• 전자공학회논문지
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• 제50권8호
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• pp.121-127
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• 2013

SRAM, DRAM을 포함한 Memory 소자들은 우주환경에서 고에너지 입자에 취약하다. SEE(Single Event Effect) 또는 TID(Total Ionizing Dose)에 의해서 소자의 비정상적인 동작이 야기될 수 있다. 본 논문은 SRAM의 기본 단위 셀인 Latch 회로를 이용하여 양성자에 대한 취약성을 나타내는 SEU cross section을 추정할 수 있는 방법에 대해서 설명한다. 또한 양성자에 의한 SEU 효과를 줄일 수 있는 Latch 회로를 제안하였다. 두 소자를 이용하여 50b shift register를 $0.35{\mu}m$공정에서 제작하였고, 한국 원자력 의학원의 43MeV 양성자 빔을 이용하여 방사선 조사 실험을 진행하였다. 실험 결과로부터 conventional latch를 이용한 shift register에 비해서 제안한 latch를 이용한 shift register가 방사선 환경에서 내구성이 강한 동작 특성을 가진 다는 것을 확인하였다.

• 대한기계학회논문집A
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• 제38권11호
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• pp.1215-1220
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• 2014

회로차단기에서 가장 중요한 성능은 전기시스템의 이상전류를 신속하게 차단하는 것이다. 이러한 차단시간은 조작기구의 동적 특성에 의한 영향을 받는다. 따라서 회로차단기의 차단시간 단축을 위해서는 조작기구의 최적화가 이루어져야 한다. 본 논문의 가스회로차단기의 조작기는 스프링으로 구동되며 여러 개의 Latch 로 구성되어있다. Latch 들의 상대적 위치와 길이로 정의된 각 설계변수의 차단시간에 대한 영향을 분석하고 이 결과를 통해 설계변수를 선정하여 ADAMS 와 VisualDOC 의 연동을 통해 최적화를 수행하였다. Latch 들의 최적화를 통해 약 22.5% 개극시간을 향상을 확인하였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제45권6호
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• pp.111-118
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• 2008

액정 구동 IC에서 발생하는 기생 p-n-p-n 회로의 래치업 문제를 개선하기 위해 power-up 순서상에 순차 스위치를 삽입하는 방법을 제안하였다. 제안된 순차 스위치는 2차-승압회로와 3차-승압회로 내에 삽입되며, power-up 순서상에서 해당 승압회로가 동작하기 전에 기생 p-n-p-n 회로의 분리된 에미터-베이스 단자를 순차적으로 연결하게 된다. 제안된 구조의 성능을 검증하기 위해 0.13-um CMOS 공정을 이용하여 테스트 IC를 설계 제작하였다 측정 결과, 기존의 경우 $50^{\circ}C$에서 액정 구동 전압이 VSS로 수렴하면서 과전류를 동반하며 래치업 모드로 진입하였으나, 제안 회로를 삽입한 경우는 고온($100^{\circ}C$)에서도 정상 전류 0.9mA와 정상 액정 구동 전압을 나타내어 래치업이 방지되고 있음을 확인하였다.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국정보통신학회 2012년도 춘계학술대회
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• pp.719-721
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• 2012

본 시험은 군전자장비의 전원제어부품으로 사용되는 TPS54315소자에 대하여 과도방사선에 따른 과도응답특성인 Upset/Latch-up특성을 평가하기 시험으로 포항가속기 연구소내의 Test LINAC 조사시설을 이용하여 $1.43{\times}10^7$rad(si)/sec~$1.25{\times}10^8$rad(si)/sec 선량률 조건에서의 실측시험을 수행하였다. 시험결과 $1.0{\times}10^8$rad(si)/sec 이후 Latch-up 현상이 확인되었으며 연속펄스 인가 시 Latch-up상태에서 정상상태로 복귀하는 결과를 확인하였다. 또한 이러한 현상은 과도방사선에 의한 광전류가 내부전원 Reset로직을 트리거 시킴으로써 Latch-up상태에서의 전원바이어스를 일시적으로 차단함에 따라 발생된 것으로 본 실험을 통하여 Reset회로가 내장된 소자의 경우 일부 Latch-up현상과 동시에 Reset회로가 트리거 되는 경우 Latch-up상태에서 정상상태로 복귀되는 결과를 확인하였다.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국해양정보통신학회 2011년도 추계학술대회
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• pp.892-895
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• 2011

SoC(System-On-Chip)을 테스트 하는 동안 소모하는 전력소모는 SoC내의 IP 코어가 증가됨에 따라 매우 중요한 요소가 되었다. 본 논문에서는 Scan Latch Reordering과 Clock Gating 기법을 적용하여 scan-in 전력소모를 줄이는 알고리즘을 제안한다. Scan vector들의 해밍거리를 최소로 하는 새로운 Scan Latch Reordering을 적용하였으며 Gated scan 셀을 사용하여 저전력을 구현하였다. ISCAS 89 벤치마크 회로에 적용하여 실험한 결과 모든 회로에 대하여 향상된 전력소모를 보였다.

