This study was done to elucidate the electron microscopic characteristics of certain pathogenic fungi. Four Candida species, (C. albicans, C. tropicalis, C. parapsilosis and C. glabrate) and Cryptococcus neoformans were cultured for 3 days at $30^{\circ}C$ in the Sabouraud dextrose medium. After incubation, they were stored at $4^{\circ}C$ for 24hours. Fine structures were analyzed by morphometry, and Tukey's HSD test was used for statistics. On scanning electron microscopy C. albicans and C. neoformans were similar in size but different in shape, showing sphero-shape or ovalo-shape in C. neoformans. Surface of C. neoformans was coarse and spiny, but Candida species examined were uniformly smooth. In size, C. glabrata was the smallest among them. Budding scar as seen on the surface of Candida species by the number ranging from 1 to 7. Cryptococcus neoformans showed one or two budding scar. On transmission electron microscopy the cytoplasm of most yeast cells showed plentiful glycogen particles, mitochondria, peroxisomes and vacuoles. However, cell walls were different among four Candida species and Cryptococcus neoformans. The cell wall of Candida species consisted of fibrous layer, that was electron dense layer and transparent layer, in contrast to Cryptococcus neoformans consisted of electron dense layer with lamellar structure. This layer was two times thicker than that of Candida species. The outer layer of cell wall was of radiating pattern.
Present study was performed to observe the surface ultrastructures of Stictadora furcatum (Trematoda: Heterophyidae). Adult worms were recovered from the cat experimentally infected with metacercariae, and were prepared for scanning electron microscopy. The body was leaf-like and ventrally concave. The oral sucker armed with prominent tegumental spines on the inner surface, and it's lips were obscure. Sensory papillae (type I) in single or grouped forms symmetrically arranged around the oral sucker. The ventrogenital opening retained protruding gonotyl spines and sperms discharged from the genital pore . The body surface was covered with scale-like multipointed tegumental spines. The density and digitated point of spines were gradually decreased toward the posterior end of the body. The digitated points of spines on the anterior portion were 9-12, on the middle were 7-8 and 5-6, and on the posterior were 2-3 and peg-like. Although the tegumental ultrastructure of S. fuscatum was generally similar to those of other heterophyid flukes , the oral sucker with tegumental spines on the inner surface and without obvious lips, and the ventrogenital opening with protruding gonotyl spines were suggested to be the characteristic features.
The microstructure of various shapes of stacking fault pyramids (SFPs) formed in multiple implant/anneal Separation by Implanted Oxygen (SIMOX) material were investigated by plan-view and cross-sectional transmission electron microscopy. In the multiple implant/anneal SIMOX, the defects in the top silicon layer are confined at the interface of the buried oxide layer at a density of ${\sim}10^6\;cm^{-2}$. The dominant defects are perfect and imperfect SFPs. The perfect SFPs were formed by the expansion and interaction of four dissociated dislocations on the {111} pyramidal planes. The imperfect SFPs show various shapes of SFPs, including I-, L-, and Y-shapes. The shape of imperfect SFPs may depend on the number of dissociated dislocations bounded to the top of the pyramid and the interaction of Shockley partial dislocations at each edge of {111} pyramidal planes.
Transmission electron microscopy (TEM) is a powerful tool for analyzing a broad range of materials and provides localized information about the microstructure. However, the analysis results are strongly influenced by the quality of the thin foil specimen. Sample preparation for TEM analysis requires considerable skill, especially when the area of interest is small or the material of interest is difficult to thin because of its high hardness and its mechanical instability when thinned. This article selectively reviews recent advances in TEM sample preparation techniques using a tripod polisher. In particular, it introduces two typical types (fl at type and wedge type) of TEM sample preparation and the benefits and drawbacks of each method; finally, a method of making better samples for TEM analysis is suggested.
