• 제목/요약/키워드: Nano radian angle measurement

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엑스선 간섭계를 이용한 초정밀측정 (Nanometrological Application of X-ray Interferometry)

  • 엄천일
    • 한국정밀공학회지
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    • 제17권6호
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    • pp.40-45
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    • 2000
  • 교정은 모든 측정분야에서 어렵고 까다로운 주제인데, 특히 정전센서, 레이저간섭계, AFM, STM 등을 포함하는 나노메트롤로지(nanometrology : 나노측정) 분야에서는 그러하다. 나노측정에서는 전체 측정범위가 센서들의 한계분해능 값과 비슷한데, 이러한 측정에서 높은 소급성을 유지하기는 매우 어렵기 때문이다.(중략)

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