표면방전방식 AC PDP에서 내부 방전으로 생성된 광신호가 상판을 투과할때 발생하는 반사손실을 최적화하기 위하여 기존의 상판구조에서 후막 유전체의 상하면에 굴절율변조 다층박막을 도입하여 굴절율을 정합하는 방법을 사용하였다. 두개의 서로 다른 굴절율을 갖는 납유리를 혼합한후 sputtering 하여 굴절율을 변조시킨 다층 무반사막을 형성한 AC PDP 상판의 광투과율은 평균 85%로 측정되어 기존 방식 AC PDP 상판의 광투과율인 평균 70%에 비하여 약 15%의 광투과율이 개선됨을 보여주었다.
현재 투명전극(Transparent Conductive Oxide: TCO)은 평판 디스플레이, 태양전지, 터치패널, 투명 트렌지스터의 전극 등 여러 분야에서 연구되어지고 있으며, 주로 IT 산업의 핵심재료로 ITO (Indium Tin Oxide)가 사용되고 있다. ITO 박막은 주로 스퍼터 공정을 통해 제작이 되며, 전기전도도가 우수하며 높은 Optical Band Gap을 가지고 있어 투명전극으로 많이 사용되고 연구되어지고 있다. 산화물 박막을 증착할 때 산소유량에 따라 박막의 물성이 변하거나 박막의 특성이 저하되는 현상 등을 가지고 있어 공정시 산소유량이 중요한 변수로 작용하게 된다. 본 연구에서는 증착 공정 중 발생하는 플라즈마의 방출광을 가지고 산소의 대표적인 파장의 방출광을 관찰하여 방출광이 변화함에 따라 실시간으로 산소가스유량이 제어됨을 확인하였으며, 또한 산소유량제어를 통해 생성된 박막의 전기적 특성 및 광학적 특성 등 박막의 물성을 비교하였다.
We have introduced multifunctional ITO single thin films formed by normal sputtering system equipped with a plasma limiter which effectively blocks the bombardment of energetic negative oxygen ions. MFSS ITO also possesses high gas diffusion barrier properties simultaneously low resistivity even it deposited at room temperature without post annealing on plastic substrate. Nano-crystalline enhancement by Ar energy has energy window from 20 to 30 eV under blocking NOI condition. Effect of blocking NOI and optimal Ar energy window enhancement facilitate that resistivity is minimized to $3.61{\times}10^{-4}{\Omega}cm$ and the WVTR of 100 nm thick MFSS ITO is $3.9{\times}10^{-3}g/(m^2day)$ which is measured under environmental conditions of 90% relative humidity and 50oC that corresponds to a value of ${\sim}10^{-5}g/(m^2day)$ at room temperature. The multifunctional MFSS ITO with low resistivity, and low gas permeability will be highly valuable for plastic electronics applications.
The properties of metal interlayered DLC films between the Si substrate and the DLC films were studied. DC magnetron sputtering method has been used to deposit intermediate layers of metals. And RF-PECVD method has been employed to synthesize DLC onto substrates of the silicon and metal layers. After we used metal Inter-layers, such as chromium, nickel, titanium and we studied tribological properties of the DLC films. The thickness of films were observed by field emission scanning electron microscope (FE-SEM). Also the surface morphology of the films were observed by an atomic force microscope (AFM). The crystallographic properties of the films were analyzed with X-ray diffraction (XRD), the friction coefficients were investigated by AFM in friction force microscope (FFM) mode. Tribological performances of the films were estimated by nano-indenter, stress tester measurement.
종래의 흑연 위주 연료전지 분리판 개발되어 최근 고분자 전해질 막 연료전지가 높은 전력, 낮은 배기 가스 배출, 낮은 작동 온도로 자동차 산업에서 상당한 주목을 받고 있다. 요구사항은 높은 전기 전도도, 높은 내식성, 낮은 가스 투과성, 낮은 무게, 쉬운 가공, 낮은 제조비용이다. Thin film Cr 장비로 저항가열 furnace, sputter 등이 사용된다. 연료전지 분리판의 고전도도, 내부식성 보호막의 고속 증착을 위한 새로운 증착원으로 스퍼터 - 승화형 소스의 가능성을 유도 결합 플라즈마에 금속 봉을 직류 바이어스 함으로써 시도하였다. 유도 결합 플라즈마를 이용하여 승화증착 시스템을 사용하여 OES(SQ-2000)와 QMS (CPM-300)를 사용하여 $N_2$ flow에 따른 유도 결합 플라즈마를 이용한 스퍼터-승화 증착 시스템을 사용하여도 균일한 공정을 하는 것을 확인 하였다.