Color dye-doped silk fibroin nanoparticles were successfully fabricated using a microemulsion method. An aqueous silk fibroin solution was prepared by dissolving cocoons (Bombyx mori) in a concentrated lithium bromide solution followed by dialysis. A color dye solution was also mixed with the aqueous silk fibroin solution. The surfactants used for the microemulsion were then removed by methanol and ethanol, yielding color dye-doped silk fibroin nanoparticles, approximately 167 nm in diameter. The secondary structure of the nanoparticles showed a $\beta$-sheet conformation, as characterized by Fourier transform infrared spectroscopy. The morphology of the nanoparticles was determined by field emission scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and atomic force microscopy, and their size and size distribution were measured by dynamic light scattering. The color dye-doped silk fibroin nanoparticles were examined by confocal laser scanning microscopy.
The release of nanoscale membrane-bound vesicles is common in all three domains of life. These vesicles are involved in a variety of biological processes such as cell-to-cell communication, horizontal gene transfer, and substrate transport. Prokaryotes including bacteria and archaea release membrane vesicles (MVs) (20 to 400 nm in diameter) into their extracellular milieu. In spite of structural differences in cell envelope, both Gram-positive and negative bacteria produce MVs that contain the cell membrane of each bacterial species. Archaeal MVs characteristically show surface-layer encircling the vesicles. Filamentous fungi and yeasts as eukaryotic microbes produce bilayered exosomes that have varying electron density. Microbes also form intracellular vesicles and minicells that are similar to MVs and exosomes in shape. Electron and fluorescence microscopy could reveal the presence of DNA in MVs and exosomes. Given the biogenesis of extracellular vesicles from the donor cell, in situ high-resolution microscopy can provide insights on the structural mechanisms underlying the formation and release of microbial extracellular vesicles.
Jung Sik Park;Yoon‑Jung Kang;Sun Eui Choi;Yong Nam Jo
Applied Microscopy
/
제51권
/
pp.19.1-19.7
/
2021
The main purpose of this paper is the preparation of transmission electron microscopy (TEM) samples from the microsized powders of lithium-ion secondary batteries. To avoid artefacts during TEM sample preparation, the use of ion slicer milling for thinning and maintaining the intrinsic structure is described. Argon-ion milling techniques have been widely examined to make optimal specimens, thereby making TEM analysis more reliable. In the past few years, the correction of spherical aberration (Cs) in scanning transmission electron microscopy (STEM) has been developing rapidly, which results in direct observation at an atomic level resolution not only at a high acceleration voltage but also at a deaccelerated voltage. In particular, low-kV application has markedly increased, which requires a sufficiently transparent specimen without structural distortion during the sample preparation process. In this study, sample preparation for high-resolution STEM observation is accomplished, and investigations on the crystal integrity are carried out by Cs-corrected STEM.
We report a useful method to estimate the electron dose rate which may be a decisive factor to characterize sample properties. Even though most mircoscopes have their own exposure meters, there are several practical concerns when such exposure meters are used to measure the electron dose rate: 1) Specimen should be avoided within the entire area of exposure meter; 2) beam current has to be always recorded whenever the operation mode is changed; 3) the electron dose rate can not be calculated for the beam current beyond the detectable range. To overcome these limitations, we suggest a useful method which utilize a CCD (charge coupled device) camera which is now a popular detector to obtain the final electron micrographs. We have evaluated the CCD sensitivity using the linear relationship between electron current on the exposure meter and counter ratio on the CCD camera which are built in KBSI-HVEM (high voltage electron microscope). Applying the new method, we obtained the CCD sensitivity which are approximately 0.039 counts/$e^-$ and 1.37 counts/$e^-$ for the Top-TV and the HV-GIF CCD cameras, respectively.
