• 한국컴퓨터정보학회논문지
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• 제16권12호
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• pp.1-10
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• 2011

내장형 시스템의요구사항이 복잡해짐에 따라 내장형 소프트웨어의 신뢰도를분석하기 위한 도구가 요구되고있다. 소프트웨어의 신뢰도를 분석하는 방법으로는 확률적 모델링을 이용하는데, 다수의 디바이스를 제어하는 내장형 소프트웨어에 적용하기 위해서는 내장형 소프트웨어에 특성화 시킬 필요가 있다. 또한, 기존의 신뢰도 분석 도구는 각 상태간의 전이 확률을 다른 방법으로 측정해야 하고, 한 번 작성한 모델에 대해 재사용을 고려하고 있지 않는다. 본 논문은 내장형 소프트웨어의 신뢰도를 분석하기 위해 내장형 소프트웨어 마르코프 체인 모델과 단위 테스팅 도구를 이용한 신뢰도 분석 도구를 제안한다. 내장형 소프트웨어 마르코프 체인 모델은 신뢰도 분석 방법으로 많이 사용되고 있는 마르코프 체인 모델을 내장형 소프트웨어에 특성화 시킨 모델이다. 그리고 단위 테스팅 도구는 내장형 소프트웨어의 개발환경에 적합한 호스트/타겟 구조를 가지고 있다. 제안하는 도구는 신뢰도 분석을 위해 단위간 전이 확률을 단위 테스트 결과로부터 자동으로 측정하여 기존의 도구보다 용이하게 신뢰도를 분석할 수 있다. 그리고 소프트웨어 모델을 XML 기반의 문서로 표현하여 단위 테스팅 도구가 업데이트 시킨 테스트 결과를 바로 적용할수 있고, 웹 기반의 인터페이스와 SVN 저장소를 이용하여 다수의 개발자가 쉽게 접근할 수 있는 장점을 갖는다. 본 논문에서는 예제를 이용하여 신뢰도의 분석을 보이고 신뢰도 측정에 유용함을 보인다.

• KSII Transactions on Internet and Information Systems (TIIS)
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• 제8권6호
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• pp.2139-2151
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• 2014

Embedded system testing, especially long-term reliability testing, of flash memory solutions such as embedded multi-media card, secure digital card and solid-state drive involves strategic decision making related to test sample size to achieve high test coverage. The test sample size is the number of flash memory devices used in a test. Earlier, there were physical limitations on the testing period and the number of test devices that could be used. Hence, decisions regarding the sample size depended on the experience of human testers owing to the absence of well-defined standards. Moreover, a lack of understanding of the importance of the sample size resulted in field defects due to unexpected user scenarios. In worst cases, users finally detected these defects after several years. In this paper, we propose that a large number of potential field defects can be detected if an adequately large test sample size is used to target weak features during long-term reliability testing of flash memory solutions. In general, a larger test sample size yields better results. However, owing to the limited availability of physical resources, there is a limit on the test sample size that can be used. In this paper, we address this problem by proposing a self-adaptive reliability testing scheme to decide the sample size for effective long-term reliability testing.

• 대한임베디드공학회논문지
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• 제4권4호
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• pp.156-163
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• 2009

Recently a standard software platform for automotive, AUTOSAR, has been developed to manage growing software complexity and improve software reuseability. However reuse of testing system and test data are difficult because they are dependant on implementation language and testing phases. In this paper, we suggest a automated testing approach for AUTOSAR software component using a standardized testing language, TTCN-3. AUTOSAR defines the AUTOSAR XML Schema for the data exchange format so that it is possible to automatically convert AUTOSAR model into TTCN-3 testing model. Therefore our approach is to present generation techniques for the TTCN-3 testing system from a AUTOSAR XML description. With the proposed testing techniques we can reduce time and effort to build the testing system and reuse testing environment.

• 정보처리학회논문지:소프트웨어 및 데이터공학
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• 제4권9호
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• pp.419-424
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• 2015

최근 사물인터넷 서비스가 점차 보편화되면서 사물인터넷에 사용되는 임베디드 시스템의 신뢰성 및 안전성 이슈가 부각되고 있다. 사물인터넷 시스템 등과 같은 임베디드 시스템 개발의 경우, 개발과정에서 소프트웨어 가상 수행환경을 구축하는 것이 쉽지 않아 단위테스트를 거의 수행하지 않고 있어 기능 신뢰성을 보장하기 어려운 실정이다. 이 연구에서는 실제 플랜트 환경에서 로그 기반 단위테스트 수행방법을 제안한다. 실제 시나리오 수행과정에서 함수별 수행경로를 고려하여 중복된 수행로그를 제거하여 저장되는 로그를 최소화하고 나중에 대표 수행경로만을 분석하여 단위테스트를 진행하는 방식이다. 제안된 방식은 시스템 테스트를 진행하는 과정에서 로그 기반 단위테스트를 효율적으로 수행할 수 있는 장점이 있다.

