• 제목/요약/키워드: TFT-LCD

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TFT-LCD 영상에서 누적히스토그램을 이용한 STD 결함검출 알고리즘 (STD Defect Detection Algorithm by Using Cumulative Histogram in TFT-LCD Image)

  • 이승민;박길흠
    • 한국멀티미디어학회논문지
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    • 제19권8호
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    • pp.1288-1296
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    • 2016
  • The reliable detection of the limited defect in TFT-LCD images is difficult due to the small intensity difference with the background. However, the proposed detection method reliably detects the limited defect by enhancing the TFT-LCD image based on the cumulative histogram and then detecting the defect through the mean and standard deviation of the enhanced image. Notably, an image enhancement using a cumulative histogram increases the intensity contrast between the background and the limited defect, which then allows defects to be detected by using the mean and standard deviation of the enhanced image. Furthermore, through the comparison with the histogram equalization, we confirm that the proposed algorithm suppresses the emphasis of the noise. Experimental comparative results using real TFT-LCD images and pseudo images show that the proposed method detects the limited defect more reliably than conventional methods.

A Thin Film Transistor LCD Module with Novel OverDriving Timing Controller

  • Yu, Hong-Tien;Huang, Juin-Ying;Tseng, Wen-Tse;Wen, Harchson
    • 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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    • 한국정보디스플레이학회 2004년도 Asia Display / IMID 04
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    • pp.1053-1056
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    • 2004
  • Chunghwa Picture Tubes, LTD. (CPT) has developed a Novel TFT-LCD Driving Techniquel. This new technique is developed in combination with other state-of-the-art image processing solutions such as image compression / decompression, motion detection, and noise reduction. By applying the Novel Driving Technique to the high resolution TFT-LCD, it was found that the response time can be effectively reduced with a lower overall system cost by smaller frame memory requirement, lower EMI by less memory band-width. Likewise, higher display quality can also be achieved in that the unexpected noises generated by over-drive can be eliminated. The Novel TFT-LCD Driving Technique has been successfully implemented to the 30 inch WXGA (1280${\times}$768) resolution TFT LCD commercial TV module. It was found that the quality of moving picture was better improved compared with that of the conventional fast response driving method.

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다결정질 Si TFT-LCD에서의 Flicker에 대한 Simulation 연구 (A Simulation Study on the Flicker Analysis for the Poly-Silicon TFT-LCD)

  • 손명식;송민수;유건호;허지호;경희대학교물리학과;경희대학교물리학과
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2001년도 하계종합학술대회 논문집(2)
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    • pp.225-228
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    • 2001
  • We simulated and analyzed the flicker phenomena in the poly-Si TFT-LCD using PSpice for the development of wide-area and high-quality LCD display We define the electric quantity of flicker in the TFT-LCD, which is the ratio of half frame frequency (30Hz) to DC (0 Hz) frequency. We compared two different types of TFTs, excimer laser annealed (ELA) poly-Si TFT and silicide mediated crystallization (SMC) poly-Si TFT, and found that the ELA and SMC TFTs show different flicker characteristics because of their mobility and leakage current. In addition, we showed that the gate voltage should be chosen carefully at the minimum flicker because of the larger leakage current of poly-Si Tn as compared with a-Si TFT

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임베디드 환경을 이용한 TFT-LCD 3D 모듈 검사 시스템 (TFT-LCD 3D Module Testing System using Embedded Environment)

