Transactions of the Korean Society of Automotive Engineers
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v.12
no.2
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pp.131-138
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2004
In the proto design stage of a new car, the performances of an occupant protection system can be evaluated by CAE even though the real test should be carried out. The number of the real test is reduced by the exact predictions followed by the appropriate design recommendation. However, the existing researches using CAE in predicting the performances do not consider the uncertainties of parameters. That often leads to inconsistency between test and CAE. In this research, the robust design of a protection system such as airbag and load limiter is suggested considering the frontal crash. The parameter design scheme of the Taguchi method is introduced to obtain the robust design of arbitrary airbag and load limiter. It is performed based on the frontal crash test condition of US-NCAP with an arbitrary passenger car. The variances of the performances such as HIC, chest acceleration and probability of combined injury are calculated by the outer array and the Taylor series expansion. Through the analysis of the Taguchi method, the robust optimum is determined.
This paper proposes a NAND-NAND logic sequential Programmable Logic Array (PLA) using CMOS technology, and test generation methods about stuck-open faults. By using LSSD (Level Sensitive Scan Design) method instead of Flip-Flops in Sequential PLA, the complex test problems of sequential logic are simplified. After generating the test sets using connection graph, regular test sequences and all transistor faults detection method in PLA are proposed. Finally, by programming these algorithms in PASCAL at VAX 8700 and adopting these to pratical CMOS Sequential PLA circuits, we proved the effectiveness of this design.
Kang, In-Doo;Brunner, Mathias;Tanaka, Tak;Sun, Sheng;Li, Julia
한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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2006.08a
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pp.1673-1675
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2006
As the manufacturing capacity needs for large size LCD TV shifts very fast into next generation, processing and test equipment makers face more difficult challenges in accommodating productivity, reliability and lead time of panel makers as well as the prerequisite of high process quality. In this paper, AKT will discuss its new innovative productivity solutions in PECVD (Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition), as the key thin film process system, and EBT (Electron Beam Test), as the key array test system, for the huge glass size with surface dimension larger than 2 meter by 2 meter.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics C
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v.35C
no.8
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pp.10-22
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1998
To handle the density increase of SRAMs, a new parallel testing methodology based on built-in self test (BIST) is developed, which allows to access multiple cells simultaneously. The main idea is that a march algorithm is dperformed concurently in each baisc marching block hwich makes up whole memory cell array. The new parallel access method is very efficient in speed and reuqires a very thny hardware overhead for BIST circuitry. Results show that the fault coverage of the applied march algorithm can be achieved with a lower complexity order. This new paralle testing algorithm tests an .root.n *.root.n SRAM which consists of .root.k * .root.k basic marching blocks in O(5*.root.k*(.root.k+.root.k)) test sequence.
One of the most important task in commissioning intensity modulated radiotherapy (IMRT) into a clinic is the characterization of dosimetry performance under small monitor unit delivery conditions. In this study, method of evaluating dose monitor linearity, beam flatness and symmetry, and MLC positioning accuracy using a diode array is investigated. Siemens Primus linear accelerator (LA) with 6 and 10 MV x-rays was used to deliver radiation and the characteristics were measured using a multi array diodes. Monitor unit stabilities were measured for both x-ray energies. The dose linearity errors for the 6 MV x-ray were 2.1, 3.4, 6.9, 8.6, and 15.4 % when 20 MU, 10 MU, 5 MU, 4 MU, and 2 MU was delivered, respectively. Greater errors were observed for 10 MV x-rays with a maximum of 22% when 2 MU was delivered. These errors were corrected by adjusting D1_C0 values and reduced to less than 2% in all cases. The beam flatness and symmetry were appropriate without any correction. The picket fence test performed using diode array and film measurement showed similar results. The use of diode array is a convenient method in characterizing beam stability, symmetry and flatness, and positioning accuracy of MLC for IMRT commissioning. In addition, adjustment of D1-C0 value must be performed when a Siemens LA is used for IMRT because factory value usually gives unacceptable beam stability error when the MU/segment is smaller than 20.
