• Title/Summary/Keyword: 홀 측정 장비

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Development of the Power Monitoring System for the Planetary Geared Motor using Hall Effect Sensor (홀 이펙트 센서를 이용한 유성기어 감속기모터의 동력 모니터링 시스템 개발)

  • Jang, In-Hun;Sim, Kwee-Bo;Oh, Se-Hoon
    • Journal of the Korean Institute of Intelligent Systems
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    • v.14 no.7
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    • pp.914-919
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    • 2004
  • When the motor is rotating, the torque and rpm are varying as the loads or the driving status connecting through reduction units are changing. On the contrary, one can monitor the changes of the loads or the driving status in the manner of measuring motor torque and rpm. There is a torque measuring method using the strain gauge and bridge circuit. But, because this is the contact method, it has the life time which is dependent on rotating velocity and used time. So this system demands on replacement of some Parts or whole system itself for maintenance. And this system is also relatively big and expensive, requiring preceding annoying process. In this paper, we are going to suppose non-contact method to measure torque and rpm using the Hall effects sensor For this we have made the planetary geared reduction motor with Hall sensors and with the monitoring system. The monitoring system displays the sensing data(torque, rpm) and calculated data( power) and also has the network capability with Bluetooth protocol. Our solution is much more inexpensive ;md simple method to measure torque and rpm than before.

Analysis of Via Fence Effects in PCB Transmission Lines (PCB 전송선에서 비아 펜스의 효과 분석)

  • Kim Jong-Ho;Park Sang-Wook;Ju Jae-Cheol;Park Dong-Chul
    • The Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science
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    • v.16 no.4 s.95
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    • pp.402-409
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    • 2005
  • In analog and digital electronic systems, crosstalk between transmission lines on the printed circuit board can degrade the performance of equipment operations. This paper presents a technique to analyze the effects of via fence, which is based on additional transmission lines grounded by vias. The technique is composed of a circuit concept approach for transmission line sections md an impedance modeling of via hole sections. All sections are represented by ABCD parameters and they are cascaded. Finally, this technique was verified by comparing the measurement results with the simulation ones.

SiO2 보호막 증착에 따른 p-GaN의 후열처리 효과 연구

  • Park, Jin-young;Ji, Taeksoo;Lee, Jin-hong;An, Su-chang
    • Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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    • 2013.05a
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    • pp.772-775
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    • 2013
  • We have grown a p-GaN film on sapphire by MOCVD and explored the post-annealing effort on the film after depositing a $2500{\AA}$ thick $SiO_2$ protective layer on it. By etching the $SiO_2$ protective film after the heat treatment, the hole concentration was measured, and compared with the data values before the heat treatment. In addition to the concentration, the hole mobility was also monitored while varying the atmospheric gas ratio of $N_2$ and $O_2$, the rapid thermal annealing temperatures ($750^{\circ}C$ and $650^{\circ}C$) and times (1 to 15 min.) In order to investigate the optical and structural properties of the film, room temperature and low temperature PL measurements were conducted.

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Recent Development of In-hole Seismic Method for Measuring Dynamic Stiffness of Subsurface Materials (지반의 동적물성치 측정을 위한 인홀탄성파시험의 최근 발전)

  • Mok Young-Jin;Jung Jin-Hun;Kim Young-Su
    • Journal of the Korean Geotechnical Society
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    • v.21 no.1
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    • pp.105-114
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    • 2005
  • An in-hole seismic method, which has been developed for measuring dynamic properties of subsurface materials, was improved in terms of cost effectiveness and practicality. The upgraded features include the motorized triggering system rather than the manual prototype version in the previous studies and a connecting rod between source and receiver in the module. The probe, thus, can be used for the field measurements of soil properties as well as those of rocks. The performance of the probe has been evaluated through extensive cross-hole tests and in-hole tests at various sites.

In-hole seismic method for measuring dynamic properties of soils (지반물성치 측정을 위한 인흘탄성파시험)

  • Mok Young Jin;Kim Young Su;You Chang Yeon;Han Man Jin
    • 한국지구물리탐사학회:학술대회논문집
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    • 2005.09a
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    • pp.117-123
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    • 2005
  • An in-hole seismic tests, which has been developed for measuring dynamic properties of soils and rock mass, is a bore hole seismic method that has cost effectiveness and practicality. The upgraded features include the motorized triggering system rather than the manual prototype version in the previous studies and a damper between source and receiver in the module. The performance of the probe has been verified through extensive cross-hole tests and in-hole tests at various sites. The dynamic stiffness of subsurface materials and rock mass have been evaluated and recently, the measurement of shear wave velocity was successfully adopted at horizontal holes of tunnel-face to install explosives. So the application of in-hole seismic test for various soil materials was certified.

