한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권1호
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pp.721-723
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2007
Commercial conductive metal inks are available, but metals used in these have unsuitable work function for efficient OLED device performance. Metals with low work function tend to oxidize easily, which makes it challenging to develop low work function metal inks. In this research we describe printed low work function Al cathode.
Dopant-free silicon heterojunction solar cells using Transition Metal Oxide(TMO) such as Molybdenum Oxide($MoO_X$) and Vanadium Oxide($V_2O_X$) have been focused on to increase the work function of TMO in order to maximize the work function difference between TMO and n-Si for a high-efficiency solar cell. One another way to increase the work function difference is to control the silicon wafer resistivity. In this paper, dopant-free silicon heterojunction solar cells were fabricated using the wafer with the various resistivity and analyzed to understand the effect of n-Si work function. As a result, it is shown that the high passivation and junction quality when $V_2O_X$ deposited on the wafer with low work function compared to the high work function wafer, inducing the increase of higher collection probability, especially at long wavelength region. the solar cell efficiency of 15.28% was measured in low work function wafer, which is 34% higher value than the high work function solar cells.
Kim, Yongjun;Hussain, Shahzada Qamar;Kim, Sunbo;Yi, Junsin
한국진공학회:학술대회논문집
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한국진공학회 2016년도 제50회 동계 정기학술대회 초록집
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pp.295-295
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2016
Recently, TCO films with low carrier concentration, high mobility and high work function are proposed beneficial as front electrode in HIT solar cell due to free-carrier absorption in NIR wavelength region and low Schottky barrier height in the front TCO/a-Si:H(p) interface. We report high transmittance and work function zirconium-doped indium tin oxide (ITO:Zr) films with various plasma (Ar/O2 and Ar) conditions. The role of (Ar/O2) plasma was to enhance the work function of the ITO:Zr films whereas the pure Ar plasma based ITO:Zr showed good electrical properties. The RF magnetron sputtered ITO:Zr films with low resistivity and high transmittance were employed as front electrode in HIT solar cells, yield the best performance of 18.15% with an open-circuit voltage of 710 eV and current density of 34.63 mA/cm2. The high work function ITO:Zr films can be used to modify the front barrier height of HIT solar cell.
Transparent conducting oxides (TCOs) used in the antireflection layer and current spreading layer of heterojunction solar cells should have excellent optical and electrical properties. Furthermore, TCOs need a high work function over 5.2 eV to prevent the effect of emitter band-bending caused by the difference in work function between emitter and TCOs. Sn-doped $In_2O_3$ (ITO) film is a highly promising material as a TCO due to its excellent optical and electrical properties. However, ITO films have a low work function of about 4.8 eV. This low work function of ITO films leads to deterioration of the conversion efficiency of solar cells. In this work, ITO films with various Zn contents of 0, 6.9, 12.7, 28.8, and 36.6 at.% were fabricated by a co-sputtering method using ITO and AZO targets at room temperature. The optical and electrical properties of Zn-doped ITO thin films were analyzed. Then, silicon heterojunction solar cells with these films were fabricated. The 12.7 at% Zn-doped ITO films show the highest hall mobility of 35.71 $cm^2$/Vsec. With increasing Zn content over 12.7, the hall mobility decreases. Although a small addition of Zn content increased the work function, further addition of Zn content over 12.7 at.% led to decreasing electrical properties because of the decrease in the carrier concentration and hall mobility. Silicon heterojunction solar cells with 12.7 at% Zn-doped ITO thin films showed the highest conversion efficiency of 15.8%.
W(123) 표면위에 수소와 중소수가 흡착될 때 일함수의 변화를 장방출(Field Fmission) 방법으로 측정하였다. 78K에서 이 분자들이 흡착될 때 일함수의 변화는 처음에 는 증가하다가 최대치에 이른 후 감소하였고, 덮임율(coverage)이 증가함에 따라 포화되었 다. 텅스텐 tip의 온도를 200K까지 올렸을 경우에, 일함수의 변화가 최대가 되었을 때의 덮 임율은 78K일 때의 비해 낮은 덮임율 쪽으로 이동하였고, [011] 방향을 갖는 step 혹은 terrace에 의한 일함수의 효과도 동시에 관측되었다.
Kim, Ji-Hoon;Seo, Jae-Won;Kang, Hye-Seung;Kim, Jeong-Kyu;Kim, Jeong-Won;Lee, Han-Gil;Kwon, Young-Kyung;Park, Yong-Sup
한국진공학회:학술대회논문집
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한국진공학회 2010년도 제39회 하계학술대회 초록집
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pp.63-63
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2010
Using both experimental and theoretical approaches, we have investigated the adsorption properties of an organic molecule (HATCN), which is used in OLEDs as an efficient hole injection layer, on metal and inert surfaces. We have also studied the structural and electronic properties of such interfaces and the dependences on deposition thickness. We have observed different trends in work function changes with different surfaces. Our photoelectron spectroscopic measurements have revealed an abnormal phenomenon in HATCN on a metal (Cu) surface: the work function decreases at lower coverage (~monolayer) of HATCN on a metal (Cu) surface, but it increases back and becomes higher than that of a bare Cu surface at higher coverage. It has, on the contrary, been observed that the work function of graphene surface just increases as the HATCN coverage increases. Our first-principles density functional calculations has not only verified our experimental observations, but also disclosed the underlying mechanism of such abnormal and different work function behaviors. We have found that the change in work function results from mutual polarization induced by the geometrical deformation and the bond dipole formed at the interface due to the charge redistribution. At low coverage of HAT-CN on Cu substrate, the former reduces the work function significantly by pulling down the vacuum level, while the latter tends to push up the vacuum level resulting in the work function increase.
