Journal of the Korean Society of Mechanical Technology
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v.13
no.2
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pp.93-100
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2011
This study deals with the high frequency induction hardening (HF at $850^{\circ}C$, 120kHz & 50kW condition) SM45C steel. (1) The HF specimen, which was tempered at $150^{\circ}C$, did not show any tempering effect. A brittle fracture occurred at rounded area of the tensile specimen. AE (acoustic emission) amplitude distribution showed between 45dB and 60dB. (2) A slip and fracture occurred at the hole area of the HF specimen which was tempered at $300^{\circ}C$. As they pass the yield point, the AE energy is increased intermittently and AE amplitude distribution exists between 70dB and 85dB. In addition, after imposing the maximum tensile load, AE signals showed high amplitude and energy distribution. The AE amplitude showed between 45dB and 70dB. (3) A brittle fracture occurred at HF specimen which was tempered at $450^{\circ}C$ as if it is torn in the direction of $45^{\circ}$ on parallel area over the both sides of the tensile specimen, which lead to several peak appeared in AE energy. It was found that the AE amplitude was relatively low and the AE energy was high.
Nanocrystalline CoFeHfO thin films have been fabricated by RF sputtering method. It is shown that the CoFeHfO thin films possess not only high electrical resistivity but also large saturation magnetization and anisotropy field. Among the composition investigated, $Co_{53}FE_{22}Hf_{10}O_{15}$ thin film is observed to exhibit good soft magnetic properties: coercivity ($H_{c}$) of 0.18 Oe; anisotropy fild ($H_{k}$) of 49.92 Oe; saturation magnetization ($4{\Pi}M_{s}$) of 15.5 kG. The frequency response of permeability of the film is excellent. The excellent magnetic properties of this film in addition of an extremely high electrical resistivity (r) of $185\;{\mu}cm$ make it ideal for uses in high-frequency applications of micromagnetic devices. It is the formation of a peculiar microstructure that resulted in the superior properties of this film.
The structural properties of $HfO_2$ films could be improved by thermal treatment owing to their crystallization. We deposited $HfO_2$ films on sapphire by radio frequency (RF) magnetron sputtering, whose base vacuum pressure was lower than $4.5{\times}10^{-6}$ Pa, RF power was 100 W, working temperature was $200^{\circ}C$, working pressure was 3 mTorr, and the density of the active gas (Argon) was 20 sccm. After depositing the $HfO_2$ films, the samples were thermally treated by rapid thermal annealing (RTA) in $O_2$ ambient at different temperatures. Subsequently, the measured physical properties (structural, morphological, and optical) indicated that the crystallite size, refractive index at a wavelength of 632 nm, and packing density increased with rising temperatures. In particular, an $HfO_2$ film thermally treated at $800^{\circ}C$ in $O_2$ ambient had the highest refractive index of 2.0237 and packing density of 0.9638. The relation between optical and structural properties was also analyzed.
Objective : Recently, obesity has increased at an alarming rate and is now a worldwide health problem. Natural dietary supplement, $CharmSlim^{(R)}$(C), is mixed pills, which consists of beans, black sesames, kelps, onions, adlay seeds, anchovies, pyogo mushrooms, green tea. Our study was performed to determine the weight-loss effects of natural dietary supplement, based on natural ingredients, in mice fed high-fat diet with an abundance of carbohydrates. Methods : Four groups of male ICR mice were fed different diets during 6 weeks: normal diet(NOR), high-fat (15%, w/w) diet(HF), high-fat supplemented with natural dietary supplement powdered 5%(C5) and 10%(C10) groups. We measured the changes of food intake, body weight and adipose tissues weights. Also we examined levels of lipid profiles in serum. Results : Body weight, liver weight and food efficiency ratio were significantly higher in the HF group than in NOR group. After 6 weeks of treatment, body weight, liver weight and adipose tissues weights (epididymal, perinephric, visceral and BAT) were significantly decreased in the C10 group when compared to the control HF group. The C10 group had markedly lower serum levels of total cholesterol and triglyceride when compared with HF group. Conclusion : These results demonstrate that this dietary supplement can suppress the increased lipid profiles, body weight and fat gains, thus could be considered as an effective adjunct in the treatment of obesity.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2010.06a
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pp.382-382
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2010
The etch characteristics of the $HfAlO_3$ thin films and selectivity of $HfAlO_3$ to $SiO_2$ in $Cl_2/BCl_3$/Ar plasma were investigated in this work. The maximum etch rate was 108.7 nm/min and selectivity of $HfAlO_3$ to $SiO_2$ was 1.11 at $Cl_2$(3sccm)/$BCl_3$(4sccm)/Ar(16sccm), RF power of 500 W, DC-bias voltage of - 100 V, process pressure of 1 Pa and substrate temperature of $40^{\circ}C$. As increasing RF power and DC-bias voltage, etch rates of the $HfAlO_3$ thin films increased. Whereas as decreasing of the process pressure, those of the $HfAlO_3$ thin films were increased. The chemical reaction on the surface of the etched the $HfAlO_3$ thin films was investigated with X-ray photoelectron spectroscopy (XPS).
