The objective of this research is to develop a measurement error model for sculptured surfaces in On-Machine Measurement (OMM) process based on a closed-loop configuration. The geometric error model of each axis of a vertical CNC Machining center is derived using a 4${\times}$4 homogeneous transformation matrix. The ideal locations of a touch-type probe for the scupltured surface measurement are calculated from the parametric surface representation and X-, Y- directional geometric errors of the machine. Also, the actual coordinates of the probe are calculated by considering the pre-travel variation of a probe and Z-directional geometric errors. Then, the step-by-step measurement error analysis method is suggested based on a closed-loop configuration of the machining center including workpiece and probe errors. The simulation study shows the simplicity and effectiveness of the proposed error modeling strategy.
International Journal of Precision Engineering and Manufacturing
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제2권2호
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pp.73-80
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2001
The objective of this research is to develop a measurement error model for sculptured surface in On-Machine Measurement(OMM) process based on a closed-loop configuration. The geometric error model of each axis of a vertical CNC machining center is derived using a 4$\times$4 homogeneous transformation matrix. The ideal locations of a touch-type probe for the sculptured surface measurement are calculated from the parametric surface representation and X-, Y- directional geometric errors of the machine. Also the actual coordinates of the probe are calculated by considering the pre-travel variation of a probe and Z-directional geometric errors. Then, the step-by-sep measurement error analysis method is suggested based on a closed-loop configuration of the machining center including workpiece and probe errors. The simulation study shows the simplicity and effectiveness of the proposed error modeling strategy.
In this paper, we report the fabrication of the tip-on-gate of a field-effect-transistor (ToGoFET) probe using a standard complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) process and the performance evaluation of the fabricated probe. After the CMOS process, I-V characteristic measurement was performed on the reference MOSFET. We confirmed that the ToGoFET probe could be operated at a gate voltage of 0 V due to channel ion implantation. The transconductance at the operating point (Vg = 0 V, Vd = 2 V) was 360 ㎂/V. After the fabrication process was completed, calibration was performed using a pure metal sample. For sensitivity calibration, the relationship between the input voltage of the sample and the output current of the probe was determined and the result was consistent with the measurement result of the reference MOSFET. An oxide sample measurement was performed as an example of an application of the new ToGoFET probe. According to the measurement, the ToGoFET probe could spatially resolve a hundred nanometers with a height of a few nanometers in both the topographic image and the ToGoFET image.
The demands for reliable particle cloud temperature measurement exist in many process industries and scientific researches. Particle cloud temperature measurements depend on radiation thermometry at two or more color bands. In this study, we developed a sensitive, fast response and compact online infrared two-color probe to measure the temperature of a particle cloud in a phase of two field flow (solid-gas). The probe employs a detector contained two InGaAs photodiodes with different spectral responses in the same optical path, which allowed a compact probe design. The probe was designed to suit temperature measurements in harsh environments with the advantage of durability. The developed two-color probe is capable of detecting particle cloud temperature as low as $300^{\circ}C$, under dynamic conditions.
The periodontal probe is a commonly used instrument to assess periodontal conditions. And so, there has been many studies to develop the accuracy and reproducibility of the periodontal probe. The purpose of this study was to compare two different periodontal probes for measurement reliability and time required to use in subjects with moderate periodontitis. It was done after evaluating reproducibility of probing depth by stent guiding for a Manual probe and a Florida probe in subjects with healthy periodontal condition. The results were as follows 1. In experiment to evaluate the reproducibility of probing depth by stent guiding for a Manual probe and Florida probe in subjects with healthy periodontal condition, there was no major significant difference between intraprobe and interprobe relationships. 2. There were reduced probing measuremint error by using the Florida probe for posterior teeth and by using the Manual probe for anterior teeth of subjects with moderate periodontitis. 3. At proximal area, there was higher measurement error by using the Manual probe than the Florida probe. 4. The mean of pocket depth measurement using Manual probe was signifi cantly higher than that using Florida probe(p<0.05). With increasing pocket depth, interprobe difference increased and reproducibility reduced. 5. There was no significant difference in time required to use between Manual probe and Florida probe(p<0.05). 6. There was slight probing measurement difference between Manual probe and Florida probe at different site, but both probes have similar degrees of reproducibility and similar time required to probe.
Four-probe device of single ZnO nanowire was fabricated by electron beam lithography. Electrical characterizations in a two-probe and a four-probe configuration with a back-gate were carried out to clarify the relative contribution of the contact and the intrinsic part in a ZnO nanowire. I-V characteristic in four-probe measurement showed an ohmic behavior with a high conductivity, 100 S/cm, which was better than those of two-probe measurement by 10 times. At the same values of the current between two-probe and four-probe, the net voltage applied inside the nanowire were extracted with calculated voltages at the contact. Four-probe current-gate voltage characteristics showed bigger tendencies than those of two-probe measurement at low temperatures, indicating the reduced gate dependence in two-Probe measurements by the existence of the contact resistance.
Journal of electromagnetic engineering and science
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제14권4호
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pp.336-341
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2014
Dosimetry of radiating electromagnetic wave from mobile devices to human body has been evaluated by measuring Specific Absorption Rate (SAR). Usual SAR measurement system scans the volume by robot arm to evaluate RF power absorption to human body from wireless devices. It is possible to fast estimate the volume SAR by software deleting robot moving time with the 2D surface SAR data acquired by arrayed probes. This paper shows the principle of fast SAR measurement and the measured data comparison between the fast SAR system and the robot scanning system. Data of the fast SAR is well corresponding with data of robot scanning SAR within ${\pm}3$ dB, and its dynamic range covers from 10 mW/kg to 30 W/kg with 4.8 mm probe diameter.
When the trailing edge and leading edge of an airfoil contour of high pressure compressor blades are measured, there exists a measurement error due to the size of the probe stylus ball diameter. In the paper an experimental study is provided to determine the optimum diameter of the probe stylus in inspecting the airfoil of the high pressure compressor blade. The measurement and analysis procedure suggested in this paper will be helpful to those who are involved in measuring and inspecting various types of blades.
International Journal of Precision Engineering and Manufacturing
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제4권3호
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pp.20-27
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2003
Compensation of probe radius is required for accurate measurement in metal working industry. Compensation involves correctly measuring data on the surface in the amount of radius of the touch probe with a Coordinate Measuring Machine (CMM). Mechanical parts with free-formed curves and surfaces are complex enough so that accurate measurement and compensation are indispensable. This paper presents necessary algorithms involved in the compensation of the probe radius for free-formed curves and surfaces. Application of pillar curve is the focus for the compensation.
This paper describes the measurement and analysis of ground impedance according to arrangement of auxiliary probe around ground grid using the fall-of-potential method and the testing techniques to minimize the measuring errors are proposed. The fall-of-potential method involves passing a current between a ground electrode and a current probe, and then measuring the voltage between a ground electrode and a potential probe. To minimize interelectrode influences due to mutual resistances, the current probe is a generally placed at a substantial distance from the ground electrode under test. In order to analyze the effects of ground impedance due to the arrangement of auxiliary probe and frequency, ground impedances were measured in case that the arrangements of auxiliary probe were straight line, perpendicular line, and horizontal line. The distance of current probe was located from 10[m] to 200[m] and the measuring frequency was ranged from 55[Hz] to 513[Hz]. As a consequence, the ground impedance increases with increasing the distance from the ground electrode to the point to be tested, but the ground impedance decreases with increasing the frequency.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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