한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권1호
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pp.1049-1052
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2007
Extremely sharp and uniform Transfer Mold FEAs with thin film low work function TiN emitter material have been fabricated by controlling the thickness of the coated emitter materials to realize high efficient, high reliable and low-cost vacuum nanoelectronic devices..Their tip radii are 8.3-13.8 nm. Turn-on electric fields of the Ni FEAs and TiN-FEAs resulted in the low electric field values of $31.6\;V/{\mu}m$ and $44.2V/{\mu}m$,respectively, at the short emitter/anode distance: less than $30\;{\mu}m$, which are lower than those of conventional FE As such as Spindt type FEAs and carbon nan otube FEAs The Transfer Metal Mold fabrication method is one of the best methods of changing emit ter materials with sharp and uniform emit ter shapes.
Graphene field-effect transistors (GFET) is one of candidates for future high speed electronic devices since graphene has unique electronic properties such as high Fermi velocity (vf=10^6 m/s) and carrier mobility ($15,000cm^2/V{\cdot}s$) [1]. Although the contact property between graphene and metals is a crucial element to design high performance electronic devices, it has not been clearly identified. Therefore, we need to understand characteristics of graphene/metal contact in the GFET. Recently, it is theoretically known that graphene on metal can be doped by presence of interface dipole layer induced by charge transfer [2]. It notes that doping type of graphene under metal is determined by difference of work function between graphene and metal. In this study, we present the GFET fabricated by contact metals having high work function (Pt, Ni) for p-doping and low work function (Ta, Cr) for n-doping. The results show that asymmetric conductance depends on work function of metal because the interfacial dipole is locally formed between metal electrodes and graphene. It induces p-n-p or n-p-n junction in the channel of the GFET when gate bias is applied. In addition, we confirm that charge transfer regions are differently affected by gate electric field along gate length.
Indium tin oxide (ITO) has a lot of variations of its properties because it is basically in an amorphous state. Therefore, the differences in composition ratio of ITO can result in alteration of electrical properties. Normally, ITO is considered as transparent conductive oxide (TCO), possessing excellent properties for the optical and electrical devices. Quantitatively, TCO has transparency over 80 percent within the range of 380nm to 780nm, which is visible light although its specific resistance is less than $10-3{\Omega}/cm$. Thus, the solar cell is the best example for which ITO has perfectly matching profile. In addition, when ITO is used as transparent conductive electrode, this material essentially has to have a proper work function with contact materials. For instance, heterojunction with intrinsic thin layer (HIT) solar cell could have both front ITO and backside ITO. Because each side of ITO films has different type of contact materials, p-type amorphous silicon and n-type amorphous silicon, work function of ITO has to be modified to transport carrier with low built-in potential and Schottky barrier, and approximately requires variation from 3 eV to 5 eV. In this study, we examine the change of work function for different sputtering conditions using ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS). Structure of ITO films was investigated by spectroscopic ellipsometry (SE) and scanning electron microscopy (SEM). Optical transmittance of the films was evaluated by using an ultraviolet-visible (UV-Vis) spectrophotometer
본 연구는 저농도로 장기간(10년 이상) 작업장에서 사용하는 다양한 화학물질에 노출된 작업환경측정 근로자의 체내 부하를 평가하는 것이다. 노출군은 작업환경측정 업무를 수행하는 남자 및 여자 근로자 16명이며, 대조군은 동일 회사 동료 중 작업환경측정을 수행하지 않는 근로자 10명으로서 총 26명을 연구 대상으로 하였다. 다양한 화학물질 노출에 대한 체내 지표는 간-담도 기능에 12개 지표, 신기능에 4개 지표, 혈액 및 순환기능에 16개 지표를 사용하였다. 간-담도 기능에서는 혈청 GPT, ϒ-GTP, 총 빌리루빈, 신기능에서는 크레아티닌과 요산, 혈액 및 순환기능에서는 중성지방, 적혈구수, 혈소판수, 헤모글로빈과 헤마토크릿 지표에서 노출군과 대조군이 유의한 차이를 나타내었다. 다양한 화학물질에 10년 이상 장기간 저농도로 노출되는 작업환경측정 근로자의 경우 간-담도 기능, 신기능 및 혈액 및 순환 기능 지표에 유의한 변화가 나타날 수 있다. 서로 다른 유해 화학 물질에 10년이상 장기간에 걸쳐 저농도 노출이 발생하더라도 작업환경측정 작업근로자들의 건강에 유해요인으로 작용할 수 있다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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