KSCE Journal of Civil and Environmental Engineering Research
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v.33
no.3
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pp.833-841
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2013
In the case of composite material, a variety of characteristics were expressed depending on the materials that were composed of. In this study, the materials showing non-linear shear behavior were investigated among FRP composite. Each specimen was designed and analyzed according to ASTM D4255 method: regulations on the 2-rail. The dependent variables included in this experiment were a variety of fiber, fiber volume ratio, fiber array direction, temperature, material homogeneity. For determination of characteristics based on the fiber array, fiber array direction of 0, 30, 45, and 60 degrees were selected for test specimen. Temperature of 25, 40, 60, and $80^{\circ}C$ were considered for investigation of FRP materials'shear behavior based on the external temperature. Nonlinear shear behavior was observed throughout the FRP composite material in this study. Also, using vinyl ester resins, high fiber volume ratio, and fiber array direction of 45 degree appeared to show the most prominent nonlinear shear behavior. As for the findings related to the temperature change, non-linear behavior was decreased as the external temperature increased. For factory manufactured product, non-linear behavior was relatively at parity in comparison to the behavior found in the hand lay-up FRP composite specimen.
Journal of the Korean Society for Aeronautical & Space Sciences
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v.40
no.1
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pp.93-100
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2012
A telemetry signal occurs the line-of-sight problem by the effect of geography in flight test. A fixed relay system or a mobile relay system is used to solve that problem in general but we propose an airborne telemetry relay system using aircraft in this paper. An airborne telemetry relay system receives the telemetry signal of the test vehicle and then retransmits it to the ground system. The receiving antenna which is a phased array antenna can be tilted to ${\pm}30^{\circ}$ beam direction by beam-forming and track the rapidly moving test vehicle in effect. The relay pod which is mounted to an aircraft consists of the front antenna and the side antenna. It receives S-band signal and then down-converts the frequency to L-band signal. As a result, that can remove the frequency interference on an aircraft while retransmitting.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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v.15
no.2
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pp.184-193
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2015
This paper proposes a cost-efficient and automatic method for large data acquisition from a test chip without expensive equipment to characterize random process variation in an integrated circuit. Our method requires only a test chip, a personal computer, a cheap digital-to-analog converter, a controller and multimeters, and thus large volume measurement can be performed on an office desk at low cost. To demonstrate the proposed method, we designed a test chip with a current model logic driver and an array of 128 current mirrors that mimic the random process variation of the driver's tail current mirror. Using our method, we characterized the random process variation of the driver's voltage due to the random process variation on the driver's tail current mirror from large volume measurement data. The statistical characteristics of the driver's output voltage calculated from the measured data are compared with Monte Carlo simulation. The difference between the measured and the simulated averages and standard deviations are less than 20% showing that we can easily characterize the random process variation at low cost by using our cost-efficient automatic large data acquisition method.
Park, Jehong;Hong, Gyoyoung;Eom, Jeonghwan;Chong, Pilhan;Hong, Seungbeom
Journal of Advanced Navigation Technology
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v.24
no.1
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pp.9-15
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2020
Recently, active electronically scanned array (AESA) radar, electro-optical and infrared (EO-IR) and infra-red search and track (IRST) sensors are under development in the Korean fighter experimental(KF-X) project, and AESA radar is currently undergoing preliminary research for flight testing. This paper focuses on the flying test bed (FTB) aircraft operation cases of developed countries in accordance with AESA radar development. As a result, we review domestic laws and regulations related to the airworthiness for FTB aircraft to operate in domestic environment and look for ways to operate FTB aircraft. Therefore, we propose how to selecting, airworthiness and operating FTB aircraft suitable for the domestic environment.
We have recently proposed the new concept of a phase-measuring volumetric interferometer that enables us to accurately measure the xyz-coordinates of the probe without metrology frames. The interferometer is composed of a movable target and a fixed photo-detector array. The target is made of point diffraction sources to emit two spherical wavefronts, whose interference is monitored by an array of photo-detectors. Phase shifting is applied to obtain the precise phase values of the photo-detectors. Then the measured phases are fitted to a geometric model of multilateration so as to determine the xyz-location of the target by minimizing least square errors. The proposed interferometer has been designed and built with a volumetric uncertainty of less than 1.0 $\mu\textrm{m}$ within a cubic working volume of side 120 mm. Here, in this paper, we also present error sources, an evaluated uncertainty, and test results from the prototype system. The self-calibration of two-dimensional precision metrology stages is applied to test the performance of the interferometer.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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