To make 3D camera system, we check the possibility of advanced range camera module based on measuring the time delay of modulated infrared light, using a single detector chip fabricated on standard CMOS process. To depth information, electronic shutter and interlaced scanning method of 2D sensor is needed. Especially, we design "lens system, illumination unit" and review simulation result.
Journal of Institute of Control, Robotics and Systems
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v.21
no.5
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pp.465-470
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2015
This paper proposes a robust 3D mapping system for a UAV (Unmanned Aerial Vehicle) that carries a LRF (Laser Range Finder) using the sinusoidal trajectory algorithm. In the case of previous 3D mapping research, the UAV usually takes off vertically and flights up and down while the LRF is measuring horizontally. In such cases, the measuring range is limited and it takes a long time to do mapping. By using the sinusoidal trajectory algorithm proposed in this research, the 3D mapping can be time-efficient and the measuring range can be widened. The 3D mapping experiments have been done to evaluate the performance of the sinusoidal trajectory algorithm by scanning indoor walls.
Proceedings of the Korean Society of Machine Tool Engineers Conference
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2001.04a
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pp.137-142
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2001
Since recent production system becomes that of the small quantity, large volume with high quality production, accurate and high speed inspection system is required. In such situation, noncontact 3D measurement system which utilized CCD cameras is useful technique in terms of system cost, speed of data acquisition, measuring accuracy and application. However, it has low accuracy compared with contact 3D measurement system because of the camera distortion, non uniformity of laser distribution and so on. For those reasons, in this paper precision enhancement method is studied considering radial camera distortion, and laser distribution. A distortion correction method is applied even to the standard lens. The laser slit beam trajectory is determined by 3 method: based of the Gaussian function signal approximation, the median method, the center of gravity method and the peak point of the Gaussian function method.
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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2002.10a
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pp.128-131
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2002
Three Dimensional measuring system using optical interference is greatly needed for semiconductor surface or optical surface. The application of this system are : MEMS product, semiconductor surfaces, optical components, precise machined surface, etc. In this paper, Interferometry based measurement system is introduced, which is nondestructive and noncontact inspection system. This system have relatively many advantage, compared with AFM/STM, SEM, Stylus, etc. The developed system can measure the surface topography with high precision and resolution, and with few seconds. And the associated software algorithm is also developed for the ultra precision 3D measuring surface. Various samples that is measured using this system is showed in the latter of this paper.
Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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2011.11a
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pp.223-226
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2011
반도체 공정에서 부품의 결함을 찾는 것은 완제품의 품질 개선을 위해 중요하다. 현재까지 많은 비전 알고리즘들이 부품의 결함을 찾기 위해 적용되고 있다. 그러나 이런 알고리즘 대부분은 2D 방식의 검사 방식에 머물고 있다. 그러나 이런 2D방식의 검사 방법은 반도체 칩의 Lead나 Pad 그리고 Solder Joint와 같이 3D 정보에 의해 불량 유무를 판결해야 하는 곳에 적용하기 어렵다. 이에 본 논문에서는 PMP(Phase Measuring Profilometry)방법에 의해 반도체 칩의 Lead부분을 검사하기 위한 시스템 구성과 방법을 제안한다.
Park, Sang Wook;Maeng, Hee-Young;Lee, Myoung Sang;Kwon, Kil Sun;Na, Mi-Sun
Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A
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v.38
no.9
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pp.1029-1036
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2014
Several types of automatic 3D scanners are available for use in the 3D scanning industry, e.g., an automatic 3D scanner that uses a robot arm and one that uses an automatic rotary table. Specifically, these scanners are used to obtain a 3D shape using automatic assisting devices. Most of these scanners are required to perform numerous operations, such as merging, aligning, trimming, and filling holes. We are interested in developing an automatic 3D shape collection device using a spherical-coordinate-based guiding system. Then, the aim of the present study is to design an automatic guiding system that can automatically collect 3D shape data. We develop a 3D model of this system and measuring data which are collected by a personal computer. An optimal design of this system and the geometrical accuracy of the measured data are both evaluated using 3D modeling software. The developed system is then applied to an object having a highly complex shape and manifold sections. Our simulation results demonstrate that the developed system collects higher-quality 3D data than the conventional method.
Journal of the Korea Society of Computer and Information
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v.6
no.4
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pp.104-109
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2001
In this paper, we designed a 3D shape measuring system with high speed and high measurement resolution using line-shaped sine stripes of a LCD projector We proposed an effective method to improve measurement efficiency for a 3D shape measuring system by finding the deficient shape information areas and recovering the shape information efficiently. We experimentally confirmed the improvement of measurement efficiency. Deficient shape information areas can be inevitably existed in a acquired image caused by the camera view angle and surface shapes of an object. The measurement efficiency is turned out to be improved by extracting these shadow areas and recovering the shape information efficiently using both a variable rated normalization and a variable sized phase recovering windows.
We demonstrated transmission direct phase-measuring deflectometry (DPMD) with a specular phase object having discontinuous surfaces by using two displays and a two-dimensional array detector for display and by recording the distorted fringe patterns. Three-dimensional (3D) information was obtained by calculating the height map directly from the phase information. We developed a mathematical model of the phase-height relationship in transmission DPMD. Unlike normal transmission deflectometry, this method supports height measurement directly from the phase. Compared with other 3D measurement techniques such as interferometry, this method has the advantages of being inexpensive and easy to implement.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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