  • 김효남;박진양
    • 한국컴퓨터정보학회:학술대회논문집
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    • 한국컴퓨터정보학회 2013년도 제47차 동계학술대회논문집 21권1호
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    • pp.103-106
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    • 2013
  • 3D LCD Module은 기존 TFT-LCD에 Parallax Barrier 방식과 Passive Glasses 방식 및 Active Glass 방식의 기술을 적합하여 만들어 진다. 현재는 3D Module 제작 후 기타 ASSY 장치를 부착 하여 시제품 출시 전에 3D 패턴을 기반으로 출하 검사를 통해 제품 이상 유무를 검사하다 보니 제품 출하 검사 시 불량 요인으로 불량 제품에 대한 모든 Repair공정을 위해 많은 시간 및 인력, 자재 등의 많은 로스 부분이 발생 하여 생산성 절감 및 제품 원가 상승의 요인이 발생 한다. 따라서 본 논문에서 제안하고자 하는 내용은 기존의 2D TFT-LCD Module 검사장비에 3D Pattern 및 동영상을 구현하여 보다 신속 하고 정확한 임베디드 환경을 이용한 2D 및 3D LCD Module용 검사 시스템을 개발 하는데 있다.

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TFT-LCD 결함패턴 추출에 관한 연구 (Study on Defect Cell Extraction of TFT-LCD Panel)

  • 조재수;하광성;이진욱;김동현;전재웅
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2007년도 심포지엄 논문집 정보 및 제어부문
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    • pp.151-152
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    • 2007
  • 본 논문은 TFT-LCD 영상에서 결함을 자동검색하여 결함이 있는 LCD 영상의 경우 결함이 있는 LCD 패턴을 정확하게 추출해 내는 방법을 제안하였다. TFT-LCD 영상에서 결함이 있는 LCD 패턴 검색은 세단계로 이루어진다. 1단계는 먼저 입력영상에서 LCD 패턴영상의 특징을 이용하여 각 LCD 패턴의 기준점을 찾는다. 2단계는 1단계에서 찾은 여러 기준점 중에서 필터링과정을 통하여 정확한 한 개의 기준점을 최종 선택한다. 마지막으로 3단계에서는 최종적으로 선택된 기준점을 이용하여 결함정의(결함중심 및 결함사이즈)를 이용하여 결함이 포함되어 있는 LCD 패턴을 추출한다. 제안된 결함패턴 추출 알고리즘의 정확성은 컴퓨터 시뮬레이션을 통하여 그 효용성을 증명하였다.

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All Layer Printed TFT-LCD Device by Large Area UV-Imprinting Lithography

  • Chang, Jae-Hyuk;Lee, Seung-Jun;Park, Dae-Jin;Bae, Joo-Han;Lee, Sung-Hee;Kim, Jang-Kyum;Kim, Kyu-Young;Bae, Jung-Mok;Kim, Bo-Sung;Lim, Soon-Kwon
    • 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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    • 한국정보디스플레이학회 2009년도 9th International Meeting on Information Display
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    • pp.1115-1117
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    • 2009
  • Resist patterning of all layers in TFT and BM layer in CF were carried out using UV-imprinting Lithography to make a 12.1 inch TFT-LCD panel at the resolution of 1280 ${\times}$ 800 lines (125 ppi). Technical challenges and solutions for resist patterning by UV-imprinting are shown in this article.

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TFT-LCD 제조 공정의 Slim MES를 위한 생산계획 프레임워크 (A Production Planning Framework for Slim MES in TFT-LCD Lines)

  • 서정대
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제12권5호
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    • pp.2038-2047
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    • 2011
  • 본 논문에서는 TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display) 제조 공정 중 Module 공정의 Slim MES(Manufacturing Execution System)를 위한 생산계획 프레임워크(framework)개발에 관해 연구한다. TFT-LCD 제조 공정 중 Module 공정의 라인 구성 및 기능은 각 제조 현장마다 차이가 있다. 본 논문은 이러한 차이를 반영하는 제조현장 맞춤형 MES를 위한 생산계획 프레임워크를 제시한다. 먼저 TFT-LCD Module 공정의 분석을 통해 생산계획 프로세스를 파악한다. 그런 다음 현장 상황 제약조건을 반영한 수리적 모델링을 제시하고 이에 대한 최적 스케줄의 도출을 사례를 통해 제시한다. 또한 현장 상황을 반영한 디스패칭(dispatching) 룰에 의한 스케줄 생성 과정을 제시하고 성능실험 결과를 제시한다. 마지막으로 Slim MES를 위한 생산계획 프레임워크 설계 과정을 제시한다.