Epitaxial yttrium-stabilized HfO$_2$ thin films were deposited on p-type (100) Si substrates by pulsed laser deposition at a relatively lower substrate temperature of 550. Transmission electron microscopy observation revealed a fixed orientation relationship between the epitaxial film and Si; that is, (100)Si.(100)HfO$_2$ and [001]Si/[001]HfO$_2$. The film/Si interface is not atomically flat, suggesting possible interfacial reaction and diffusion, X-ray photoelectron spectrum analysis also revealed the interfacial reaction and diffusion evidenced by Hf silicate and Hf-Si bond formation at the interface. The epitaxial growth of the yttrium stabilized HfO$_2$ thin film on bare Si is via a direct growth mechanism without involoving the reaction between Hf atoms and SiO$_2$ layer. High-frequency capacitance-voltage measurement on an as-grown 40-A yttrium-stabilized HfO$_2$ epitaxial film yielded an dielectric constant of about 14 and equivalent oxide thickness to SiO$_2$ of 12 A. The leakage current density is 7.0${\times}$ 10e-2 A/$\textrm{cm}^2$ at 1V gate bias voltage.
The Journal of the Korea institute of electronic communication sciences
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v.12
no.6
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pp.1019-1026
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2017
The structural properties of $HfO_2$ films could be improved by calibrating the working pressure owing to the enhanced quality of a thin film. We deposited $HfO_2$ films on glass substrates by radio frequency (RF) magnetron sputtering under a base vacuum pressure lower than $4.5{\times}10^{-6}Pa$, RF power of 100 W, substrate temperature of $300^{\circ}C$. The working pressures were varied from 1 mTorr to 15 mTorr. Subsequently, their structural and optical properties were investigated. In particular, the $HfO_2$ film deposited at 1 mTorr had superior properties than the others, with a crystallite size of 10.27 nm, surface roughness of 1.173 nm, refractive index of 2.0937 at 550 nm, and 84.85 % transmittance at 550 nm. These results indicate that the $HfO_2$ film deposited at 1 mTorr is suitable for application in transparent electric devices.
Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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2007.11a
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pp.118-119
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2007
Phase stability and morphological investigation on the $Si/SiO_2/HfO_2$ and $Si/SiO_2/ZrO_2$ stack are presented. Thermal stability of $HfO_2$ and $ZrO_2$ determines the quality of interface and subsequently the performance of device. The stacks have been fabricated and annealed at $1000^{\circ}C$ for various time. In evolution of crystalline phase and morphology (electrical and geometrical) of high-k materials, annealing time and process are observed to be crucial factors. The crystallization of some phase has been observed in the case of $Si/SiO_2/HfO_2$. The chemical environment around Zr and Hf in respective samples is observed to be different.
Amorphous alloys of Co-rich magnetic amorphous films are well known as thpical soft magnetic alloys. They are used for many kinds of electric and electronic parts such as magnetic recording heads, transformers and inductors. CoFeHfO thin films were prepared by RF magnetron reactive sputtering. The films were deposited onto Si(100) substrates with a power of 300 W at room temperature. The reactive gas was introduced up to 10% ($O_2$/(Ar + $O_2$)) during deposition, and the $Co_{39}Fe_{34}Hf_{9.5}O_{17.5}$ thin film exhibit excellent soft magnetic properties : saturation magnetization ($4{\pi}M_s$) of 19kG, magnetic coercivity ($H_c$) of 0.37 Oe, anisotropy field ($H_k$) of 48.62 Oe, and an electrical property is also shown to be as high as 300 ${\mu}{\Omega}cm$. It is assumed that the good soft magnetic properties of $Co_{39}Fe_{34}Hf_{9.5}O_{17.5}$ thin film results from high electrical resistivity and large anisotropy field.
Zhang, T.;Du, W.Y.;Zhan, C.Y.;Wang, M.M.;Deng, H.W.;Xie, Z.M.;Li, H.
Nuclear Engineering and Technology
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v.54
no.8
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pp.2801-2808
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2022
The synergistic effect of ZrC nanoparticle pining and Re solution in W matrix on the thermal stability of tungsten was studied by investigating the evolution of the microstructure, hardness and tensile properties after annealing in a temperature range of 1000-1700 ℃. The results of metallography, electron backscatter diffraction pattern and Vickers micro-hardness indicate that the rolled W-1wt%Re-0.5 wt% ZrC alloy has a higher recrystallization temperature (1600 ℃-1700 ℃) than that of the rolled pure W (1200 ℃), W-0.5 wt%ZrC (1300 ℃), W-0.5 wt%HfC (1400-1500 ℃) and W-K-3wt%Re alloy fabricated by the same technology. The molecular dynamics simulation results indicated that solution Re atoms in W matrix can slow down the self-diffusion of W atoms and form dragging effect to delay the growth of W grain, moreover, the diffusion coefficient decrease with increasing Re content. In addition, the ZrC nanoparticles can pin the grain boundaries and dislocations effectively, preventing the recrystallization. Therefore, synergistic effect of solid solution Re element and dispersed ZrC nanoparticles significantly increase recrystallization temperature.
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