디지털 변전소를 위해 IEC61850 국제 표준 프로토콜을 적용한 보호계전기(IED), 게이트웨이, HMI등이 필드에서 사용되고 있고, 전체 디지털 변전소를 위한 병합장치(Merging Unit: MU)등도 실제 운영되고 있다. 디지털 변전소는 기존 변전소를 효과적으로 운영하기 위해 필요한 높은 수준의 가용성과 전송능력이 필요하다. IEC TC 57 WG10은 디지털 변전소를 위한 이중화 사양으로 IEC SG65C WG15의 IEC62439-3/4 고속 절체 네트워크 운영 프로토콜(Highly Available Seamless Redundancy: HSR),(Parallel Redundancy Protocol: PRP)들을 추천하고 있다. 본 논문에서는 프로세스 버스의 병합장치(MU)로부터 계측된 전류와 전압을 고속 이더넷을 통해 샘플 계측값(Sampled Measured Values: SMV)을 전송받고, 고정밀 IEEE1588v2 PTP(Precision Time Protocol) 시각동기를 하며, 스테이션 레벨에서 MMS와 GOOSE 통신을 하는 계전기와 성능에 대한 것이다.
본 논문에서는 전력선 위상 측정을 위해 A/D 변환기 및 위상계측 연산장치를 집적한 하이브리드 센서칩의 구현 기법을 제시하였다. 개발한 위상계측 연산장치는 recursive sliding-DFT에 기반하였으며 곱셈기의 시분할 공유 구조를 사용하여 칩의 구현 면적을 최소화 하였다. 60Hz의 전력선 신호를 중심주파수로 하는 AD 변환장치는 sigma-delta ADC를 기반으로 하여 8-bit 정밀도를 제공하며 아날로그부의 구현을 최소화하도륵 설계하였다. 설계한 하이브리드 센서칩은 컴퓨터 시뮬레이션 및 FPGA 구현을 통해 동작을 검증하였으며, 검증 완료후 $0.35{\mu}m$ CMOS 공정기술로 구현하였다. 전력선 위상을 측정하기 위해 구현된 4채널 하이브리드 센서 칩의 설계면적은 $5{\times}5m^2$ 의 약 20%정도를 차지하였다.
병합장치(merging unit: MU)는 변류기(CT)와 변성기(VT)로부터 계측된 전류와 전압을 이더넷을 통해 샘플값(sampled value: SV) 메시지를 전송하는 IED이다. 본 논문에서는 병합장치(MU)의 통신 성능 테스트하기 위한 시스템을 구축하는 방법을 제시하였다. RTDS를 이용하여 계통을 모의하고 샘플값 메시지를 지원하는 과전류계전(OCR) IED를 구축 한 후 계통에 모의 고장을 통해 CB를 동작시킴으로서 성능을 확인하였다. 또한 상용 IED를 연결하여 CB 동작 테스트를 통해 구축한 통신 테스트 시스템의 상호운용성을 확인하였다.