로컬 영역 간 평균 화소값 차를 이용한 멀티스케일 기반의 TFT-LCD 결함 검출 (TFT-LCD Defect Detection Using Mean Difference Between Local Regions Based on Multi-scale Image Reconstruction)

  • 정창도;이승민;윤병주;이준재;최일;박길흠
    • 한국멀티미디어학회논문지
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    • 제15권4호
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    • pp.439-448
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    • 2012
  • TFT-LCD 패널을 저해상도로 획득한 영상은 불균일한 휘도 분포와 노이즈 신호, 그리고 결함 신호로 구성되어 있다. 불균일한 휘도 분포와 노이즈로 인해 결함 신호를 분할하기 어려우며 이를 위해 다양한 분할 방법이 개발되고 있다. 본 논문에서는 공간영역 상에서 Eikvil et al.'s에 의해 제안되어진 크기가 다른 두 개의 창을 두고 각 창의 평균을 계산하고 그 값의 차이를 이용하는 방법을 이용하여 TFT-LCD 패널 이미지 상에 존재하는 결함의 영역을 분할하는 방법을 제안한다. 하지만 이 방법은 창의 크기에 의해 검출 가능한 결함영역의 크기가 제한되어 큰 결함영역을 분할하기 위해서는 창을 키워야 하므로 효율적이지 못한 문제점을 가지고 있다. 이 문제를 해결하기위해 멀티스케일(Multi-scale)을 이용하고, 각 스케일에서 검출 가능한 결함 크기를 제한함으로써 다양한 크기의 결함 영역을 분할 할 수 있는 알고리즘을 제안한다. 알고리즘의 성능을 검증하기위해 다양한 크기의 결함 영역을 만들어 분할되어진 결과와 실제 결함이 존재하는 TFT-LCD 패널 이미지의 분할 결과들을 통해 실제 적용 가능한 알고리즘임을 보인다.

TFT Technology for Flexible Display Applications

  • Kim, Chang-Dong;Kang, In-Byeong;Chung, In-Jae
    • 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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    • 한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권2호
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    • pp.1767-1770
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    • 2007
  • The key development issues in the flexible displays are TFT backplane technology for their various applications, which requires competitive device performance as well as its low temperature process. In this paper, with shortly reviewing recent flexible display development status, we describe technical trends of low-temperature a-Si TFTs. Our TFTs show good device characteristics enough to apply LCD and electrophoretic display.

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이동형 정보통신 기기용 화면표시 장치의 내충격 평가 방법 연구 (Study on The Anti-Shock Performance Evaluation of TFT-LCD module for Mobile IT Devices)

  • 김병선;김정우;이덕진;최재붕;김영진;백승현;주영비;구자춘
    • 한국정밀공학회지
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    • 제23권7호
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    • pp.130-137
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    • 2006
  • TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display) module is representative commercial product of FPD(Flat Panel Display). Thickness of TFT-LCD module is very thin. It is adopted for major display unit for IT devices such as Cellular Phone, Camcorder, Digital camera and etc. Due to the harsh user environment of mobile IT devices, it requires complicated structure and tight assembly. And user requirements for the mechanical functionalities of TFT-LCD module become more strict. However, TFT-LCD module is normally weak to high level transient mechanical shock. Since it uses thin crystallized panel. Therefore, anti-shock performance is classified as one of the most important design specifications. Traditionally, the product reliability against mechanical shock is confirmed by empirical method in the design-prototype-drop/impact test-redesign paradigm. The method is time-consuming and expensive process. It lacks scientific insight and quantitative evaluation. In this article, a systematic design evaluation of TFT-LCD module for mobile IT devices is presented with combinations of FEA and testing to support the optimal shock proof display design procedure.