• Title/Summary/Keyword: LCD drive IC

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A No Load Protection circuit with An LED Drive Circuit (LED 구동회로의 무부하시 보호회로에 관한 연구)

  • Park, Yu-Cheol;Kim, Hoon;Kim, Hee-Jun;Chae, Gyun;Kang, Eui-Byoung
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2008.07a
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    • pp.906-907
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    • 2008
  • 기존의 LED(Light Emitting Diode)를 이용한 LCD(Liquid Crystal Display) 백라이트 유닛은 무부하시 불필요한 전력소모가 발생하는 경우가 있어 보호회로가 필요하였다. 그래서 본 논문은 보호회로를 이용한 LCD 백라이트 유닛용의 LED 구동회로를 제안한다. 제안된 보호회로는 실험 결과 무부하시 피드백 제어부 IC(Integrated Circuit)의 전원전압 VCC를 UVLO(Under Voltage Lock Out)전압 이하로 강하시켜 무부하시 소비되는 전력을 줄일 수 있었다. 또, 무부하시 부스트 컨버터 출력부의 전압스트레스를 줄일 수 있었고, 유부하시 보호회로가 있는 컨버터와 보호회로가 없는 컨버터의 효율비교에서 거의 같은 효율이 측정되었다.

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Development of SDI Signal generator for Large size TFT-LCD (대형 TFT-LCD용 SDI 신호 생성기의 개발)

  • Choi, Dae-Seub;Sin, Ho-Chul
    • Journal of Satellite, Information and Communications
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    • v.9 no.1
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    • pp.13-16
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    • 2014
  • In applying LCD to TV application, one of the most significant factors to be improved is image sticking on the moving picture. LCD is different from CRT in the sense that it's continuous passive device, which holds images in entire frame period, while impulse type device generate image in very short time. To reduce image sticking problem related to hold type display mode, we made an experiment to drive TN-LCD like CRT. We made articulate images by fast refreshing images, and we realized the ratio of refresh time by counting between on time and off time for video signal input during 1 frame (16.7ms). Conventional driving signal cannot follow fast on-off speed, so we evaluated new signal generator using SDI (Serial Data Interface) mode signal generator. We realized articulate image generation similar to CRT by high fast full HD (High Definition) signals and TN-LCD overdriving. As a result, reduced image sticking phenomenon was validated by naked eye and response time measurement.

Development of drive and control circuit for direct LED BLU (직하형 LED BLU의 구동 및 제어회로에 관한 연구)

  • Cheon, Woo-Young;Song, Sang-Bin;Kim, Jin-Hong;Kim, Ji-Hoon
    • Proceedings of the Korean Institute of IIIuminating and Electrical Installation Engineers Conference
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    • 2007.11a
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    • pp.119-124
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    • 2007
  • 24" LCD Monitor용 LED BLU를 개발하기 위하여 1.5W R,G,G,B가 하나의 PKG에 들어있는 LED를 이용하여 Direct type의 Back Light Unit을 개발하였다. 방열 및 휘도 균일도를 고려하여 LED part를 설계, 개발 하였고 LED를 pulse로 구동하기 위하여 Switching circuit이 포함되는 구동회로 부분을 설계, 개발하였다. 또한 Color Sensor와 ICM (Integrated Color Management) IC를 사용하여 Color를 Control하는 제어회로 부분도 개발을 하였다. 제어회로 부분을 개발하기 위하여 MicroController를 사용하였으며 ICM IC와의 통신을 위한 부분도 개발하였다. 이러한 구성을 개발하여 시제품을 직접 제작하였다. 평가를 위하여 성능시험을 실시하였고 광학적인 평가도 시행하였다. 제작된 시제품은 $L558{\times}W359{\times}H30$으로 하였다. 휘도는 목표휘도를 이루었으며 균일도는 85% 이상이 되었다.

