Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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2001.10b
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pp.499-501
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2001
본 논문에서는 각 광원의 위치에 대해 미리 구한 라디안스 맵에 시간-색 공간에서의 반사요소 분리방법을 적용하여 난반사 라디안스 맵과 거울반사 라디안스 맵을 구한다. 필셀 BRDF를 얻기 위한 입력으로 반사요소가 분리된 라디안스 맵을 사용하였다. 따라서, 광원의 조작에 대해 난반사와 거울반사 이미지를 각각 제어할 수 있다. 시간-색 공간에서의 반사요소 분리방법을 사용함으로써, 이미지의 전역 정보가 아니라 지역 정보만을 이용한 반사요소 분리가 가능하다.
Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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2003.07a
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pp.146-147
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2003
산업계에서의 다양한 제품 개발로 인해 새로운 형상 측정기술이 요구된다. 칩패키지와 실리콘 웨이퍼로 대표되는 광산란 표면 특성을 가진 제품들의 형상 측정은 거친 표면을 가진 반면 수마이크로의 형상 측정 정밀도를 요구하기 때문에 기존의 측정법으로는 기대하는 성과를 이루지 못해왔다. 현재까지 기존의 정통적인 측정법을 통해 측정 시도되어 온 방법들은 다음과 같이 두 방법으로 요약된다. 첫째, Kwon과 Han등은 경면(specular surface)을 측정하던 정통적인 간섭계에 10.6$\mu$m파장의 $CO_2$레이저를 광원으로 사용함으로써 가시광선 영역에서의 광산란 표면을 적외부 영역에서 경면화 하여 측정하였다. (중략)
Phase-measuring deflectometry is a full-field gradient measuring technique that lends itself very well to testing specular optical surfaces. We have measured the deformation of the surface of a lens by transmission deflectometry with liquids. In this study, a method is proposed for measuring the refractive index distribution of a transparent object component. The proposed method combines transmission deflectometry with liquids. The deformed fringe patterns of a sample immersed in different fluids are recorded, and then the three-dimensional phase information of the sample is reconstructed numerically. We have used phase-shifting and temporal phase-unwrapping methods to retrieve the phase from the measured deformed fringe pattern, and we have used a least-squares method to find the height information of the specular surface from the calculated slope. In particular, we have proposed a theoretical model for determining the refractive index of sample and planar convex lens are demonstrated experimentally.
Projector-based visual systems are widely used for VR and experience display applications. But the illumination irregularity on the screen surface due to the screen material and its light reflection properties sometimes deteriorates the user experience. This phenomenon is particularly troublesome when the participants of the head tracking VR system such as CAVE or the motion generation experience system continually move around the system. One of reason to illumination irregularity is projector-screen specular reflection component to participant's eye's position and it's analysis needs high computation complexity. Similar to calculate specular lighting term using GPU's programmable shader, Our research adjusts every pixel's brightness in runtime with given 3D screen space model to reduce illumination irregularity. For doing that, Angle-based brightness compensate function are considered for specific screen installation and modified it for GPU-friendly compute and access. Two aspects are implemented, One is function access transformation from angular form to product and the other is piecewise linear interpolate approximation.
In this paper, a wavelet packet transform method is proposed for improving the altitude control performance of quadrotor UAV using an ultrasonic rangefinder. A ground tests are conducted using an ultrasonic rangefinder that is much used for vertical takeoff and landing. An ultrasonic rangefinder suffers from signal's spike due to specular reflectance and acoustic noise. The occurred spikes in short time span need to be analyzed at both sides time and frequency domain. The analyzed spikes of the ultrasonic rangefinder using a wavelet packet transform. Compared with the discrete wavelet transform, the wavelet packet decomposition can obtain more abundant time-frequency localization information, so it is more suitable for analyzing and processing ultrasonic signals spike. Experimental results show that it can effectively remove the spikes of the ultrasonic rangefinder.
