$ISnO_2$ thin films were prepared on p-type and n-type Si substrates to research the interface characteristics between $SnO_2$ and substrate. After the annealing processes, the amorphous structure was formed at the interface to make a Schottky contact. The O 1s spectra showed the bond of 530.4 eV as an amorphous structure, and the Schottky contact. The analysis by the deconvoluted spectra was observed the drastic variation of oxygen vacancies at the amorphous structure because of the depletion layer is directly related to the oxygen vacancy. $SnO_2$ thin film changed the electrical properties depending on the characteristics of substrates. It was confirmed that it is useful to observe the Schottky contact's properties by complementary using the XPS analysis and I-V measurement.
Niobium oxide thin films were synthesized by reactive rf magnetron sputtering. The target was metallic niobium with 2 inch in diameter and the substrate was n-type Si wafer. To control the surface properties of the films, Nb oxide thin films were obtained at various mixing ratios of argon and oxygen gases. Nb oxide thin films were analyzed with alpha step, scanning electron microscopy (SEM), X-ray diffraction (XRD), and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The result of alpha step showed that the thickness of Nb oxide thin films were decreased with increasing the oxygen gas ratios. SEM images showed that the granular morphology was formed at 0% of oxygen gas ratio and then disappeared at 20 and 75% of oxygen gas ratio. The amorphous Nb oxide was observed by XRD at all films. The oxidation state of Nb and O were studied with high resolution Ni 2p and O 1s XPS spectra. And the change in the chemical environment of Nb oxide thin films was investigated by XPS with Ar+ sputtering.
In order to investigate functional groups on the surface of Multi-walled Carbon Nanotubes (MWCNTs) induced by oxyfluorination, XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) analysis was carried out. All core level spectra of MWCNTs were deconvoluted to several Pseudo-Voigt functions (sum of Gaussian-Lorentzian functions). Both O1s and F1s binding energy of oxyfluorinated MWCNTs shifted high value as increment of fluorine mixing ratio. The carbon-fluorine covalent bonding concentration increased as increment of fluorine mixing ratio. The shape and intensity of OF10-MWCNTs are similar with those of as-received MWCNTs. However, the intensity and binding energies of main peak position of OF20-MWCNTs and OF30-MWCNTs were dramatically increased by oxyfluorination.
The surface chemical structure of three kinds of polyethylene (PE): high density (HD) PE, low density (LD) PE and linear (L)-LDPE exposed to Ar and $O_2$ plasmas has been investigated using XPS. Oxygen was incorporated in a more increased amount for HDPE than for L-LDPE and LDPE. Ar plasma tended to incorporate more oxygen than $O_2$ plasma. The XPS valence band spectra for Ar plasma exhibited a clear peak assigned to $O_2$s character. By chemical derivatization method it was found that the amount of -COOH group at the surface was much greater than that of -OH group. The hydrophilic nature of plasma-treated PE increased in the order: LDPE
The Cu and CuSn/PVP nanofibers were fabricated by electrospinning method by controlling various parameters. The precursor solution was prepared with copper(II) acetate monohydrate ($Cu(CH_3COO)_2$) and tin chloride dihydrate ($SnCl_2{\cdot}2H_2O$), and polyvinylpyrrolidone (PVP) for adjusting viscosity. The fabricated nanofibers were calcined at 873 K in Ar atmospheric environment for 5 hours to remove the solvent and polymer. The morphology and diameter of nanofibers were measured by optical microscopy (OM) with Motic image plus 2.0 program. The components and chemical environment were investigated with X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). From the XPS survey spectra, we confirmed that CuSn/PVP nanofibers were successfully fabricated. The XPS peaks of C 1s and N 1s were remarkably decreased after calcination of the nanofibers at 873 K. It implies that the PVP was completely decomposed after calcination at 873 K.
We have employed X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) technique to examine the combined effects of low-energy electron (LEE) irradiation and $Fe^{3+}$ ion on DNA damage. pBR322 plasmid DNA extracted from E. coli ER2420 was used for preparing DNA-$Fe^{3+}$ sample. The C1s XPS spectra were scanned for LEE-irradiated and LEE-unirradiated samples and then curve-fitted. For the samples with LEE irradiation only or with Fe ion only, no significant changes from pure DNA samples were observed - a single effect of either $Fe^{3+}$ ion or LEE irradiation did not cause a significant damage. However, when these two components were combined, the DNA damage was increased quite significantly, compared to the sum of DNA damages caused by $Fe^{3+}$ ion and by LEE irradiation independently. This observation is consistent with our previous results [Radiat. Res. 177, 775 (2012)] which was done using gel-electrophoresis technique. Partial interpretation of the observed spectrum peaks was also attempted.
