Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2006.11a
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pp.15-16
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2006
The thermal stability of nickel silicide with compressively and tensilely stressed nitride capping layer has been investigated in this study. The Ni (10 nm) and Ni/Co/TiN (7/3/25 nm) structures were deposited on the p-type Si substrate. The stressed capping layer was deposited using plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) after silicide formation by one-step rapid thermal process (RTP) at $500^{\circ}C$ for 30 sec. It was found that the thermal stability of nickel silicide depends on the stress induced by the nitride capping layer. In the case of Ni (10 nm) structure, the high compressive sample shows the best thermal stability, whereas in the case of Ni/Co/TiN (7/3/25 nm) structure, the high compressive sample shows the worst thermal stability.
The effect of grain size on the time-dependent piezoelectrice degradation of a poled PZT of MPB composition Pb0.988Sr0.012 (Zr0.52Ti0.48)O3 with 2.4 mol% of Nb2O5 was studied, and the degradation mechanism was discussed. Changes in the internal bias field and the internal stress both responsible for the time-dependent degradation of poled PZT were examined by the polarization reveral technique, XRD and Vickers indentation, respectively. The piezoelectric degradation increased with increasing time and grain size, and the internal bias field due to space charge diffusion decreased with increasing grain size of poled PZT. The internal bias field, however, was almost insensitive to the degradation time regardless of the grain size. On the other hand, both the x-ray diffraction peak intensity ratio of (002) to (200) and the fracture behavior including the crack propagation support that the ferroelectric domain rearrangement of larger grain size showed rapid relaxation of the internal stress compared with smaller one, which is thought the origin of the larger piezoelectric degradation in the former. In conclusion, the contribution of space charge diffusion on the piezoelectric degradation of PZT is strongly dependent on both the grain size and the composition. Thus, the relaxation of internal stress due to the ferroelectric domain rearrangement as well as the amount and time-dependence of the internal bias field due to space charge diffusion should be considered simultaneously in the degradation mechanism of PZT.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.15
no.2
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pp.69-73
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2008
This article shows that the susceptibility of the device pattern to thermal stress-induced damage has a strong dependence on its proximity to the device comer in semiconductor devices utilizing lead-on-chip (LOC) die attach technique. The result, as explained based on numerical calculation and experiment, indicateds that the stress-driven damage potential of the passivation layer is the highest at the device comer. Thus, the bonding pads, which are very susceptible to passivation damage, should be designed to be located along the central region rather than the peripheral region of the device.
This paper provides approximate J estimates for off-centred, circumferential through-wall cracks in cylinders under bending. The proposed method is based on the reference stress approach, where the dependence of elastic and plastic influence functions of J on the cylinder/crack geometry, the off-centred angle and strain hardening is minimised through the use of a proper normalising load. Based on published limited FE results for off-centred, circumferential through-wall cracks under bending, such normalising load is found, based on which the reference stress based J estimates are proposed for more general cases, such as for a different cylinder geometry. Comparison of the estimated J with extensive FE J results shows overall good agreements for different crack/cylinder geometries which provides sufficient confidence in the use of the proposed method to fracture mechanics analyses of off-centred circumferential cracks. Furthermore, the proposed method is simple to use, giving significant merits in practice.
Modified virtual crack closure integral (MVCCI) technique has become very popular for computation of strain energy release rate (SERR) and stress intensity factor (SIF) for 2-D crack problems. The objective of this paper is to propose a numerical integration procedure for MVCCI so as to generalize the technique and make its application much wider. This new procedure called as numerically integrated MVCCI (NI-MVCCI) will remove the dependence of MVCCI equations on the type of finite element employed in the basic stress analysis. Numerical studies on fracture analysis of 2-D crack (mode I and II) problems have been conducted by employing 4-noded, 8-noded (regular & quarter-point), 9-noded and 12-noded finite elements. For non-singular (regular) elements at crack tip, NI-MVCCI technique generates the same results as MVCCI, but the advantage for higher order regular and singular elements is that complex equations for MVCCI need not be derived. Gauss numerical integration rule to be employed for 8-noded singular (quarter-point) element for accurate computation of SERR and SIF has been recommended based on the numerical studies.