Kim, Ju-Heon;Kim, Dong-Ik;Kim, Jong Seok;Choi, Shi-Hoon;Yi, Kyung-Woo;Oh, Kyu Hwan
Applied Microscopy
/
제43권2호
/
pp.88-97
/
2013
Technical investigation to figure out the problems arising during in-situ heating electron backscatter diffraction (EBSD) analysis inside scanning electron microscopy (SEM) was carried out. EBSD patterns were successfully acquired up to $830^{\circ}C$ without degradation of EBSD pattern quality in steels. Several technical problems such as image drift and surface microstructure pinning were taking place during in-situ experiments. Image drift problem was successfully prevented in constant current supplying mode. It was revealed that the surface pinning problem was resulted from the $TiO_2$ oxide particle formation during heating inside SEM chamber. Surface pinning phenomenon was fairly reduced by additional platinum and carbon multi-layer coating before in-situ heating experiment, furthermore was perfectly prevented by improvement of vacuum level of SEM chamber via leakage control. Plane view in-situ observation provides better understanding on the overall feature of recrystallization phenomena and cross sectional in-situ observation provides clearer understanding on the recrystallization mechanism.
The amorphous indium-gallium-zinc-oxide (a-IGZO) materials for use in high performance display research fields are strongly investigated due to its good performance, such as high mobility and better transparency. However, the stability of a-IGZO materials is increasingly becoming one of critical issues due to the sub-gap electron trap sites induced by rough interfaces during deposition processing. It is well-known that the threshold voltage shift is related to interface roughness and oxygen vacancy formed by breaking weak chemical bonds. Here, we report the better properties of transparent oxide transistors by reducing the threshold voltage shift with an external rf plasma supported magnetron sputtering system. Mainly, our sputtering method causes the surface of sample to be sleek, so that it prevents the formation of various defects, such as shallow electron trap sites in the interface. External rf power was applied from 0 to 50W during RF sputtering process to enhance the stability of our oxide transistor without having a large voltage shift. To observe the effects of external rf-plasma source on the properties of our devices, Scanning Electron Microscopy (SEM), Atomic Force Microscopy (AFM), Transmission Electron Microscopy (TEM) are carried out to observe surface roughness and morphology of sputtered thin film. In addition, typical electrical properties, such as I-V characteristics are analyzed.
본 웹사이트에 게시된 이메일 주소가 전자우편 수집 프로그램이나
그 밖의 기술적 장치를 이용하여 무단으로 수집되는 것을 거부하며,
이를 위반시 정보통신망법에 의해 형사 처벌됨을 유념하시기 바랍니다.
[게시일 2004년 10월 1일]
이용약관
제 1 장 총칙
제 1 조 (목적)
이 이용약관은 KoreaScience 홈페이지(이하 “당 사이트”)에서 제공하는 인터넷 서비스(이하 '서비스')의 가입조건 및 이용에 관한 제반 사항과 기타 필요한 사항을 구체적으로 규정함을 목적으로 합니다.
제 2 조 (용어의 정의)
① "이용자"라 함은 당 사이트에 접속하여 이 약관에 따라 당 사이트가 제공하는 서비스를 받는 회원 및 비회원을
말합니다.
② "회원"이라 함은 서비스를 이용하기 위하여 당 사이트에 개인정보를 제공하여 아이디(ID)와 비밀번호를 부여
받은 자를 말합니다.
③ "회원 아이디(ID)"라 함은 회원의 식별 및 서비스 이용을 위하여 자신이 선정한 문자 및 숫자의 조합을
말합니다.
④ "비밀번호(패스워드)"라 함은 회원이 자신의 비밀보호를 위하여 선정한 문자 및 숫자의 조합을 말합니다.
제 3 조 (이용약관의 효력 및 변경)
① 이 약관은 당 사이트에 게시하거나 기타의 방법으로 회원에게 공지함으로써 효력이 발생합니다.