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a-Si:H in TFT-LCD that integrated Gate driver circuit : Instability effect by temperature (Gate 구동 회로를 집적한 TFT-LCD에서 a-Si:H TFT의 온도에 따른 Instability 영향)

  • Lee, Bum-Suk;Yi, Jun-Sin
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2006.07d
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    • pp.2061-2062
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    • 2006
  • a-Si(amorphous silicon) TFT(thin film transistor)는 TFT-LCD(liquid crystal display)의 화소 스위칭(switching) 소자로 폭넓게 이용되고 있다. 현재는 a-Si을 이용하여 gate drive IC를 기판에 집적하는 ASG(amorphous silicon gate) 기술이 연구, 적용되고 있는데 이때 가장 큰 제약은 문턱 전압(Vth)의 이동이다. 특히 고온에서는 문턱 전압의(Vth) 이동이 가속화 되고, Ioff current가 증가 하게 되고, 저온($0^{\circ}C$)에서는 전류 구동능력이 상온($25^{\circ}C$) 상태에서 같은 게이트 전압(Vg)에 대해서 50% 수준으로 감소하게 된다. 특히 ASG 회로는 여러 개의 TFT로 구성되는데, 각각의 TFT가 고온에서 Vth shift 값이 다르게 되어 설계시 예상하지 못 한 고온에서의 화면 무너짐 현상 즉 고온 노이즈 불량이 발생 할 수 있다. 고온 노이즈 불량은 고온에서의 각 TFT의 문턱전압 및 $I_D-V_G$ 특성을 측정한 결과 고온 노이즈 불량에 영향을 주는 인자가 TFT의 width와 기생 capacitor비 hold TFT width가 영향을 주는 것으로 실험 및 시뮬레이션 결과 확인이 되었다. 발생 mechanism은 ASG 회로는 AC 구동을 하기 때문에 Voff 전위에 ripple이 발생 되는데 특히 고온에서 ripple이 크게 증가 하여 출력 signal에 영향을 주어 불량이 발생하는 것을 규명하였다.

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Reliability of COF Flip-chip Package using NCP (NCP 적용 COF 플립칩 패키지의 신뢰성)

  • Min, Kyung-Eun;Lee, Jun-Sik;Jeon, Je-Seog;Kim, Mok-Soon;Kim, Jun-Ki
    • Proceedings of the KWS Conference
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    • 2010.05a
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    • pp.74-74
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    • 2010
  • 모바일 정보통신기기를 중심으로 전자패키지의 초소형화, 고집적화를 위해 플립칩 공법의 적용이 증가되고 있는 추세이다. 플립칩 패키징 접합소재로는 솔더, ICA(Isotropic Conductive Adhesive), ACA(Anisotropic Conductive Adhesive), NCA(Non Conductive Adhesive) 등과 같은 다양한 접합소재가 사용되고 있다. 최근에는 언더필을 사용하는 플립칩 공법보다 미세피치 대응성을 위해 NCP를 이용한 플립칩 공법에 대한 요구가 증가되고 있는데, NCP의 상용화를 위해서는 공정성과 함께 신뢰성 확보가 필요하다. 본 연구에서는 LDI(LCD drive IC) 모듈을 위한 COF(Chip-on-Film) 플립칩 패키징용 NCP 포뮬레이션을 개발하고 이를 적용한 COF 패키지의 신뢰성을 조사하였다. 테스트베드는 면적 $1.2{\times}0.9mm$, 두께 $470{\mu}m$, 접속피치 $25{\mu}m$의 Au범프가 형성된 플리칩 실리콘다이와 접속패드가 Sn으로 finish된 폴리이미드 재질의 flexible 기판을 사용하였다. NCP는 에폭시 레진과 산무수물계 경화제, 이미다졸계 촉매제를 사용하여 다양하게 포뮬레이션을 하였다. DSC(Differential Scanning Calorimeter), TGA(Thermogravimetric Analysis), DEA(Dielectric Analysis) 등의 열분석장비를 이용하여 NCP의 물성과 경화거동을 확인하였으며, 본딩 후에는 보이드를 평가하고 Peel 강도를 측정하였다. 최적의 공정으로 제작된 COF 패키지에 대한 HTS (High Temperature Stress), TC (Thermal Cycling), PCT (Pressure Cooker Test)등의 신뢰성 시험을 수행한 결과 양산 적용 가능 수준의 신뢰성을 갖는 것을 확인할 수 있었다.

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