• Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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• 2004.04a
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• pp.43-46
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• 2004

CuPc와 $C_{60}$을 이용하여 ITO/CuPc/Al의 CuPc 단층구조와 $ITO/CuPc/C_{60}/Al$의 이종접합 구조에서의 광기전 특성을 연구하였다. CuPc 단층구조에서는 CuPc층의 두께를 10nm에서 50nm로 가변하여 전압-전류 특성을 측정한 결과 40nm 부근에서 최적화된 전기적인 특성이 나타났으며, $CUPC/C_{60}$의 이종접합 구조에서는 CuPc와 $C_{60}$의 두께 비율을 1 : 1 (20nm : 20nm), 1 : 2 (20nm : 40nm), 1 : 3 (20nm : 60nm)으로 가변하여 측정한 결과, 1 : 2의 두께비에서 최적화된 특성을 얻었다. 광원은 500W Xe lamp(ORIEL 66021)를 이용하였으며, 광원의 세기는 보정된 radiometer/photometer (International Inc. IL14004)와 Si-photodiode로 측정하였다.