② 당 사이트는 이 약관을 개정할 경우에 적용일자 및 개정사유를 명시하여 현행 약관과 함께 당 사이트의
초기화면에 그 적용일자 7일 이전부터 적용일자 전일까지 공지합니다. 다만, 회원에게 불리하게 약관내용을
변경하는 경우에는 최소한 30일 이상의 사전 유예기간을 두고 공지합니다. 이 경우 당 사이트는 개정 전
내용과 개정 후 내용을 명확하게 비교하여 이용자가 알기 쉽도록 표시합니다.
제 4 조(약관 외 준칙)
① 이 약관은 당 사이트가 제공하는 서비스에 관한 이용안내와 함께 적용됩니다.
② 이 약관에 명시되지 아니한 사항은 관계법령의 규정이 적용됩니다.
제 2 장 이용계약의 체결
제 5 조 (이용계약의 성립 등)
① 이용계약은 이용고객이 당 사이트가 정한 약관에 「동의합니다」를 선택하고, 당 사이트가 정한
온라인신청양식을 작성하여 서비스 이용을 신청한 후, 당 사이트가 이를 승낙함으로써 성립합니다.
② 제1항의 승낙은 당 사이트가 제공하는 과학기술정보검색, 맞춤정보, 서지정보 등 다른 서비스의 이용승낙을
포함합니다.
제 6 조 (회원가입)
서비스를 이용하고자 하는 고객은 당 사이트에서 정한 회원가입양식에 개인정보를 기재하여 가입을 하여야 합니다.
제 7 조 (개인정보의 보호 및 사용)
당 사이트는 관계법령이 정하는 바에 따라 회원 등록정보를 포함한 회원의 개인정보를 보호하기 위해 노력합니다. 회원 개인정보의 보호 및 사용에 대해서는 관련법령 및 당 사이트의 개인정보 보호정책이 적용됩니다.
제 8 조 (이용 신청의 승낙과 제한)
① 당 사이트는 제6조의 규정에 의한 이용신청고객에 대하여 서비스 이용을 승낙합니다.
② 당 사이트는 아래사항에 해당하는 경우에 대해서 승낙하지 아니 합니다.
- 이용계약 신청서의 내용을 허위로 기재한 경우
- 기타 규정한 제반사항을 위반하며 신청하는 경우
제 9 조 (회원 ID 부여 및 변경 등)
① 당 사이트는 이용고객에 대하여 약관에 정하는 바에 따라 자신이 선정한 회원 ID를 부여합니다.
② 회원 ID는 원칙적으로 변경이 불가하며 부득이한 사유로 인하여 변경 하고자 하는 경우에는 해당 ID를
해지하고 재가입해야 합니다.
③ 기타 회원 개인정보 관리 및 변경 등에 관한 사항은 서비스별 안내에 정하는 바에 의합니다.
제 3 장 계약 당사자의 의무
제 10 조 (KISTI의 의무)
① 당 사이트는 이용고객이 희망한 서비스 제공 개시일에 특별한 사정이 없는 한 서비스를 이용할 수 있도록
하여야 합니다.
② 당 사이트는 개인정보 보호를 위해 보안시스템을 구축하며 개인정보 보호정책을 공시하고 준수합니다.
③ 당 사이트는 회원으로부터 제기되는 의견이나 불만이 정당하다고 객관적으로 인정될 경우에는 적절한 절차를
거쳐 즉시 처리하여야 합니다. 다만, 즉시 처리가 곤란한 경우는 회원에게 그 사유와 처리일정을 통보하여야
합니다.
제 11 조 (회원의 의무)
① 이용자는 회원가입 신청 또는 회원정보 변경 시 실명으로 모든 사항을 사실에 근거하여 작성하여야 하며,
허위 또는 타인의 정보를 등록할 경우 일체의 권리를 주장할 수 없습니다.
② 당 사이트가 관계법령 및 개인정보 보호정책에 의거하여 그 책임을 지는 경우를 제외하고 회원에게 부여된
ID의 비밀번호 관리소홀, 부정사용에 의하여 발생하는 모든 결과에 대한 책임은 회원에게 있습니다.