전기적 자극에 의한 골성장기전의 개념을 이용하여 임상적 효율성을 증진시키기 위한 연구는 현재 교정학을 비롯한 치과영역에서 활발히 진행되고 있는 분야 중의 하나이다. 전기적 자극의 여러 형태 중의 하나인 전자기장과 하악의 기능적 전방 이동을 유도하는 악기능교정장치가 백서의 하악과두 성장에 미치는 영향을 구명하기 위하여 본 연구를 시행하였다. 생후 4주된 Sprague Dawley계 백서 48마리를 대조군 12마리, 실험군 36마리로 나누고, 실험군은 다시 전자기장을 가한 군, 하악골 전방이동 장치를 장착시킨 군, 전자기장과 하악골 전방이동 장치를 병용시킨 군으로 분류하여 각각 12마리씩 실험동물을 배정하였다. 각 군의 실험동물은 15 HZ의 특수 전자기장이나 하악전방이동 자치가 하루10시간씩 작용되도록 특별히 제작한 실험장치 속에 넣어 1주간, 4주간씩 사육하여 희생시킨 후 하악골을 분리하고 연조직을 박리한 후 $10\%$ formalin에 보관하였다. 하악골 길이를 측정하기 위해 0.05mm까지 계측 가능한 캘리퍼를 이용하여 하악과두의 후연에서 이공까지의 거리를 계측하였고, 하악과두를 절제하여 0.5M EDTA에 탈회시켜 파라핀 포매를 하였다. 표본의 절단방향은 시상평면에 평행하게 하여 $6{\mu}m$두께로 연속절단 하였으며, 그 중 중심의 3절편을 취하여 통법에 의한 H-E 중염색을 시행하였다. 하악골 계측과 H-E 중염색 표본을 통한 조직학적 관찰을 통해 다음과 같은 결론을 얻었다. 1. 4주군에서 전자기장만에 노출된 실험군은 대조군에 비해 하악골 길이가 유익성 있게 증가되었다. 2. 전자기장과 하악골 전방이동 장치를 병용한 실험군은 하악골 전방이동장치만을 사용한 실험군에 비하여 하악골 길이가 증가되었다. 3. 전자기장에 노출된 실험군은 전구 연골아세포(prechondroblast)의 증식, 비대연골 세포층의 세포간질 및 연골내 골화층의 석회화가 모두 증가되었다. 4. 본 실험에 사용한 15 HZ전자기장의 주요작용부위는 백서의 하악과두 성장지역 중 연골내 골화의 석회화 지역이며, 또한 이는 하악골 전방이동 장치와 병용시 하악과두 성장을 촉진시킬 수 있음이 관찰되었다.
The performance analysis of an electronic equipment test is very complicate due to the variety o vehicles. In this study, automatic design system for the electronic equipment test has been carried out using the standard load patterns. For the test, standard signal patterns for each item are modeled. The test items can be decided by the user by means of these patterns. Also, engineering software modules are developed and proved to be very efficient for analyzing the test results statistically. Experiments are performed for the test system in the vehicle assembly line. By analyzing the test results, it is found that bad samples can be detected without failure. Also, the engineering software modules provide an analytical tool for the automation of the test process.
본 논문에서는 부가적인 회로의 추가 없이 IPM 내부 IGBT의 게이트 저항을 시스템에 최적화된 값으로 선정하여 dv/dt 및 di/dt를 감소시키고 이로 인한 전도 EMI 노이즈를 저감하여 엘리베이터 시스템에 최적화된 전련변환장치를 설계한다. 주문형 IPM을 엘리베이터용 인버터 시스템에 최적화하기 위하여 시스템에 적용될 전력변환장치의 게이트 저항에 따른 Spike 전압 및 전동기 서지전압, 스위칭 손실에 따른 IPM 케이스와 방열판의 온도 변화등을 시뮬레이션 및 계측한다. 결과적으로 IPM의 게이트 저항을 시스템에서 요구하는 수명에 따라 최적화하여 전도되는 EMI 노이즈가 특정 주파수 대역에서 약 5∼10 [dB$\mu$Vl 저감됨을 확인할 수 있다.
정밀위치결정 기구는 정밀가공기, 계측기기, 반도체 제조장치등의 각종산업기기에 있어 중요 장치로 많이 이용되고 있다. 반도체 회로의 고정밀화, 고집적화, 가공기의 고정도화와 함께 위치결정기구의 기술은 매년 엄격해지고 있다. 현재는 0.1 -0.01 .$\mu$ m의 정도가 요구되고 있어 이에 대응할 수 있는 고정밀 미동제어 위치결정 제어에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다. 또한 고정도와 함께 대스트로크(Stroke)를 가지며, 동시에 고속동작의 실현이필요하다. 따라서 이런 여러 성능을 만족시키는 것은 고부가가치 산업에 있어 매우 중요한 조건 중의 하나이다.