Ha, Seok-Jae;Kim, Jong-Su;Cho, Myeong-Woo;Choi, Jong-Myung
Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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v.14
no.5
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pp.2113-2120
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2013
In this study, an efficient machine vision based inspection system is developed for the in-line measurement of phosphor resin dispensing shapes on LED chip package. Since the phosphor resin (target material) has semitransparent characteristics, illuminated light beam is reflected from the bottom of the chip as well as from the surface. Since such phenomenon can deteriorate inspection reliability, a white LED and a 635nm laser slit beams are experimentally tested to decide suitable illumination optics. Also, specular and diffuse reflection methods are tested to decide suitable optical triangulation. As a result, it can be known that the combination of a white slit beam source and specular reflection method show the best inspection results. The Catmull-Rom spline interpolation is applied to the obtained data to form smoother surface. From the results, it can be conclude that the developed system can be sucessfully applied to the in-line inspection of LED chip packaging process.
In this paper, a stationary wavelet transform method is proposed for improving the altitude control performance of quadrotor UAV using an ultrasonic rangefinder. A ground tests are conducted using an ultrasonic rangefinder that is much used for vertical takeoff and landing. An ultrasonic rangefinder suffers from signal's spike due to specular reflectance and acoustic noise. The occurred spikes in short time span need to be analyzed at both sides time and frequency domain. It was known that stationary wavelet transform is the transferring solution to the problem occurred by down sampling from DWT also more efficient to remove noise than DWT. The analyzed spikes of the ultrasonic rangefinder using a stationary wavelet transform and experimental results show that it can effectively remove the spikes of the ultrasonic rangefinder.
Understanding of reflectance of solar concentrators is important for assessing concentration performance. However inaccurate data about refractive indices of constituent materials and dust accumulation on the surface often prevent figuring out reflectance variations. The current study proposes an approach calculating concentrator reflectance based on the refractive index of glass obtained from reflectance and transmittance measurements. This approach improved accuracy of solar-averaged reflectance from 2.9% to 0.4% compared to the use of existing reference data. Reflectance variations with incidence angles are negligible up to $60^{\circ}C$ at various glass thicknesses. When concentrators are contaminated with dust during 2 months specular reflectance loss of vertically exposed concentrators is less than 7%. However for horizontally exposed concentrators the loss significantly increases up to 40% while dependence of reflectance on incidence angles becomes strong. Measurements of hemispherical reflectance indicate that 80 percentage of the loss comes from scattering rather than absorption by dust. Data of refractive index and reflectance provided in the current study will help estimate or model the concentrated solar flux.
Target Strength(TS) is an important factor for the detection of the target in an active sonar system: thus the numerical model for the prediction of TS is widely being developed. For the frequency range of several kHz, the most important scattering mechanism is known to be specular reflection, which is largely affected by the geometrical shape of the target. In this paper, a numerical algorithm to predict TS is developed based on the Kirchhoff approximation which is computationally efficient. The developed algorithm is applied to the canonical targets of simple shapes, for which the analytical solutions exist. The numerical results show good agreement with the analytical solutions. Also, the algorithm is applied to more complex scatterers, and is compared with the experimental data obtained in the water tank experiment for the purpose of verifying the developed numerical model. Discussions on the effect of spatial sampling and other aspects of numerical m odeling are presented.
The eptiaxial growth of Ge on the clean and surfactant (Sn) adsorbed surface of Ge(111) was studied by the intensity oscillation of a RHEED specular spot. In the case of epitaxial growth without the adsorbed surfactant, the RHEED intensity oscillation was stable and periodic up to 24 ML at the substrate temperature of $200^{\circ}C$. Therefore the optimum temperature for the epitaxial growth of Ge on clean Ge(111) seems to be $200^{\circ}C$. However, in the case of epitaxial growth with the adsorbed surfactant, the irregular oscillations are observed in the early stage of the growth. The RHEED intensity osicillation was very stable and periodic up to 38 ML, and the d2$\times$2 structure was not charged with continued adsorption of Ge at the substrate temperature of 2002$\times$2. These results may be explained by the fact that the diffusion length of Ge atoms is increased by decreasing the activation energy of the Ge surface diffusion, resulted by segregation of Sn toward the growing surface.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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