• 제목/요약/키워드: Resistors Evanohm alloys target(72Ni-20Cr-3Al-4Mn-Si)

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Ni-Cr 박막 저항의 특성에 미치는 열처리 조건의 영향 (Effect of Annealing Conditions on Properties of Ni-Cr Thin Film Resistor)

  • 류승록;명성재;구본급;강병돈;류재천;김동진
    • 한국마이크로전자및패키징학회:학술대회논문집
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    • 한국마이크로전자및패키징학회 2003년도 기술심포지움 논문집
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    • pp.145-150
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    • 2003
  • 최근에 3 GHz이상의 고주파용 전자부품과 소자의 제조에 낮은 TCR 값과 높은 정밀도를 갖는 박막저항이 사용되고 있다. Ni-Cr 박막저항은 낮은 TCR 값과 저항에 대한 높은 안정성 때문에 저항 물질로 사용되는 가장 일반적인 물질이다. 본 연구에서는 $Ni_{72}Cr_{20}Al_3Mn_4Si(wt\%)$ 첨가된 우수한 저항특성을 갖는 s-type의 Evanohm 합금 타겟과 스퍼터링 장비를 이용하여 박막 저항을 제조하였다. 또한 열처리 조건을 $200^{\circ}C,\;300^{\circ}C,\;400^{\circ}C,\;500^{\circ}C$로 변화시키면서 고주파 박막저항의 미세구조와 전기적 특성을 관찰하여 최상의 열처리 조건을 알아보았다.

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Ni-Cr 박막 저항의 특성에 미치는 열처리 조건의 영향 (Effect of Annealing Conditions on Properties of Ni-Cr Thin Film Resistor)

  • 류승목;명성재;구본급;강병돈;류제천;김동진
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제11권1호
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    • pp.37-42
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    • 2004
  • 최근에 3 ㎓이상의 고주파용 전자부품과 소자의 제조에 낮은 저항온도계수(TCR)값과 높은 정밀도를 갖는 박막저항이 사용되고 있다. Ni-Cr 박막저항은 낮은 TCR 값과 저항에 대한 높은 안정성 때문에 저항 물질로 사용되는 가장 일반적인 물질이다. 본 연구에서는 $Ni_{72}Cr_Al_3Mn_4Si$(wt%)이 첨가된 우수한 저항특성을 갖는 S-type의 Evanohm 합금 타겟과 스퍼터링 장비를 이용하여 박막 저항을 제조하였다. 또한 열처리 조건을 $200^{\circ}C$, 300$300^{\circ}C$, $400^{\circ}C$, $500^{\circ}C$로 변화시키면서 고주파 박막 저항의 미세구조와 전기적 특성을 관찰하여 최상의 열처리 조건을 알아보았다.

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초고주파용 박막저항의 특성에 미치는 RF 스파터링 조건의 영향 (Effect of RF Sputtering Conditions on Properties of Thin Film Resistor for Microwave Device)

  • 류승록;구본급;강병돈;류제천;김동진
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2003년도 하계학술대회 논문집 Vol.4 No.2
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    • pp.913-917
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    • 2003
  • In the electronic components and devices fabrication, thin film resistors with low TCR(temperature coefficient of resistance) and high precision have been used over 3 GHz microwave in recent years. Ni-Cr alloys thin films resistors is one of the most commonly used resistive materials because it has low TCR and highly stable resistance. In this work, we fabricated thin film resistors using Evanohm alloys target(72Ni-20Cr-3Al-4Mn-Si) of s-type with excellent resistors properties by RF-sputtering. Also we reported best deposited conditions of thin film resistors for microwave to observe microstructure and electronic properties of thin film according to deposited conditions(between target and substrate, power supply)

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