SnO2/AI/Ag/AI/SnO2층 구조로 이루어진 열처리 가능한 열선반사막을 직류 스퍼터링법에 의해 soda-lime silicate 유리위에 형성시켰다. 이 코팅유리를 $650^{\circ}C$에서 열처리하면 가시광선 투과율 85%이상, plasma wavelength 970nm 이하를 얻을 수 있었다. 따라서 이 구조의 막은 유리 곡가공에 견디는 열적 안정성을 나타내었으며, 코팅유리의 열처리에 따른 전기적 특성 및 열적 안정성은 각각 Ag와 AI층의 두께에 의존하였다.
For the quantitative surface analysis of multicomponent materials, algorithms for the compensation of the matrix effect and surface compositional change by ion beam sputtering must be established and reference materials having certified compositions are necessary. These certified reference material (CRM)s are needed for the improvement of instrument performance, inter-laboratory comparison and quantitative surface analysis. Surface analysis group of KRISS developed alloy thin film CRMs by and ion beam sputter deposition system and in-situ surface analysis system to control the composition of alloy thin films The real compositions of the CRMs were certified by inductively coupled plasma-atomic emission spectroscopy (ICP-AES).
한국정보디스플레이학회 2006년도 6th International Meeting on Information Display
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pp.872-876
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2006
This study was made to examine the electromagnetic interference(EMI) shielding effect (SE) of multilayered thin films in which indium-tin oxide(ITO) and Ag were deposited alternately from 3layer to 9 layer on Poly Methyl Meth Acrylate(PMMA) substrate at room temperature using a PF sputtering. We measured optical and electrical characteristics by UV-spectrometer and 4 point probe. The measurement of EMI SE in frequency range from 50MHz to 1.5GHz was performed by using ASTM D4935-89 method. We compared the measured EMI SEs with theoretical simulation data. We obtained relatively low resistivity and high transmittance from the EMI SE multilayers. In this study, we obtain good optical electrical characteristics with a minimun transmittance of about 60% at 550nm wavelength and sheet resistance of $2{\sim}3ohm/sq$., respectivity. Measured EMI SEs were over 50dB and similar to theoretical simulation data.
An uncooled infrared sensor has been prepared with sputtering, plasma ash, ICP, and PECVD on a Si wafer In order to analyze the resistance characteristics with the bridge length in the infrared sensor, three samples were prepared with lengths of 0 (no bridge), 15 (short bridge), and 29 urn (long bridge), respectively. I-V curves were measured for their resistance characteristics and EPMA for the dopping concentration of the amorphous Si. The phosphorus concentration was about 4 % and the resistance was increased with the bridge length. The bridge length of cantilever is very important factor for improvement of the efficiency in an infrared sensor.
Diamond-like carbon(DLC) films were deposited on buffer-layered ZnS substrates by radio frequency plasma enhanced chemical vapor deposition(RF-PECVD) method. Ge and GeC buffer layera were used between DLC and ZnS substrates to promote the adhesion of DLC on ZnS substrates. Ge buffer layers were sputter deposited by RF magnetron sputtering and $GeC^1$ buffer layers were deposited by same method except using acetylene reactive gas. The relatinship between film properties and deposition conditions was investigated using gas pressure, RF power and dc bias voltage as PECVD parameters. The hardness of DLC films were measured by micro Vickers hardness test and the adhesion of DLC films on buffer-layered ZnS substrates were studied by Sebastian V stud pull tester. The optical properties of DLC films on butter-layered ZnS substrates were characterized by ellipsometer and FTIR spectroscopy.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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