• 제목/요약/키워드: Scattering ray

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정형 모서리 구조를 갖는 옵\ulcornerV 파라볼릭 안테나의 산란 특성 해석 (The Analysis of Scattering Characteristics of a Prime-focus Offset Parabolic Antenna with a Shaped Edge Structure)

  • 박대성;김형규;최재훈
    • 한국전자파학회논문지
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    • 제10권3호
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    • pp.412-418
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    • 1999
  • 기하학적 균일 회절 이론 (Uniform Geometrical Theory of Diffraction)을 이용하여 옵\ulcorner 파라볼릭 안테나의 산란 특성을 분석하였다. 먼저 파추적법(Ray Tracing)에 의하여 음영경계를 나눈후, 각 영역에 존재하는 반사파와 회절파를 기하학적 균일 회절 이론을 이용해 구하였다. 또한, 옵\ulcorner 파라볼릭 안테나의 모서리(edge)의 형태가 전자파의 산란 특성에 미치는 영향을 알아보기 위해 knife 모서리인 경우와 원형 캡을 부착한 경우를 분석하여 비교하였다.

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A real-time X-ray scattering study of sputtering growth of TiN films

  • J.H.Je;Noh, D.Y.;Kim, H.K.;K.S.Liang
    • 한국진공학회지
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    • 제4권S1호
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    • pp.97-101
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    • 1995
  • We report the results of a real-time synchrotron x-ray scattering study of the growth of TiN thin films on Si(001) substrates by RF sputtering. Our experiemnts show that the morphology of the TiN films strongly depends on growth conditions. After the nucleation and growth takes place with random crystallographic orientation at the very early stage, the films grow with a preferred orientation. Such preferred orientation was found to depend on both the sputtering power and the carrier gases used in the sputtering. Generally, the final morphology assumes either(111) or (002) crystallographic orientation. Using Ar sputtering, a cross-over effect from(002) to (111) was observed at intermediate time. The nature of the observed morphological changes is discussed.

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Uniform GTD와 Aperture Integration을 이용한 내부에 Terminator가 있는 평면도파관의 전자기파의 산란 (A Uniform GTD and Aperture Integration Analysis of the Electromagnetic Scattering by a Semi-infinite Parallel Plate Waveguide with an Interior Termination and Lossy Inner Walls)

  • 명노훈
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 1987년도 전기.전자공학 학술대회 논문집(I)
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    • pp.105-109
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    • 1987
  • A solution which combines ray and aperture integration(AI) techniques is presented for the problem of electromagnetic plane wave scattering by an open-ended, perfectly-conducting, semi-infinite parallel plate waveguide with a thin, uniform layer of lossy or absorbing material on its inner walls, and with a simple planar termination inside. Numerical results are given for the fields outside the waveguide.

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다층형 Fe/Cr 자성박막에서 계면확산의 방사광 x-선 연구 (Interfacial diffusion in Fe/Cr magnetic multilayers studied by synchrotron x-ray techniques)

  • 조태식;정지욱
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2003년도 춘계학술대회 논문집 초전도 자성체 연구회
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    • pp.84-87
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    • 2003
  • The interfacial diffusion in Fe/Cr/MgO(001) multilayers has been studied using synchrotron x-ray techniques, such as x-ray reflectivity, extended x-ray absorption fine structures (EXAFS), and anomalous x-ray scattering (AXS). The results of x-ray reflectivity indicated that the interfacial roughness of Fe/Cr multilayers with Cr-$4{\AA}$-thick was larger than that with Cr-$4{\AA}$-thick. The results of EXAFS indicated that the Fe element dominantly diffuse into the stable Cr layers at the Fe/Cr interface. The AXS was certified the existence of the interdiffused Fe element in the Cr layers. Our study revealed that the rough interface of the Fe/Cr multilayers was caused by the interfacia diffusion of Fe element into the Cr layers.

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2차원 직각좌표계에서 DEM을 이용한 방사선차폐해석 프로그램개발 (Development of Radiation Shielding Analysis Program Using Discrete Elements Method in X-Y Geometry)

  • Park, Ho-Sin;Kim, Jong-Kyung
    • Nuclear Engineering and Technology
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    • 제25권1호
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    • pp.51-62
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    • 1993
  • 입자수송방정식의 각분할해석법에서 입자흐름방향을 묘사하는 각방향에 대한 각분할집합이 고정된 값이 아니고 각입자속으로 조종되는 각요소법에 근거하여 방사선차폐해석 목적의 전산프로그램(TDET)를 2차원직각좌표계에 대해서 개발하였다. 산란선원항의 각의존성은 Spherical Harmonics Series Expansion으로 해석하였고 입자의 에너지 의존성은 다중에너지군으로 처리하였다. 3 종류의 Benchmark 시험을 통해서 TDET 프로그램을 검증하였다. 평판형 등방적 선원을 가진 사방흡수체에 대한 해석에서 TDET 해석결과가 MORSE-CG 해석결과에 잘 일치하고. 각분할법으로 해석할때 나타나는 Ray effect를 DOT 4.3 보다 잘 치 유하고 있다. 차폐체 내에 좁은 Vacuum duct가 있는 문제의 해석에서 TDET는 MORSE-CG와 마찬가지로 duct를 통한 streaming leak-age에 대해서 분명하고 현저한, 그리고 DOT 4.3보다 매우 훌륭한 해석결과를 보여주고 있다. 원자로차폐구조물 규모에 대해, 2 에너지군, 등방적 산란 및 선형 비등방 산란의 경우에 대해서 해석한 결과 각분할법으로 계산하여 제시하고 있는 기준치에서는 여러 mesh들에 걸쳐 넓은 규모의 Ray effect를 나타내고 있는데, TDET에 의한 해석결과에서는 이웃 mesh들 간에 미세한 Ray effect를 나타내고 있다.

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