• Title/Summary/Keyword: Lorentz Medium

Search Result 13, Processing Time 0.018 seconds

CAE Analysis of $SF_6$ Arc Plasma for a Gas Circuit Breaker Design (가스차단기 최적설계를 위한 $SF_6$ 아크 플라즈마 CAE 해석)

  • Lee Jong C.;Ahn Heui-Sub;Kim Youn J.
    • Proceedings of the KSME Conference
    • /
    • 2002.08a
    • /
    • pp.365-368
    • /
    • 2002
  • The design of industrial arc plasma systems is still largely based on trial and error although the situation is rapidly improving because of the available computational power at a cost which is still fast coming down. The desire to predict the behavior of arc plasma system, thus reducing the development cost, has been the motivation of arc research. To interrupt fault current, the most enormous duty of a circuit breaker, is achieved by separating two contacts in a interruption medium, $SF_{6}$ gas or air etc., and arc plasma is inevitably established between the contacts. The arc must be controlled and interrupted at an appropriate current zero. In order to analyze arc behavior in $SF_{6}$ gas circuit breakers, a numerical calculation method combined with flow field and electromagnetic field has been developed. The method has been applied to model arc generated in the Aachen nozzle and compared the results with the experimental results. Next, we have simulated the unsteady flow characteristics to be induced by arcing of AC cycle, and conformed that the method can predict arc behavior in account of thermal transport to $SF_{6}$ gas around the arc, such as increase of arc voltage near current zero and dependency of arc radius on arc current to maintain constant arc current density.

  • PDF

RE-ACCELERATION MODEL FOR THE 'SAUSAGE' RADIO RELIC

  • KANG, HYESUNG
    • Journal of The Korean Astronomical Society
    • /
    • v.49 no.4
    • /
    • pp.145-155
    • /
    • 2016
  • The Sausage radio relic is the arc-like radio structure in the cluster CIZA J2242.8+5301, whose observed properties can be best understood by synchrotron emission from relativistic electrons accelerated at a merger-driven shock. However, there remain a few puzzles that cannot be explained by the shock acceleration model with only in-situ injection. In particular, the Mach number inferred from the observed radio spectral index, Mradio ≈ 4.6, while the Mach number estimated from X-ray observations, MX−ray ≈ 2.7. In an attempt to resolve such a discrepancy, here we consider the re-acceleration model in which a shock of Ms ≈ 3 sweeps through the intracluster gas with a pre-existing population of relativistic electrons. We find that observed brightness profiles at multi frequencies provide strong constraints on the spectral shape of pre-existing electrons. The models with a power-law momentum spectrum with the slope, s ≈ 4.1, and the cutoff Lorentz factor, γe,c ≈ 3−5×104, can reproduce reasonably well the observed spatial profiles of radio fluxes and integrated radio spectrum of the Sausage relic. The possible origins of such relativistic electrons in the intracluster medium remain to be investigated further.

Thickness Measurement of Nanogate Oxide Films by Spectroscopic Ellipsometry (SE를 사용한 나노게이트 산화막의 두께측정)

  • 조현모;조용재;이윤우;이인원;김현종;김상열
    • Proceedings of the Korea Crystallographic Association Conference
    • /
    • 2002.11a
    • /
    • pp.40-41
    • /
    • 2002
  • 차세대 반도체 및 나노소자 산업에 대한 국제적 기술은 고밀도 직접화의 추세에 따라서 .게이트 산화막의 두께가 급속히 작아지는 추세이다. 지금까지 이산화규소(A1₂O₃)가 게이트 산화막으로 주로 사용되어 왔으나 점차 SiON 혹은 high k 박막으로 바뀌고 있다. 본 연구에서는 차세대 반도체 소자에 사용될 게이트 산화막 물질인 SiON 박막과 Al₂O₃박막에 대한 SE(Spectroscopic Ellipsometry)분석 모델을 확립하였고, SE 측정결과를 TEM, MEIS, XRR의 결과들과 비교하였다. SiON 박막의 굴절률 값은 Si₃N₄와 SiO₂가 물리적으로 혼합되어 있다고 가정하여 Bruggeman effective medium approximation을 사용하여 구하였다. 동일한 시료를 절단하여 TEM, MEIS, 그리고 XRR에 의하여 SiON 박막의 두께를 측정하였으며, 그 결과 SE와 XRR에 의해 얻어진 박막두께가 TEM과 MEIS의 결과 값보다 약 0.5 nm 크게 주어짐을 알 수 있었다(Table 1 참조). 본 연구결과는 비파괴적이며 비접촉식 측정방법인 SE가 2~4nm 두께의 초미세 SiON 박막의 두께와 N 농도의 상대적 값을 빠르고 쉽게 구할 수 있는 유용한 측정방법 임을 보여주었다. 기존의 게이트 산화물인 SiO₂를 대체할 후보 물질들 중의 하나인 A1₂O₃의 유전함수를 구하기 위하여 8 inch, p-type 실리콘 기판 위에 성장된 5 nm, 10 nm, 및 20 nm 두께의 A1₂O₃ 박막의 유전함수와 두께를 측정하였다. 이 시료들에 대한 SE data는 vacuum-UV spectroscopic ellipsometer를 사용하여 세 개의 입사각에서 0.75 eV에서 8.75 eV까지 0.05 eV 간격으로 측정되었다. A1₂O₃ 박막의 유전함수와 두께를 얻기 위하여 공기층/A1₂O₃ 박막/Si 기판으로 구성된 3상계 모델을 사용하였다. Si 기판에 대한 복소 유전함수는 문헌상의 값(1)을 사용하였고, A1₂O₃ 박막의 유전함수는 5개의 미지상수를 갖는 Tauc- Lorentz(TL) 분산함수(2)를 사용하였다. A1₂O₃ 박막의 경우 두께가 증가함에 따라서 굴절률이 커짐을 알 수 있었다.

  • PDF