In this paper, rotating bending fatigue tests have been carried out to investigate the growth behabiors of surface fatigue crack initiated from a small artificial surface defect, that might exist in real structures, on 2024-T3 and 6:4 brass. The test results are analysed in the viewpoints of both strength of materials and fracture mechanics, it can be concluded as follows. The effect of a small artificial surface defect upon the fatigue strength is very large. The sensitivity of 2024-T3 on the defect is higher than that of 6:4 brass. The growth behavior of the surface fatigue crack of 2024-T3 is different from that of 6:4 brass. The growth rate of the surface fatigue crack of 2024-T3 is considerably rapid in the early stage of the fatigue life and apt to decrease in the later stage. It was impossible to establish a unifying approach in the analysis of crack growth begabior of 2024-T3 and 6:4 brass using the maximum stress intensity factor because of their dependence on stress level. But if the elastic strain and cyclic total strain intensity factor range were applied to obtain the growth rate of surface fatigue cracks of the materials, the data were found to be nearly coincided.
Shanware, Naval P.;Williams, Leah M.;Bowler, Michael J.;Tibbetts, Randal S.
BMB Reports
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v.42
no.3
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pp.142-147
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2009
Small-molecule inhibitors of protein kinases have contributed immensely to our understanding of biological signaling path-ways and have been exploited therapeutically for the treatment of cancers and other disease states. The pyridinyl imidazole compounds SB 203580 and SB 202190 were identified as ATP competitive antagonists of the p38 stress-activated protein kinases and have been widely used to elucidate p38-dependent cellular processes. Here, we identify SB 203580 and SB 202190 as potent inhibitors of stress-induced CREB phosphorylation on Serine 111 (Ser-111) in intact cells. Unexpectedly, we found that the inhibitory activity of SB 203580 and SB 202190 on CREB phosphorylation was independent of p38, but instead correlated with inhibition of casein kinase 1 (CK1) in vitro. The inhibition of CK1-mediated CREB phosphorylation by concentrations of pyridinyl imidazoles commonly employed to suppress p38, suggests that in some cases conclusions of p38-dependence derived solely from the use of these inhibitors may be invalid.
Using the theory of linear piezoelectricity, the dynamic response of a central crack in a functionally graded piezoelectric ceramic under anti-plane shear impact is analyzed. We assume that the properties of the functionally graded piezoelectric material vary continuously along the thickness. By using the Laplace and Fourier transform, the problem is reduced to two pairs of dual integral equations and then into Fredholm integral equations of the second kind. Numerical values on the dynamic stress intensity factors are presented to show the dependence of the gradient of material properties and electric loading.
The mechanisms of resistance to oxyfluorfen (OF) and paraquat (PQ) were investigated in rice plants. Examination of the concentration dependence of oxyfluorfen- or paraquat-induced increase in conductivity showed that conductivities in the OF- and PQ-treated leaf squares were increased with 0.1 ${\mu}M$ oxyfluorfen and 0.01 ${\mu}M$ paraquat and further increased with higher concentrations. The levels of conductivity were approximately 10-times higher in the PQ-treated plants than in the OF-treated plants, indicating that the PQ-treated plants suffered more severe photodynamic damage than the OF-treated plants. The photooxidative stress caused by foliar application of either 50 ${\mu}M$ oxyfluorfen or 100 ${\mu}M$ paraquat increased the enzyme activities of ascorbate peroxidase and peroxidase 1 day after the herbicide treatments and then further increased their enzyme activities 2 days after the treatments. The activities of catalase began to increase 2 days after the oxyfluorfen and paraquat treatments. These antioxidant enzymes appear to play an essential part of defense mechanisms against oxyfluorfen and paraquat. Our results demonstrate that paraquat caused more severe oxidative stress, as indicated by a greater change in conductivity, thereby resulting in greater increases in antioxidant responses in plants, compared with those of oxyfluorfen.
Transactions of the Korean Society of Automotive Engineers
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v.13
no.1
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pp.153-158
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2005
Titanium alloy has widely been used as material for automotive parts because it has high specific strength. It is also light and harmless to human body. But, we have little design data about the creep behaviors of the alloy. Therefore, in this study, creep tests under four constant stress conditions have been conducted with low different temperature conditions. A series of creep tests had been performed to get the basic design data and life prediction of titanium products and we have gotten the fallowing results. First, the stress exponents decrease as the test temperatures increased. Secondly, the creep activation energy gradually decrease as the stresses became bigger. Thirdly, the constant of Larson-Miller parameter on this alloy was estimated as about 7.5. And for the last, the fractographs at the creep rupture showed the ductile fracture due to the intergranullar rupture.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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