Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2004.07b
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pp.960-964
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2004
[ $Ba_2NaNb_5O_{15}$ ](BNN) thin films have been prepared by the ion beam sputter deposition (IBSD) method on Pt coated Si substrate at temperature as low as $600^{\circ}C$ XRD, SEM were used to investigate the crystallization and microstructure of the films. It was found that the films were crack-free and uniform in microstructure. The electric properties of thin films were carried out by observation of D-E hysteresis loop, dielectric constant and leakage current. It was found the deposition rate strongly influenced the phase formation of the films, where the phase of $BaNb_2O_6$ was always formed when the deposition rate was high. However, the single phase (tungsten bronze structure ) BNN thin film was obtained with the deposition rate as low as $22{\AA}/min$. The remanent polarization Pr and dielectric constant are about 1-2 ${\mu}C/cm^2$ and $100\sim200$, respectively. It was also founded the electric properties of thin films were influenced by the deposition rate. The Pr and dielectric constant of films increased with the decrease of deposition rate. The effects of annealing temperature and annealing time to the crystallization behavior of films were studied. The crystallization of thin film started at about $600^{\circ}C$. The adequate crystallization was gotten at the temperature of $650^{\circ}C$ when the annealing time is 0.5 hour or at the temperature of $600^{\circ}C$ when the annealing time is long as 6 hours.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.34
no.4
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pp.246-250
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2021
TFTs technologies with as high mobility as possible is essential for high-performance large displays. TFTs using nanocrystalline silicon thin films can achieve higher mobility. In this work, the change of the crystalline volume fraction at different hydrogen dilution ratios was investigated by depositing nc-Si:H thin films using PECVD. It was observed that increasing hydrogen dilution ratio increased not only the crystalline volume fraction but also the crystallite size. The thin films with a high crystalline volume fraction (55%) and a low defect density (1017 cm-3·eV-1) were used as top gate TFTs channel layer, leading to a high mobility (55 cm2/V·s). We suggest that TFTs of high mobility to meet the need of display industries can be benefited by the formation of thin film with high crystalline volume fraction as well as low defect density as a channel layer.
The piezoelectric thin film sensor can be used to interpret variations in structural and material properties, e.g. for structural integrity monitoring and assessment. To illustrate one of this potential benefit, PVDF (polyvinylidene fluoride) film sensors are used for monitoring impact damage in Gr/Ep composite panels. Both PVDF film sensors and strain gages are attached to the surface of Gr/Ep specimens. A series of impact tests at various impact energy by changing impact mass the height are performed on the instrumented drop weight impact tester. The sensor responses are carefully examined to predict the onset of impact damage such as indentation, matrix cracking, and delamination, etc. Test results show that the particular waveforms of sensor signals implying the damage initiation and development are detected above the damage initiation impact energy. As expected, the PVDF film sensor is found to be more sensitive to impact damage initiation event than the strain gage.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2007.06a
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pp.430-430
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2007
In this study, the nematic liquid crystal (NLC) alignment effects treated on the ZnO thin film layers using ion beam irradiation were successfully studied for the first time. The ZnO thin films were deposited on indium-tin-oxide (ITO) coated glass substrates by rf-sputter and The ZnO thin films were deposited at the three kinds of rf power. The used DuoPIGatron type ion beam system, which can be advantageous in a large area with high density plasma generation. The ion beam parameters were as follows: energy of 1800 eV, exposure time of 1 min and ion beam current of $4\;mA/cm^2$ at exposure angles of $15^{\circ}$, $30^{\circ}$, $45^{\circ}$, and $60^{\circ}$. The homogeneous and homeotropic LC aligning capabilities treated on the ZnO thin film surface with ion beam exposure of $45^{\circ}$ for 1 min can be achieved. The low pretilt angle for a NLC treated on the ZnO thin film surface with ion beam irradiation for all incident angles was measured. The good LC alignment treated on the ZnO thin film with ion beam exposure at rf power of 150 W can be measure. For identifying surfaces topography of the ZnO thin films, atomic force microscopy (AFM) was introduced. After ion beam irradiation, test samples were fabricated in an anti-parallel configuration with a cell gap of $60{\mu}m$.
Park, Deok-Hai;Park, Min-Soo;Kim, Bo-Hyun;Ryu, Byung-Gil;Kim, Sung-Tae
한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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2006.08a
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pp.387-390
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2006
The protective layer of AC-PDP was fabricated by laminating an MgO green sheet. The MgO green sheet was made by coating MgO solution composed of solvent, dispersant, binder, and MgO nano-powder. The MgO solution was coated by the die casting method on the base film. We fabricated three kinds of MgO green sheets of which thicknesses were 20, 28, and $40\;{\mu}m$, respectively. The MgO nano-powder showed lower CL intensity and ${\gamma}i$ than the e-beam MgO. The MgO green sheet applied panels showed low luminance and current density. The efficiency was almost same as the conventional e-beam MgO panel.
