• 제목/요약/키워드: Scrubbing scheme

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자가 복구 오류 검출 및 정정 회로 적용을 고려한 최적 스크러빙 방안 (An Optimal Scrubbing Scheme for Auto Error Detection & Correction Logic)

  • 류상문
    • 제어로봇시스템학회논문지
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    • 제17권11호
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    • pp.1101-1105
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    • 2011
  • Radiation particles can introduce temporary errors in memory systems. To protect against these errors, so-called soft errors, error detection and correcting codes are used. In addition, scrubbing is applied which is a fundamental technique to avoid the accumulation of soft errors. This paper introduces an optimal scrubbing scheme, which is suitable for a system with auto error detection and correction logic. An auto error detection and correction logic can correct soft errors without CPU's writing operation. The proposed scrubbing scheme leads to maximum reliability by considering both allowable scrubbing load and the periodic accesses to memory by the tasks running in the system.

메모리 소자의 소프트 에러 극복을 위한 최적 스크러빙 방안 (An Optimal Scrubbing Scheme for Protection of Memory Devices against Soft Errors)

  • 류상문
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2011년도 추계학술대회
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    • pp.677-680
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    • 2011
  • 우주 방사선은 메모리 시스템에 소프트 에러를 야기할 수 있다. 소프트 에러는 오류 검출 및 정정 코드를 이용하여 극복될 수 있으며, 소프트 에러의 누적을 방지하기 위하여 스크러빙 작업이 병행되어야 한다. 본 논문은 CPU의 쓰기 동작 없이 소프트 에러를 정정할 수 있는 자가 오류 검출 및 정정 회로가 적용된 메모리 시스템에 적용할 수 있는 최적 스크러빙 수행 방안을 제안한다. 제안된 스크러빙 방안은 시스템의 가용한 스크러빙 로드와 시스템에서 실행되는 태스크의 주기적 메모리 접근을 함께 고려하여 최대의 신뢰도를 성취할 수 있도록 하여준다.

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과학기술위성 2호 탑재컴퓨터의 메모리 세정 방안 (Memory Scrubbing for On-Board Computer of STSA T-2)

  • 유상문
    • 제어로봇시스템학회논문지
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    • 제13권6호
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    • pp.519-524
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    • 2007
  • The OBC(on-board computer) of a satellite which plays a role of the controller for the satellite should be equipped with preventive measures against transient errors caused by SEU(single event upset). Since memory devices are pretty much susceptible to these transient errors, it is essential to protect memory devices against SFU. A common method exploits an error detection and correction code and additional memory devices, combined with periodic memory scrubbing. This paper proposes an effective memory scrubbing scheme for the OBC of STSAT-2. The memory system of the OBC is briefly mentioned and the reliability of the information stored in the memory system is analyzed. The result of the reliability analysis shows that there exist optimal scrubbing periods achieving the maximum reliability for allowed overall scrubbing overhead and they are dependent on the significance of the information stored. These optimal scrubbing periods from a reliability point of view are derived analytically.

하드웨어 메모리 스크러버 설계

  • 김대영;조창범;강석주;채태병
    • 항공우주기술
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    • 제2권1호
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    • pp.73-79
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    • 2003
  • 대부분의 위성 설계에서 우주 방사선에 의한 메모리 데이터 보호를 위해 오류정정회로를 내장하며, 동시에 오류의 누적을 방지하기 위해 주기적으로 메모리 내용을 읽는 알고리즘을 적용하고 있다. 소프트웨어에 의한 읽기 알고리즘을 적용하는 KOMPSAT 2호기의 경우 메모리 소자에 대한 방사능 영향 시험을 수행하지 않아 1호기에 비해 다소 큰 오류 가능성이 예측되었다. 소프트웨어 알고리즘 변경으로 읽기 작업을 하도록 결정하였으나 하드웨어에 의해 더 빠른 속도로 오류를 정정하도록 하는 방법도 연구되었다. 본 논문은 이러한 연구 결과로서, 최소 1.88분 정도의 주기로 1 Gbits의 메모리 영역을 읽음으로서 하드웨어만으로 메모리 내용을 보존할 수 있는 방법에 대하여 논의하였다.

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과학기술위성 3호 온보드 컴퓨터의 양성자 빔에 의한 Single Event Effect 분석 (Analysis of the Single Event Effect of the Science Technology Satellite-3 On-Board Computer under Proton Irradiation)

  • 강동수;오대수;고대호;백종철;김형신;장경선
    • 한국항공우주학회지
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    • 제39권12호
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    • pp.1174-1180
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    • 2011
  • Field Programmble Gate Array(FPGA)는 설계 시간 단축, 재구성 가능성 등의 이유로 우주용 시스템에 사용이 늘고 있다. 그러나, Static Random Access Memory (SRAM) 구조를 가지는 FPGA의 경우 우주 방사능 환경으로 인해 발생하는 single event upset (SEU)로 인한 영향에 더 취약한 단점을 가지고 있다. 과학기술위성 3호 온보드 컴퓨터에서는 SEU로 발생되는 영향을 감소시키기 위하여 triple modular redundancy (TMR)과 Scrubbing scheme (기법)을 사용하고 있다. 실제 방사선 조사 실험 결과, TMR과 Scrubbing 기법을 통하여 문턱 에너지 값이 10.6 MeV에서 20.3 MeV로 개선됨을 확인하였으며, 과학기술위성 3호 위성 궤도 환경을 시뮬레이션 한 결과와 실험 결과를 이용하여 1.23 bit-flips/day의 에러율을 얻었다.

다중 비트 소프트 에러 대응 메모리 소자를 위한 스크러빙 방안 (Scrubbing Scheme for Advanced Computer Memories for Multibit Soft Errors)

  • 류상문
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2011년도 추계학술대회
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    • pp.701-704
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    • 2011
  • 컴퓨터 시스템의 신뢰도에 가장 큰 영향을 미치는 것이 메모리 시스템의 신뢰도이며 메모리 시스템에서 발생하는 가장 빈번한 오류는 소자의 물리적 손상 없이 저장 정보가 변경되는 소프트 에러이다. 메모리에서 발생하는 소프트 에러의 영향은 오류 검출 및 정정 회로와 스크러빙 작업을 통하여 극복할 수 있다. 메모리 소자의 집적도가 높아짐에 따라 인접한 메모리 셀에 걸쳐서 발생하는 다중 비트 소프트 에러의 발생 빈도가 증가했으며 이를 해결하기 위한 메모리 구조와 스크러빙 기법이 제안되었다. 본 논문은 다중 비트 소프트 에러 대응 메모리 소자에 대한 이전 연구 결과에 적용할 수 있는 스크러빙 수행 방안을 제안하고, 그에 따른 신뢰도 성능 해석 결과를 보여준다.

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