본 연구에서는 테이프의 미소한 수직 변형에 대한 실험을 수행하여 이에 대한 계측 이론 및 계측방법을 정립한다. 회전 헤드와 주행 테이프를 구동할 수 있는 실 험 장치를 개발하고 주행 테이프의 변형을 정밀 계측할 수 있는 측정 시스템을 구성한 다. 이러한 측정 시스템을 이용하여 고속이면서 미소한 주행 테이프의 변형에 대해 비접촉적인 방법으로 3차원 계측을 실시한다. 헤드의 형상 및 크기가 다른 모델들을 설계 및 가공을 통해 제작하여 주행 테이프의 부상 특성을 평가한다. 주행 테이프의 부상 특성에 관한 수치 해석 결과에 대하여 실제와의 부합 여부를 검토할 수 있도록 실험을 수행한다. 본 연구에서 구성한 비접촉 측정 시스템으로 계측한 테이프의 3차 원 변형에 대한 실험 결과와 수치 해석 결과를 비교 검토한다.
액정표시소자(LCD:Liquid Crystal Display Device)의 핵심부분인 액정셀의 광학적 동특성을 잴 수 있는 진폭분할방식의 측광식 편광계측기를 만들었다. 이 장치는 편광상태를 결정할 빛살을 비편광빛살분할기를 써서 밝기가 거의 같은 세 줄기의 빛살로 나누고, 나누어진 각각의 빛살을 편광빛살분할기 또는 사반파장판과 편광빛살분할기를 써서 직교하는 두 편광성분으로 나눈 다음, 각 성분의 밝기를 6개의 광다이오드를 써서 잰다. 이렇게 얻은 6개의 광신호의 비를 바탕으로 들어오는 빛살의 편광상태를 결정한다. 이 장치의 시간분해능은 80.mu.s, 정확도는 뽀앙카레 공(Poincare sphere)표현에서 나타낼 때 .+-.0.3.deg.이다. LCD에 쓰이는 전형적인 네마틱 액정의 반응시간은 수십 ms이므로 이 장치를 쓰면 액정셀의 광학적 동특성을 분석할 수 있다.
이 실험적 연구는 직류 전류 자극(direct electrical current stimulation, DECS)을 백서의 확장된 전상악골간 봉합에 가하였을 시 골 재생에 미치는 영향을 평가하기 위해 시행되었다. 60마리의 웅성 Wistar rats를 연구에 사용하였으며 대조군과 실험군의 2개의 군으로 나누었다. 상악 절치 사이에 30-gram의 힘을 발휘하는 helical-spring을 적용하여 상악골의 확장을 두 군 모두에서 시행하였다. 실험군에서는 상악골 측면부에 금속 스크류를 식립하였고 스크류에 전극을 연결하였다. 장치는 지속적으로 $10{\mu}A$의 전류를 흘러 보내도록 조절하였으며 전류는 확장기와 초기 유지기 동안 매일 점검하였다. 골 재생을 조직형태계측학적으로 평가하기 위해 신생골 면적(${\mu}m^2$), 골 둘레길이(${\mu}m$), feret's diameter (${\mu}m$) 와 신생골(%)을 계측하였다. 결과는 유의수준 p < 0.05에서 Kruskal-Wallis rank와 Mann-Whitney U tests를 이용하여 통계 분석하였다. 실험 결과 조사한 모든 조직형태계측적 수치들에서 통계적으로 유의한 차이가 양 군 사이에서 나타났다. 신생골 면적 (p = 0.002), 골 둘레길이 (p = 0.002), feret's diameter (p = 0.002)와 신생골 비율 (p = 0.002)의 모든 계측치가 실험군에서 대조군에 비해 높게 나타났다. 이런 결과는 DECS 군에서 골 형성이 더 양호함을 의미한다. 결론적으로 악정형적으로 확장시킨 전상악골 봉합부에 DECS를 적용하면 초기 유지 기간 중에 신생골 형성이 촉진된다고 할 수 있다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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