Microlens array (MLA) films have been used as brightness-enhancement components in many illumination systems, such as a backlight, which should meet the industrial needs of low cost and high brightness performance. A hexagonally-arranged MLA (HA-MLA) was chosen due to its high filling factor, which was a prerequisite for achieving high brightness-enhancement capability. The moir$\acute{e}$ fringes produced in a film stack composed of two HA-MLA were investigated, under four different lens configurations, by optical simulation. It was found that randomizing the lens configuration, while keeping the filling factor high, was effective way to develop high-gain MLA films for backlight applications.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2003.05a
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pp.13-16
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2003
Magnetic and magneto-optical properties of Fe/Pt/Fe, Co/Pd/Co trilayers and also the sandwiches with wedge-shaped magnetic (Fe, Co) and nonmagnetic (Pt, Pd) layers were investigated. The oscillatory behavior of the saturation field $H_{s}$ of the studied trilayers with changing the thickness of the nonmagnetic layer (NML) $t_{NML}$ was revealed. That was explained by the exchange coupling between ferromagnetic layers (FML) through the nonmagnetic spacer. For the first time, oscillations of the transverse Kerr effect (TKE) with changing the Pt- and Pd-wedge thickness were discovered. Period of these oscillations was found to depend on the FML thickness and the photon energy of the incident light. TKE spectra of the examined samples were discovered to modify very strongly with increasing $t_{NML}$. The discovered peculiarities of magneto-optical properties of thin-film systems were explained by a concept of the spin-polarized quantum well states in the pt and Pd layers.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.30
no.2
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pp.136-143
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1997
The photvoltaic power system has received considerable attention as the petroleumalterative energies to the environmental problems in the wored scale. $CuLnSe_2$is one ofthe most promising materials for the fabrication of large-area modules and low cost photovoltaic devices. Sulfur solute CuInSe2 thin films were prepared by RF sputtering using powder targer which were previously compacted by powder of $Cu_2Se, \;In_2Se_3, \;Cu_2S, \;and\;In_2S_3$ in various ratios. The results induicated that the sulfur ratio, the(112) texture, and the energy band gap were increased by the increase of the S/(S+Se) that was controlled by stoichiometric compound. The energy band gap can be shifted from 1.04eV to 1.50eV by abjusting the S/(S+Se) ratio, which maich it possible to obtain perfect match to the solar spectrum.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.23
no.10
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pp.763-766
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2010
By improving the conducting process of metal source/drain (S/D) in direct contact with the channel, schottky barrier metal-oxide-semiconductor field effect transistors (SB MOSFETs) reveal low extrinsic parasitic resistances, offer easy processing and allow for well-defined device geometries down to the smallest dimensions. In this work, we investigated the arrhenius plots of the SB MOSFETs with different S/D schottky barrier (SB) heights between simulated and experimental current-voltage characteristics. We fabricated SB MOSFETs using difference S/D metals such as Cr (${\Phi}_{Cr}$ ~4.5 eV) and Ni (${\Phi}_{Ni}$~5.2 eV), respectively. Schottky barrier height (${\Phi}_B$) of the fabricated devices were measured to be 0.25~0.31 eV (Cr-S/D device) and 0.16~0.18 eV (Ni-S/D device), respectively in the temperature range of 300 K and 475 K. The experimental results have been compared with 2-dimensional simulations, which allowed bandgap diagram analysis.
Kim, Myoung-Joo;Seo, Hyun-Ook;Luo, Yuan;Kim, Kwang-Dae;Kim, Young-Dok
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2010.02a
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pp.345-345
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2010
Thin film of $TiO_2$ deposited on carbon paper was fabricated by atomic layer deposition (ALD) using titanium isopropoxide (TTIP) and $H_2O$ as precursors. In this work, the photocatalytic activities of $TiO_2$ films with and without e-beam treatment were compared. The samples were treated by e-beam using e-beam energy of 1MeV and exposure range between 5 and 15kGy. The photocatalytic activity was evaluated by the photocatalytic degradation of methyleneblue (MB) under UV irradiation (365nm) at room temperature using an UV-vis spectroscopy. The surface properties were characterized by scanning electron microscope (SEM) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The sample treated by the low radiation dose has more catalytic activity than other ones. SEM images show that the high radiation dose caused the $TiO_2$ to aggregation on carbon paper. Due to the aggregation of $TiO_2$, the partially exposed carbon paper was oxidized.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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