Recently, gas turbines for power generation adopt multistage DLN(Dry Low NOx) type combustion, where diffusion combustion is applied at low load and, with increase in load, the combustion mode is changed to lean premixed combustion to reduce NOx emissive concentration. However, during the mode changeover from diffusion to premixed flame, unfavorable phenomena, such as flashback, high amplitude combustion oscillations, or thermal damage of combustor parts could frequently occur. In the present study, to apply for the analysis of such unfavorable phenomena, three-dimensional CFD investigations are carried out to compare the detailed flow characteristics and temperature distribution inside the gas turbine combustor before and after combustion mode changeover. The fuel considered here is pure methane gas. A standard $k-{\varepsilon}$ turbulence model with wall function and a P-N type radiation heat transfer model, have been utilized. To analyze the complex geometric effects of combustor parts on combustion characteristics, fuel nozzles, a swirl vane f3r fuel-air mixing, and cooling air holes on the combustor liner wall, are included in this simulation.
In order to investigate the emission characteristics of the phosphorescent white organic light-emitting diodes (PHWOLEDs) according to various hole transport layers (HTLs), PHWOLEDs composed of HTLs whose structure are NPB/TCTA, NPB/mCP and NPB/TCTA/mCP, two emissive layers (EMLs) which emit two-wavelengths of light (blue and red), and electron transport layer were fabricated. The applied voltage, power efficiency, and external quantum efficiency at a current density of $1 mA/cm^2$ for the fabricated PHWOLEDs were 7.5 V, 11.5 lm/W, and 15%, in case of NPB/mCP, 5 V, 14.8 lm/W, and 13.7%, in case of NPB/TCTA, and 5.5 V, 14.6 lm/W, and 15%, in case of NPB/TCTA/mCP in the hole transport layer, respectively. High emission efficiency can be obtained when the amount of hole injection from anode is balanced out by the amount of electron injection from the cathode to EML by using NPB/TCTA/mCP structured HTL.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제9권1호
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pp.20-23
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2008
Organic light-emitting diodes (OLEDs) are attractive because of possible application in display with low-operating voltage, low-power consumption, self-emission and capability of multicolor emission by the selection of emissive materials. To investigated the optical effects, we studied the electrical and optical characteristics due to thickness variation of electron injection materials LiF on organic light-emitting diodes in the ITO (indium-tin-oxide)/N,N'-diphenyl-N, N'-bis(3-methyphenyl)-1,1'-biphenyl-4,4'-diamine(TPD)/tris(8-hydroxyquinoline) aluminum $(Alq_3)/LiF$ layer/Al device. We maintained the thicknesses of TPD and $Alq_3$ layers at 40 nm and 60 nm, respectively. The deposition rates of TPD and $Alq_3$ were in the $1.5{\AA}/s$ under a base pressure of $5{\times}10^{-6}$ Torr. It was found that luminance and luminous efficiency of the device with 0.7 nm LiF layer improve 25 times and 7 times than the device without the LiF layer, respectively.
We present experimental results that regard the effects of catalyst preparation on the structural and field-emissive properties of CNTs. The CNTs used in this research have been synthesized using the inductively coupled plasma-chemical vapor deposition (ICP-CVD) method. Catalyst materials (such as Ni, Co, and Invar 426) are varied and deposited on buffer films by RF magnetron sputtering. Prior to growth of CNTs, $NH_3$ plasma etching has also been performed with varying plasma etching time and power. For all the CNTs grown, nanostructures and morphologies are analyzed using Raman spectroscopy and FESEM, in terms of buffer films, catalyst materials, and pre-treatment conditions. Furthermore, the field electron-emission of CNTs are measured and characterized in terms of the catalyst preparation environments. The CNTs grown on Nicatalyst layer would be more effectual for enhancing the growth rate and achieving the vertical-alignment of CNTs rather than other buffer materials from results of SEM study. The crystalline graphitic structure of CNTs is improved as the catalyst dot reaches a critical size. Also, the field-emission result shows that the CNTs using Ni catalyst would be more favorable for improving electron-emission capabilities of CNTs compared with other samples.
The red emitting OLEDs using $Alq_3$:Rubrene-GDI4234 phosphors have been fabricated and characterized . In the device fabrication, 2- TNATA [4,4',4' - tris (2- naphthylphenyl - phenylamino ) - tripheny lamine] as the hole injection material and NPB [N,N'-bis (1-naphthyl)-N,N'-diphenyl-1,1'-biphenyl-4,4'-diamine] as the hole transport material were deposited on the ITO(indium tin oxide)/glass substrate by vacuum evaporation. And then, red color emissive layer was deposited using $Alq_3$ as the host material and Rubrene(5,6,11,12-tetraphenylnaphthacene)-GDI4234 as the dopants. finally, small molecule OLEDs with structure of ITO/2-TNATA/NPB/$Alq_3$:Rubrene-GDI4234/$Alq_3$/LiF/Al were obtained by in-situ deposition of $Alq_3$, LiF and Al as the electron transport material, electron injection material and cathode, respectively. Red OLEDs fabricated in our experiments showed the color coordinate of CIE(0.65, 0.35) and the maximum power efficiency of 2.1 lm/W at 7 V with the peak emission wavelength of 632 nm.
