• 대한화학회지
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• 제30권3호
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• pp.327-332
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• 1986

유도결합 플라스마 공간내의 전자밀도를 측정하였다. 전자밀도의 측정시 유도결합 플라스마의 작동조건은, (1) 냉각기체만 사용할 때, (2) 냉각기체와 운반기체만을 사용할 때, (3) 보통의 작동조건은, 즉 에아로졸을 포함한 운반기체를 사용할 때, (4) 약 88%의 에아로졸을 제거시켰을 때, 그리고 (5) 과량의 리튬을 주입시켰을 때로서 분류하였다. 보통의 작동조건에서 플라스마의 낮은 부분에서는 전자밀도가 상당히 감소하여 플라스마내의 가장 전자밀도가 큰 곳보다 약 80배 감소하였다. 이온화 방해영향을 일으키는 알칼리금속을 과량으로 넣었을 때 전자밀도의 변화는 관찰되지 않았고 유도코일의 power를 증가시키면 전자밀도도 증가하였다.

• Coupled systems mechanics
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• 제6권1호
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• pp.75-96
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• 2017

As electron donor/acceptor materials for organic photovoltaic cells, small-molecules donors/acceptor are attracting more and more attention. In this work, we investigated the electronic structures, electrochemical properties, and charge carrier transport properties of four recently-synthesized small-molecule donors/acceptor, namely, DPDCPB (A), DPDCTB (B), DTDCPB (A1), and DTDCTB (B1), by a series of ab initio calculations. The calculations look into the electronic structure of singly oxidized and reduced molecules, the first anodic and cathodic potentials, and the electrochemical gaps. Results of our calculations were in accord with those from experiments. Using Marcus theory, we also computed the reorganization energies of hole/electron hoppings, as well as hole/electron transfer integrals of multiple possible molecular dimer configurations. Our calculations indicated that the electron/hole transport properties are very sensitive to the relative separations/orientations between neighboring molecules. Due to high reorganization energies for electron hopping, the hole mobilities in the molecular crystals are at least an order of magnitude higher than the electron mobilities.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 1998년도 하계종합학술대회논문집
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• pp.327-330
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• 1998

In this theory, we explained the impossibility of the motion or miving of the hole that has been recognized to be a carrier, by giving some fundamental reasons. We treated energy gap and impurity concentration, in p- and n-type region, as functions of the mobility that is one of te factors which determine current quantity, and analyzed the primary electron theory as a carrier by introducing 2 hypotheses.

• 한국산업정보학회논문지
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• 제10권2호
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• pp.76-81
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• 2005

본 연구에서는 차세대 디스플레이 소자로 각광을 받고 있는 유기발광 소자의 전기적인 특성을 해석적으로 접근하였다. 기본적인 OLED의 동작 메카니즘은 일함수(work function)가 낮은 음극(cathode) 전극으로부터 주입된 전자(electron)와 양극(anode) 전극으로 주입된 정공(hole)이 수송층을 지나 발광층으로 유입되어 여기상태(exciton state)를 거치며 재결합함으로써 발광되는 것으로 알려져 있다. 따라서 음극과 양극을 통해 들어오는 수송자(carrier)들이 원활한 전자-정공 쌍(electron - hole pair)을 이루기 위해 다층 박막 구조로 소자를 제작하여 높은 에너지 장벽을 완만하게 만들고 또한 박막의 두께를 조절하여 정공과 전자의 이동도 밸런스(balance)를 맞추어 수송자-전자와 정공-들이 수송층(CTL : carrier transport layer)을 통해 발광층(EML : emitting material layer)으로 주입을 용이하게 만든다 따라서 본 논문에서는 유기 발광소자의 최적의 발광특성을 얻기 위해서는 수치 해석을 통한 가장 높은 발광 효율을 가지게되는 박막의 두께를 예측하고 예측된 유기발광소자의 수치해석 값이 실제 제작된 소자의 특성 값과 일치하여 타당성이 있음을 증명하고자 한다.

• 전자공학회논문지A
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• 제30A권12호
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• pp.77-87
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• 1993

PMOSFETs were studied on the effect of Hot-Carrier induced drain leakage current (Gate-Induced-Drain-Leakage). The result turned out that change in Vgl(drain voltage where 1pA/$\mu$m of drain leadage current flows) was largest in the Channel-Hot-Hole(CHH) injection condition and next was in dynamic stress and was smallest in electron trapping (Igmax) condition under various stress conditions. It was analyzed that if electron trapping occurrs in the overlap region of gate and drain(G/D), it reduces GIDL current due to increment of flat-band voltage(Vfb) and if CHH is injected, interface states(Nit) were generated and it increases GIDL current due to band-to-defect-tunneling(BTDT). Especially, under dynamic stress it was confirmed that increase in GIDL current will be high when electron injection was small and CHH injection was large. Therefore as applying to real circuit, low drain voltage GIDL(BTDT) was enhaced as large as CHH Region under various operating voltage, and it will affect the reliablity of the circuit.