KIEE International Transactions on Electrophysics and Applications
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제4C권1호
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pp.26-30
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2004
Orientation control of a polyoxometalate (POM) nanoparticle in its two-dimensional arrangement was attempted by Langmuir-Blodgett (LB) technique. For their uniorientation, two carboxyl groups were introduced on one side of the POM particle, and hydrophobic long chains were attached by esterification with the carboxyl groups (C18-POM). The C18-POM layer spread on water surface showed stability against surface pressure up to 60 mN/m. The pattern of the C18-POM isotherm was quite different from stearyl alcohol (C18-OH), while the POM itself did not show any development of surface pressure on water surface. The AFM images of C18-POM LB films showed some microcrystalline structures that were noticed as dot structures by Brewster angle microscopy. The microimages for C18-POM did not completely spread out as a monolayer on the water surface. The XPS spectra indicated the presence of POM structures and stearyl ester bonds formed from about 65% of the total carboxyls. The XRD spectra showed that the unioriented POMs were not positioned with the same lattice distance but rather in a wavy surface state.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제18권1호
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pp.21-24
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2017
Usually, the oxygen vacancy is an important factor in an oxide semiconductor device because the conductivity is related to the oxygen vacancy, which is formed at the interface between oxide semiconductors and electrodes with an annealing processes. ZTO is made by mixing n-type ZnO and p-type $SnO_2$. Zink tin oxide (ZTO), zink oxide (ZnO) and tin oxide ($SnO_2$) thin films deposited by RF magnetron sputtering and annealed, to generate the oxygen vacancy, were analyzed by XPS spectra. The contents of oxygen vacancy were the highest in ZTO annealed at $150^{\circ}C$, ZnO annealed at $200^{\circ}C$ and $SnO_2$ annealed at $100^{\circ}C$. The current was also increased with increasing the oxygen vacancy ions. The highest content of ZTO oxygen vacancies was obtained when annealed at 150. This is the middle level in compared with those of ZnO annealed at $200^{\circ}C$ and $SnO_2$ annealed at $100^{\circ}C$. The electrical properties of ZTO followed those of $SnO_2$, which acts a an enhancer in the oxide semiconductor.
In this work, we studied the microstructural changes of ITO during the annealing process. ITO nanoparticles were prepared by the sol-gel method using indium tin hydroxide as the precursor. The prepared sample was investigated using TEM, powder XRD, XPS, DRIFT, and 2D correlation analysis. The O 1s XPS spectra suggested that the microstructural changes during the annealing process are closely correlated with the oxygen sites of the ITO nanoparticles. The temperature-dependent in situ DRIFT spectra suggested that In-OH in the terminal sites is firstly decomposed and, then, Sn-O-Sn is produced in the ITO nanoparticles during the thermal annealing process. Based on the 2D correlation analysis, we deduced the following sequence of events: 1483 (due to In-OH bending mode) ${\rightarrow}$ 2268, 2164 (due to In-OH stretching mode) ${\rightarrow}$ 1546 (due to overtones of Sn-O-Sn modes) ${\rightarrow}$ 1412 (due to overtones of Sn-O-Sn modes) $cm^{-1}$.
산화물반도체의 결정질특성과 비정질특성을 이해하기 이하여 AZO 박막과 IGZO 박막을 증착하고 열처리하여 물리적 화학적인 특성을 비교하였다. AZO 박막은 열처리온도가 올라갈수록 결정성이 높아졌으나 IGZO 박막은 열처리온도가 높을수록 비정질특성이 우수하였다. AZO 박막은 열처리에 따라서 PL, XPS 분석에서 화학적 이동이 나타났으나 IGZO 박막은 화학적 이동이 나타나지 않았다. AZO의 O 1s 결합 에너지는 531.5 eV였으며, IGZO 박막은 530 eV으로 낮았다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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