Structure and Fatigue Analyses of the Inspection Equipment Frame of a Semiconductor Test Handler Picker (반도체 테스트 핸들러 픽커 검사장비 프레임에 대한 구조 및 피로해석)
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- Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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- v.15 no.10
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- pp.5906-5911
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- 2014