③ 회원은 당 사이트 및 제 3자의 지적 재산권을 침해해서는 안 됩니다.
제 4 장 서비스의 이용
제 12 조 (서비스 이용 시간)
① 서비스 이용은 당 사이트의 업무상 또는 기술상 특별한 지장이 없는 한 연중무휴, 1일 24시간 운영을
원칙으로 합니다. 단, 당 사이트는 시스템 정기점검, 증설 및 교체를 위해 당 사이트가 정한 날이나 시간에
서비스를 일시 중단할 수 있으며, 예정되어 있는 작업으로 인한 서비스 일시중단은 당 사이트 홈페이지를
통해 사전에 공지합니다.
② 당 사이트는 서비스를 특정범위로 분할하여 각 범위별로 이용가능시간을 별도로 지정할 수 있습니다. 다만
이 경우 그 내용을 공지합니다.
제 13 조 (홈페이지 저작권)
① NDSL에서 제공하는 모든 저작물의 저작권은 원저작자에게 있으며, KISTI는 복제/배포/전송권을 확보하고
있습니다.
② NDSL에서 제공하는 콘텐츠를 상업적 및 기타 영리목적으로 복제/배포/전송할 경우 사전에 KISTI의 허락을
받아야 합니다.
③ NDSL에서 제공하는 콘텐츠를 보도, 비평, 교육, 연구 등을 위하여 정당한 범위 안에서 공정한 관행에
합치되게 인용할 수 있습니다.
④ NDSL에서 제공하는 콘텐츠를 무단 복제, 전송, 배포 기타 저작권법에 위반되는 방법으로 이용할 경우
저작권법 제136조에 따라 5년 이하의 징역 또는 5천만 원 이하의 벌금에 처해질 수 있습니다.
제 14 조 (유료서비스)
① 당 사이트 및 협력기관이 정한 유료서비스(원문복사 등)는 별도로 정해진 바에 따르며, 변경사항은 시행 전에
당 사이트 홈페이지를 통하여 회원에게 공지합니다.
② 유료서비스를 이용하려는 회원은 정해진 요금체계에 따라 요금을 납부해야 합니다.
제 5 장 계약 해지 및 이용 제한
제 15 조 (계약 해지)
회원이 이용계약을 해지하고자 하는 때에는 [가입해지] 메뉴를 이용해 직접 해지해야 합니다.
제 16 조 (서비스 이용제한)
① 당 사이트는 회원이 서비스 이용내용에 있어서 본 약관 제 11조 내용을 위반하거나, 다음 각 호에 해당하는
경우 서비스 이용을 제한할 수 있습니다.
- 2년 이상 서비스를 이용한 적이 없는 경우
- 기타 정상적인 서비스 운영에 방해가 될 경우
② 상기 이용제한 규정에 따라 서비스를 이용하는 회원에게 서비스 이용에 대하여 별도 공지 없이 서비스 이용의
일시정지, 이용계약 해지 할 수 있습니다.
제 17 조 (전자우편주소 수집 금지)
회원은 전자우편주소 추출기 등을 이용하여 전자우편주소를 수집 또는 제3자에게 제공할 수 없습니다.
제 6 장 손해배상 및 기타사항
제 18 조 (손해배상)
당 사이트는 무료로 제공되는 서비스와 관련하여 회원에게 어떠한 손해가 발생하더라도 당 사이트가 고의 또는 과실로 인한 손해발생을 제외하고는 이에 대하여 책임을 부담하지 아니합니다.
제 19 조 (관할 법원)
서비스 이용으로 발생한 분쟁에 대해 소송이 제기되는 경우 민사 소송법상의 관할 법원에 제기합니다.
[부 칙]
1. (시행일) 이 약관은 2016년 9월 5일부터 적용되며, 종전 약관은 본 약관으로 대체되며, 개정된 약관의 적용일 이전 가입자도 개정된 약관의 적용을 받습니다.