$Te_x(Sb_{85}Ge_{15})_{100-x}$ 상변화 광기록 박막의 결정화 특성
(Crystallization Properites of $Te_x(Sb_{85}Ge_{15})_{100-x}$ Thin Film as Phase Change Optical Recording Media)
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- 한국전기전자재료학회논문지
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- 제11권4호
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- pp.314-320
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- 1998