• Current Photovoltaic Research
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• 제6권3호
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• pp.86-90
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• 2018

To generate more current in crystalline silicon solar cells, surface texturing is adopted by reducing the surface reflection. Conventionally, random pyramid texturing by the wet chemical process is used for surface texturing in crystalline silicon solar cell. To achieve higher efficiency of solar cells, well ordered inverted pyramid texturing was introduced. Although its complicated process, superior properties such as lower reflectance and recombination velocity can be achieved by optimizing the process. In this study, we investigated optical and passivation properties of inverted pyramid texture. Lifetime, implied-Voc and reflectance were measured with different width and size of the texture. Also, effects of chemical rounding at the valley of the pyramid were observed.

• 한국재료학회지
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• 제30권12호
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• pp.660-665
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• 2020

Silicon heterojunction solar cells can achieve high conversion efficiency with a simple structure. In this study, we investigate the passivation characteristics of VOx thin films as a hole-selective contact layer using ALD (atomic layer deposition). Passivation characteristics improve with iVoc (implied open-circuit voltage) of 662 mV and minority carrier lifetime of 73.9 µs after post-deposition annealing (PDA) at 100 ℃. The improved values are mainly attributed to a decrease in carbon during the VOx thin film process after PDA. However, once it is annealed at temperatures above 250 ℃ the properties are rapidly degraded. X-ray photoelectron spectroscopy is used to analyze the chemical states of the VOx thin film. As the annealing temperature increases, it shows more formation of SiOx at the interface increases. The ratio of V5+ to V4+, which is the oxidation states of vanadium oxide thin films, are 6:4 for both as-deposition and annealing at 100 ℃, and 5:5 for annealing at 300 ℃. The lower the carbon content of the ALD VOx film and the higher the V5+ ratio, the better the passivation characteristics.

• 환경영향평가
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• 제31권5호
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• pp.321-333
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• 2022

본 연구에서는 대산 석유화학 산업단지에서 배출되는 BTEX (benzene toluene, ethylbenzene, and xylene)의 농도 및 분포 특성을 조사하여 지역주민에 대한 잠재적 위해성을 파악하였다. 산업단지 인근 지역주민들은 다양한 매체(공기, 물, 토양), 특히 공기를 통해 화학물질에 노출될 수 있다. 이 연구는 결정론적 및 확률론적 위해성 평가 접근 방식을 모두 사용하여 흡입에 의한 인체 건강 위험을 평가하였다. 결정론적 위해성 평가 결과 모든 지점에 대해 비발암 위해도의 유해지수(HI) 1.0보다 훨씬 낮은 결과가 나타났다. 그러나 발암 위해성 평가 결과, 산업단지 내에 위치한 A 지점에서 벤젠에 대한 초과발암위해도는 2.28×10^-6로 기준치인 1.0×10^-6을 약간 상회하는 것으로 나타났다. 또한, 해당 지점에 대한 확률론적 위해성 평가 결과, 보수적 기준인 1.0×10^-6을 초과하는 Percentile은 45.3%로 나타났으며, 민감도 분석 결과 노출시간(ET)가 결과에 미치는 영향이 가장 크다고 판단되었다. 인체 위해성 평가 결과, 에틸벤젠, 톨루엔, 자일렌에 대해서는 인체에 위해한 영향이 적은 것으로 판단되었으나, 벤젠은 초과발암위해도 기준(1.0×10^-6)을 초과하는 것으로 나타났다. 산업단지에서 공기 중 VOCs에 대한 광범위한 모니터링을 통해 이러한 잠재적 위험을 평가하기 위한 추가적인 연구가 필요하다.