA}/Mn_{75}Ir_{25} 100 {\AA}/Co_{71}Fe_{29} 40 {\AA}/Al-O$ junction with $d_{Al}= 8 {\AA} and P_{O2}{\times}t_{0X}/ = 8.4 {\times} 10^4$ at various temperatures. The current histogram statistically calculated from the electrical current image was well in accord with the fitting result considering the Gaussian distribution and Fowler-Nordheim equation. After annealing at $340^{\circ}C$, where the TMR ratio of the corresponding MTJ had the maximum value of 44%, the average barrier height increased to 1.12 eV and its standard deviation decreased to 0.1 eV. The increase of TMR ratio after annealing could be well explained by the enhancement of the average barrier height and the reduction of its fluctuation.
절연층으로 $Al_2$$O_3$를 사용한 스핀의존성 터널링 접합에서 절연층의 두께가 자기저항특성에 미치는 효과에 대해 조사하였다. 스핀 의존성 터널링 접합은 3-gun 스퍼터링 시스템에서 4$^{\circ}$tilt-cut (111)Si 기판 위에 증착하였다. 절연층으로 사용된 $Al_2$$O_3$는 Al을 1~3 nm로 증착한 후에 대기중에서 자연산화시켜 얻었고, 상부와 하부 강자성체 전극은 NiFe와 Co를 사용하였다. 자기저항비는 절연층의 두께가 2 nm인 터널링 접합에서 약 14 %로 최대값을 보였고 접합에 걸리는 터널링 전압이 증가함에 따라 최대 자기저항비는 급격히 감소하는 경향을 보였다.
We have investigated the dielectric and electrical characteristics of palmitic acid(PA) stearic acid(SA) and arachidic acid(AA) Langmuir-Blodgett(LB) films because these fatty acid systems have a same hydrophilic group and a different hydrophobic one(methylene group or alkyl chain length). The fatty acid systems were used as LB films and the status of the deposited films was confirmed by evaluating the transfer ratio the UV absorption and the capacitance. The dielectric characteristics such as the frequency-capacitance characteristics and the dielectric dispersion and absorption characteristics of PA SA and AA through-plane were measured. The relative dielectric constants of PA, SA and AA LB films were about 3.0~4.6, 2.7~3.0 and 2.4~3.0 respectively. That is the relative dielectric constants were decreased in proportion to the chain length of methylene group. Also the dielectric dispersion and absorption of each fatty acid LB films have arisen from spontaneous polarization of dipole polarization in the range of 10$^4$~10$^{5}$ [Hz]. The conductivity of PA, SA and AA LB films obtained from I-V characteristics were about 9$\times$10$^{-14}$ , 3$\times$10$^{-14}$ and 5$\times$10$^{-15}$ [S/cm]. respectively. These results have shown the insulating materials and could control the conductivity y changing the length of methylene group. Also we have confirmed that the barrier height of fatty acid systems were almost the same ones obtained from dielectric characteristics.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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