• 대한전자공학회논문지
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• 제22권5호
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• pp.50-56
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• 1985

A common failure mechanism in bulk CMOS integrated circuits is the latch-up of parasitic SCR structure inherent in the bulk CMOS structure. Latch-up triggering and holding charac-teristics have been measured in the test devicrs which include conventional and Schottky-damped CMOS structures with various well depths and n+/p+ spacings. It is demonstrated that Schottky-clamped CMOS is more latch-up immune than conventional bulk CMOS. Finally, the simulation results by circuit simulation program (SPICE) are compared with measured results in order to verify the validity of the latch-up modal composed of nan, pnp transistors and two external resistors.

• 대한기계학회논문집A
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• 제38권1호
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• pp.25-30
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• 2014

가스회로차단기의 거동특성은 스프링 래치 시스템을 가진 고속 작동메커니즘에 좌우된다. 고속회로차단기의 차단시간을 줄이기 위해서 연구가 많이 이루어지고 있다. 본 연구에서는 고속회로차단기의 차단시간을 단축하기 위하여 래치의 윤곽최적설계에 관한 연구가 수행된다. 회로차단기의 거동특성을 분석하기 위해서 상용 다물체 동역학 해석프로그램인 MSC/ADAMS 를 이용하였으며, 시뮬레이션 결과는 시험을 통하여 매칭하였다. VisualDOC 를 도입하여 래치의 최적윤곽을 구하였다. 최적설계 수행결과 가스회로차단기의 차단시간을 약 8.6% 개선하였다.

• 예술인문사회 융합 멀티미디어 논문지
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• 제7권2호
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• pp.227-236
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• 2017

양자점 셀룰라 오토마타(QCA: quantum-dot cellular automata)는 나노 규모의 크기와 낮은 전력 소비로 각광받고 있으며, CMOS 기술 규모의 한계를 극복할 수 있는 대체 기술로 떠오르고 있다. 다양한 QCA 회로들이 연구되고 있고, 그 중 카운터와 상태 제어에 필요한 래치는 순차 회로의 구성 요소로서 제안되어 왔다. 래치는 이전 상태를 유지하기 위한 피드백 구조의 형태를 가지고 있으며, 이를 QCA 상에서 구현하기 위해 4 클럭을 소모하는 사각형 형태의 루프 구조를 사용한다. 기존의 QCA 상에서 제안된 래치는 동일 평면상에서 제안되었으며, 피드백 구조를 구현하기 위해 많은 셀과 클럭이 소모되었다. 본 논문에서는 이러한 단점을 개선하기 위해서 다층 구조를 이용한 새로운 형태의 SR 래치와 D 래치를 제안한다. 제안한 3차원 루프 구조는 다층 구조 기반의 설계이며 총 3개의 층으로 구성한다. 각 층의 배선은 다른 층과 영향을 받지 않도록 인접한 배선 간 2 클럭 차이를 주어 설계한다. 설계된 래치 구조는 시뮬레이션을 수행하고 기존의 래치와 비교 및 분석한다.

• 전자공학회논문지A
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• 제32A권1호
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• pp.103-110
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• 1995

Trench-Gate SOI LIGBT with improved latch-up capability has been proposed and verified by MEDICI simulation. The new SOI LIGBT exhibits 6 time larger latch-up capability of the new device is almost preserved independent of lifetime. the large latch-up capability of the new SOI LIGBT may be realized due to the fact that the hole current in the new device would bypass through the shorted cathode contact without passing the p-well region under the n+ cathode. Forward voltage drop is increased by 25% when a epi thickness is 6$\mu$m. However, the increase of the forward voltage is negligible when the epi thickness is increased to 10$\mu$m. It is found that the swithcing time of the new device is almost equal to the conventional devices. Evaluated breakdown voltage of proposed SOILIGBT is 250 V and that of the conventional SOI LIGBT is 240 V, where the thickness of the vuried oxide and n- epi is 3$\mu$m and 6$\mu$m, respectively.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제40권10호
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• pp.63-67
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• 2003

본 논문에서는 MRAM에서 사용될 수 있는 새로운 Bit Line Sense Amplifier(BLSA)를 제안하였다. 기존의 BLSA는 기본적으로 Latch형 회로를 사용하여 Memory Cell로부터의 신호를 증폭한다. 제안된 BLSA는 Cross-coupled PMOS 트랜지스터를 사용하여 회로를 단순화하였으며. 기존 BLSA의 약 85%정도의 작은 면적을 차지하면서도 시뮬레이션상에서는 같은 동작 속도를 보이고 있다.