Park, Jung-Soo;Yu, Jae-Hyung;Jeon, Woo-Sik;Son, Young-Hoon;Kulshreshtha, Chandramouli;Kwon, Jang-Hyuk
Journal of Information Display
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제12권1호
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pp.51-55
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2011
Efficient two-color-mixed white organic light-emitting diodes are presented herein by employing a sky-blue phosphorescent dopant of iridium(III)bis[4,6-(difluorophenyl)-pyridinato-N,$C^{2'}$]picolinate (FIrpic) and an orange phosphorescent dopant of bis(2-phenylquinoline)(acetylacetonate)iridium(III) ($Ir(phq)_2$acac) on the emissive layer. Very stable color variation under ${\Delta}$0.02 until a 5000 cd/$m^2$ brightness value was realized by efficient carrier control in a multi-stacked emitting layer of blue/red/blue colors. Maximum current and power efficiencies of 23.8 cd/A and 22.9 lm/W in the forward direction were obtained. With balanced emission from the two emitters, the white-light emission of high correlated color temperature of 7308K and the Commission Internationale de I'Eclairage coordinates of (0.30, 0.33) were achieved.
Carbon nanotubes [CNTs] are grown on TiN-coated Si substrates at $700^{\circ}C$ by inductively coupled plasma-chemical vapor deposition (ICP-CVD). Pre-treatment of Ni catalysts has been performed using an RF magnetron sputtering system. Structural properties and field-emission characteristics of the CNTs grown are analyzed in terms of the RF power applied and the treatment time used in the pre-treatment process. The characterization using various techniques, such as FE-SEM, AFM, and Raman spectroscopy, show that the physical dimension as well as the crystal quality of CNTs are changed by pre-treatment of Ni catalysts. It is also seen that Ni catalysts with proper grain size and uniform surface roughness may produce much better electron emission. The physical reason for all the measured data obtained are discussed to establish the relationship between the structural property and the electron emission characteristic of CNTs.
Kim, Byoung-Yong;Han, Jin-Woo;Kim, Jong-Yeon;Han, Jeong-Min;Moon, Hyun-Chan;Park, Kwang-Bum;Seo, Oae-Shik
한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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한국전기전자재료학회 2007년도 하계학술대회 논문집 Vol.8
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pp.449-449
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2007
OLED has many advantages of low voltage operation, self radiation, light weight, thin thickness, wide view angle and fast response time to overcome existing liquid crystal display (LCD)'s weakness. Therefore, It draws attention as promising display and has already developed for manufactured goods. Also, OLED is regarded as a only substitute of flexible display with a thin display. A considerable portion of the light originating film emissive centers buried in a solid film never escapes due to internal reflection at the air-film interface and is scattered as edge emission or dissipated within the solid film This is one of the major reasons why the luminous power efficiency of OLED remains low, in spite of research progress in OLED. Although several ways of overcoming this difficulty have been reported, no comprehensive method has been proposed yet. In this paper, we propose that use of anti-reflective coating layers.
Organic light-emitting diodes(OLEOs) are attractive because of possible application in display with low operating voltage, low power consumption, self-emission and capability of multicolor emission by the selection of emissive material. We investigated the effects of deposition rate on the electrical characteristics, physical characteristics and optical characteristics of OLEOs in the ITO(indium-tin-oxide)/N.N'-diphenyl-N,N'-bis(3-methyphenyl)-1,1'-biphenyl-4,4'-diamine(TPD)/tris(8-hydroxyquinoline)aluminum($Alq_3$)/Al device. We measured current density, luminous flux and luminance characteristics of devices with varying deposition rates of TPD and $Alq_3$. It has been found that optimal deposition rate of TPD and $Alq_3$ were respectively $1.5{\AA}/s$ from the device structure. An AFM measurement results, surface roughness of the deposited film was the lowest when deposition rate was $1.5{\AA}/s$.
반도체 제조는 chip의 성능 향상 및 단가 하락을 위해 지속적으로 pattern size가 nano size로 감소해 왔고, capacitor 용량은 증가해 왔다. 이러한 현상은 contact hole의 aspect ratio를 지속적으로 증가시킨바, 그에 따라 최적의 HARC (high aspect ratio contact)을 확보하는 적합한 dry etch process가 필수적이다. 그러나 HARC dry etch process는 많은 critical plasma properties 에 의존하는 매우 복잡한 공정이다. 따라서, critical plasma properties를 적절히 조절하여 higher aspect ratio, higher etch selectivity, tighter critical dimension control, lower P2ID과 같은 plasma characteristics을 확보하는 것이 요구된다. 현재 critical plasma properties를 제어하기 위해 다양한 plasma etching 방법이 연구 되어왔다. 이 중 plasma를 낮은 kHz의 frequency에서 on/off 하는 pulsed plasma etching technique은 nanoscale semiconductor material의 etch 특성을 효과적으로 향상 시킬 수 있다. 따라서 본 실험에서는 dual-frequency capacitive coupled plasma (DF-CCP)을 사용하여 plasma operation 동안 duty ratio와 pulse frequency와 같은 pulse parameters를 적용하여 plasma의 특성을 각각 제어함으로써 etch selectivity와 uniformity를 향상 시키고자 하였다. Selective SiO2 contact etching을 위해 top electrode에는 60 MHz pulsed RF source power를, bottom electrode에는 2MHz pulse plasma를 인가하여 synchronously pulsed dual-frequency capacitive coupled plasma (DF-CCP)에서의 plasma 특성과 dual pulsed plasma의 sync. pulsing duty ratio의 영향에 따른 etching 특성 등을 연구 진행하였다. 또한 emissive probe를 통해 전자온도, OES를 통한 radical 분석으로 critical Plasma properties를 분석하였고 SEM을 통한 etch 특성분석과 XPS를 통한 표면분석도 함께 진행하였다. 그 결과 60%의 source duty percentage와 50%의 bias duty percentage에서 가장 향상된 etch 특성을 얻을 수 있었다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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