• 대한임베디드공학회논문지
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• 제3권1호
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• pp.19-24
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• 2008

To reduce time-to-market, more and more embedded system developers and system-on-chip designers rely on microprocessor-based design methodology. ARM processor has been a major player in this industry over the last 10 years. However, there are many restrictions on developing embedded software using ARM processor in the early design stage. For those who are not familiar with embedded software development environment or who cannot afford to have an expensive embedded hardware equipment, testing their software on a real ARM hardware platform is a challenging job. To overcome such a problem, we have designed VMA (Virtual ARM Machine), which offers easier testing and debugging environment to ARM based embedded system developers. Major benefits that can be achieved by utilizing a virtual ARM platform are (1) reducing development cost, (2) lowering the entrance barrier for embedded system novices, and (3) making it easier to test and debug embedded software designs. Unlike many other purely software-oriented ARM simulators which are independent of real hardware platforms, VMA is specifically targeted on SYS-Lab 5000 ARM hardware platform, (designed by Libertron, Inc.), which means that VMA imitates behaviors of embedded software as if the software is running on the target embedded hardware as closely as possible. This paper will describe how VMA is designed and how VMA can be used to reduce design time and cost.

• 대한임베디드공학회논문지
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• 제7권1호
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• pp.17-24
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• 2012

Recently automotive software has been more complex and needs to be reduced its development time. Software testing of its functionalities and performance should be conducted in an early development phase to reduce time to market and the development cost. Software functional testing can be performed through simulating the hardware, but it is not guaranteed that evaluation of real-time performance using simulation has enough accuracy. Real-time performance can be precisely evaluated with hardware-in-the-loop simulation, but it costs time and effort to set up hardware for testing. In this paper, we suggest a testing system that can evaluate functional requirements and real time properties with a general-purpose development board in the early development phase. In addition, we improve reusability of the testing system through modularized and layered architecture. With the proposed testing system we can contribute to building reliable testing system at low cost without difficulty.

• Journal of information and communication convergence engineering
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• 제11권1호
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• pp.56-61
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• 2013

Modern integrated circuits (ICs) are becoming an integrated parts of analog, digital, and radio frequency (RF) circuits. Testing these RF circuits on a chip is an important task, not only for fabrication quality control but also for tuning RF circuit elements to fit multi-standard wireless systems. In this paper, RF test circuits suitable for embedded testing are introduced: RF power detectors, power control circuits, directional couplers, and six-port reflectometers. Various types of embedded RF power detectors are reviewed. The conventional approach and our approach for the RF power control circuits are compared. Also, embedded tunable active directional couplers are presented. Then, six-port reflectometers for embedded RF testing are introduced including a 77-GHz six-port reflectometer circuit in a 130 nm process. This circuit demonstrates successful calibrated reflection coefficient simulation results for 37 well distributed samples in a Smith chart. The details including the theory, calibration, circuit design techniques, and simulations of the 77-GHz six-port reflectometer are presented in this paper.

• 한국IT서비스학회:학술대회논문집
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• 한국IT서비스학회 2006년도 추계학술대회
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• pp.190-193
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• 2006

Ther are many stages of the development for the embedded systems' hardware and software as well, which results in many test stages of it with respect to corresponding development stages. The software validation of embedded systems is taken into consideration for the testers to make sure that the systems work correctly after the deployment. Among test stages, especially control logic level testing and system validation testing are considered as the most important test, because the robustness of embedded systems' software can be validated by those two level of tests. in this paper, we would like to introduce the idea of how software test system for embedded systems can be established and of what necessary components are needed

• 한국정보과학회논문지:컴퓨팅의 실제 및 레터
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• 제16권5호
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• pp.576-580
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• 2010

임베디드 소프트웨어는 하드웨어 소프트웨어의 결합력이 매우 높기 때문에 전체 시스템에 대한 사용 시나리오 기반의 블랙박스 테스트가 주로 수행된다. 본 논문은 블랙박스 테스트로 발견된 결함에 대한 디버깅이 쉽지 않음에 착안하여 테스트와 디버깅 활동 연계를 지원하는 자동화 방안을 제안한다. 제안하는 방안은 테스트 결과로부터 결함 원인과 위치 추적이 가능한 디버깅 전략을 수립하는 방안과 이를 기반으로 이뮬레이터 환경에서 자동 수행되는 테스트 스크립트 자동 생성하는 방안으로 구현된다.

• 한국정보과학회논문지:소프트웨어및응용
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• 제33권4호
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• pp.388-401
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• 2006

소프트웨어의 생산성을 높이고 신뢰성 있는 실시간 이동형 내장 소프트웨어를 개발하기 위해서는, 소프트웨어를 실시간으로 정확하게 분석하고 시험 검증할 수 있는도구가 필요하다. 이러한 도구는 기본적으로 소스코드 기반의 화이트박스 시험 기능, 실시간 시스템 모니터링과 실행 제어 기능을 필요로 하며, 향후 다양한 시스템 환경과의 연동을 고려하여 재사용성과 이식성을 높일 수 있도록 설계되어야 한다. 본 논문에서는 실시간 이동형 내장 소프트웨어를 시험하기 위한 시험검증 도구의 기능적 요구사항을 식별하고, 식별된 요구사항을 바탕으로 시험검증 도구에 적합한 구조를 설계하였다 또한 시험검증 도구의 확장성과 이식성 제고를 위해 각 기능에 대한 구체적인 구현 기술과 기법을 제시하였으며, 이들 기능의 설계에 디자인 패턴을 적용하였다.