• 한국산업정보학회:학술대회논문집
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• 한국산업정보학회 1997년도 추계학술대회 발표논문집:21세기를 향한 정보통신 기술의 전망
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• pp.451-462
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• 1997

A 2-dimensional numerical analysis is presented for thermal-electron heat conduction effects upon the electron transport and the drain current-voltage characteristics of submicron GaAs MESFETs, based on the use of a nonstationary hydrodynamic transport model. It is shown that for submicron GaAs MESFETs, electron heat conduction effects are significant on their internal electronic properties and also drain current-voltage characteristics. Due to electron heat conduction effects, the electron energy is greatly one-djmensionalized over the entire device region. Also, the drain current decreases continuously with increasing thermal conductivity in the saturation region of large drain voltages above 1 V. However, the opposite trend is observed in the linear region of small drain voltages below 1 V. Accordingly, for a large thermal conductivity, negative differential resistance drain current characteristics are observed with a pronounced peak of current at the drain voltage of 1 V. On the contrary, for zero thermal conductivity, a Gunn oscillation characteristic is observed at drain voltages above 2 V under a zero gate bias condition.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제41권7호
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• pp.21-29
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• 2004

본 논문에서는 Dual oxide를 갖는 Nano-scale CMOSFET에서 각 소자의 Hot carrier 특성을 분석하여 두 가지 중요한 결과를 나타내었다. 하나는 NMOSFET Thin/Thick인 경우 CHC stress 보다는 DAHC stress에 의한 소자 열화가 지배적이고, Hot electron이 중요하게 영향을 미치고 있는 반면에, PMOSFET에서는 특히 Hot hole에 의한 영향이 주로 나타나고 있다는 것이다. 다른 하나는, Thick MOSFET인 경우 여전히 NMOSFET의 수명이 PMOSFET의 수명에 비해 작지만, Thin MOSFET에서는 오히려 PMOSFET의 수명이 NMOSFET보다 작다는 것이다. 이러한 분석결과는 Charge pumping current 측정을 통해 간접적으로 확인하였다. 따라서 Nano-scale CMOSFET에서의 NMOSFET보다는 PMOSFET에 대한 Hot camel lifetime 감소에 관심을 기울여야 하며, Hot hole에 대한 연구가 진행되어야 한다고 할 수 있다.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 1999년도 하계학술대회 논문집 D
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• pp.1947-1949
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• 1999

Carrier lifetime in silicon power devices caused switching delay and excessive power loss at high frequency switching. We studied transient turn-on/turn-off transient characteristics of electron irradiated and proton irradiated silicon pn junction diodes. Both the electron and proton irradiation of power devices have already become a widely used practice to reduce minority carrier lifetime locally[1]. The sample is n+p junction diode, made by ion implantation on a $20\Omega.cm$ p-type wafer. We investigated turn-on/turn-off transient & breakdown voltage characteristics by digital oscilloscope. Our data show that proton irradiated samples show better performance than electron irradiated samples.

• 한국지하수토양환경학회:학술대회논문집
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• 한국지하수토양환경학회 2001년도 총회 및 춘계학술발표회
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• pp.53-56
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• 2001

The degradation of tetrachloroethene (PCE) and trichloroethene (TCE) by vitamin B$_{12}$, an electron mediator was examined when zero valent metals (ZVMs) were used as built electron donors. Dechlorination of PCE and TCE by iron and zinc in the presence of vitamin B$_{12}$ showed that the zinc and vitamin B$_{12}$ combination greatly enhances the reaction rates for both PCE and TCE, but iron and vitamin B$_{12}$ result in an increase in reactivity only for PCE degradation, not for TCE degradation in comparing with meta]s only. This result indicates vitamin B$_{12}$(I) Is active towards both PCE and TCE degradation while vitamin B$_{12}$(II) is active towards both PCE. Calculated activation energies for the dechlorination of PCE in the presence of Vitamin B$_{12}$ showed that vitamin B$_{12}$ lowered the activation energy about 40-60 kJ/㏖ for the both metals.the both metals.

• 한국진공학회지
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• 제13권1호
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• pp.14-21
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• 2004

오늘날 전력소자의 작동에 고주파를 사용하기 때문에 에너지 손실을 줄이기 위해 전력소자의 스위칭 속도를 증가시키는 것은 필수적이다. 본 연구에서는 $p^+- n^-$ 접합 다이오드의 스위칭 속도를 증가시킬 목적으로 minority carrier의 수명을 감소시킬 수 있는 전자조사를 실시하였다. 다이오드의 전기적 성질에 대한 전자조사의 효과를 나타냈다. 스위칭 속도는 효과적으로 증가하였다. 또한 증가될 것으로 예상되는 접합 누설 전류와 전자조사 후 정전압강하는 최적 조건의 에너지와 dose량으로 조사된 $p^+- n^-$접합 다이오드에서는 무시할 수 있는 정도로 나타났다. DLTS와 C-V 분석은 실리콘 기판에서 전자조사로 감소된 결함은 0.284eV와 0.483eV의 에너지 준위를 갖는 donor-like 결함인 것을 보여준다. 본 연구에서의 실험 결과를 고려해 보면, 전자조사는 $p^+- n^-$ 접합 다이오드 전력 소자의 스위칭 속도를 증가시켜 에너지 손실을 감소시킬 수 있는 가장 유용한 기술이라고 결론지을 수 있다.