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A Study on Micro Drill-Bit Measurement Using Images (영상을 이용한 미세 드릴비트 측정에 관한 연구)

  • Kwak, Dong-gyu;Choi, Han-go
    • Journal of the Institute of Convergence Signal Processing
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    • v.16 no.3
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    • pp.90-95
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    • 2015
  • This study presents a method to test quite small-sized and light-weighted micro-drill bits which are used to make holes in printed circuit boards(PCB). After getting images of micro-drill bits through the high resolution microscope, we developed image processing algorithms to detect fiducial points, and then measured diverse factors of the drill-bit based on these points. We also developed the window-based inspection system to automatically discriminate normal and abnormal status. For the relative comparison of its performance, the system was compared with an existing inspection system using test images. Experimental results showed that the proposed system slightly improved performance, and also classified correctly some misjudged errors which were occurred in the existing system.

CdSe/ZnS 양자점 전계발광소자에서 전하수송층인 Zinc Tin Oxide의 비저항이 소자의 발광 특성에 미치는 영향

  • Yun, Seong-Ryong;Jeon, Min-Hyeon;Lee, Jeon-Guk
    • Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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    • 2011.10a
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    • pp.44-44
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    • 2011
  • Unipolar 구조의 양자점 발광소자는 소자에 주입되는 전자로 구동 가능하게 설계되어 bipolar 구조와 달리 직류뿐만 아니라 교류로도 구동이 가능하다. 소자의 구조는 패턴된 ITO 유리기판 위에 Radio frequency magnetron sputter로 성장시킨 투명한 금속산화층 사이에 콜로이드로 분산된 양자점이 포함되어 있다. 본 연구에서는, 전하 수송층으로 사용되는 Zinc Tin Oxide (ZTO)가 전압 인가 시 발생하는 과부하로 인해 낮은 전계발광(electroluminescence, EL)특성이 나타나는 문제점이 있다. 이를 해결하고자 ZTO층의 비저항과 EL특성 사이의 관계를 알아보고, ZTO의 비저항 값을 변화시키기 위해 sputter 공정 중 인가 전력과 작업압력, 산소 분압 등의 성장 조건을 변화시켰다. ZTO의 조성비에 따른 비저항 및 전기적 특성을 홀 측정 장비로 측정하였다. 인가전력이 낮고 작업압력이 낮을수록 비저항 값이 낮았으며, 그에 따라 소자의 동작전압이 낮아지고 EL특성 또한 우수하게 나타났다.

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Metal-induced Crystallization of Amorphous Ge on Glass Synthesized by Combination of PIII&D and HIPIMS Process

  • Jeon, Jun-Hong;Kim, Eun-Kyeom;Choi, Jin-Young;Park, Won-Woong;Moon, Sun-Woo;Lim, Sang-Ho;Han, Seung-Hee
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2012.02a
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    • pp.144-144
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    • 2012
  • 최근 폴리머를 기판으로 하는 고속 Flexible TFT (Thin film transistor)나 고효율의 박막 태양전지(Thin film solar cell)를 실현시키기 위해 낮은 비저항(resistivity)을 가지며, 높은 홀 속도(carrier hall mobility)와 긴 이동거리를 가지는 다결정 반도체 박막(poly-crystalline semiconductor thin film)을 만들고자 하고 있다. 지금까지 다결정 박막 반도체를 만들기 위해서는 비교적 높은 온도에서 장시간의 열처리가 필요했으며, 이는 폴리머 기판의 문제점을 야기시킬 뿐 아니라 공정시간이 길다는 단점이 있었다. 이에 반도체 박막의 재결정화 온도를 낮추어 주는 metal (Al, Ni, Co, Cu, Ag, Pd, etc.)을 이용하여 결정화시키는 방법(MIC)이 많이 연구되어지고 있지만, 이 또한 재결정화가 이루어진 반도체 박막 안에 잔류 금속(residual metal)이 존재하게 되어 비저항을 높이고, 홀 속도와 이동거리를 감소시키는 단점이 있다. 이에 본 실험은, 종래의 MIC 결정화 방법에서 이용되어진 금속 증착막을 이용하는 대신, HIPIMS (High power impulse magnetron sputtering)와 PIII&D (Plasma immersion ion implantation and deposition) 공정을 복합시킨 방법으로 적은 양의 알루미늄을 이온주입함으로써 재결정화 온도를 낮추었을 뿐 아니라, 잔류하는 금속의 양도 매우 적은 다결정 반도체 박막을 만들 수 있었다. 분석 장비로는 박막의 결정화도를 측정하기 위해 GIXRD (Glazing incident x-ray diffraction analysis)와 Raman 분광분석법을 사용하였고, 잔류하는 금속의 양과 화학적 결합 상태를 알아보기 위해 XPS (X-ray photoelectron spectroscopy)를 통한 분석을 하였다. 또한, 표면 상태와 막의 성장 상태를 확인하기 위하여 HRTEM(High resolution transmission electron microscopy)를 통하여 관찰하였다.

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AFM을 이용한 나노급 $Ge_2Sb_2Te_5$의 전기적 특성

  • Bae, Byeong-Ju;Hong, Seong-Hun;Jo, Jung-Yeon;O, Sang-Cheol;Hwang, Jae-Yeon;Lee, Heon
    • Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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    • 2009.05a
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    • pp.21.1-21.1
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    • 2009
  • 상변화 메모리는 비휘발성 메모리이면서 빠른 동작 속도, 낮은 동작 전압 등 다양한 장점을 지니고 있어 차세대 메모리로 주목 받고 있다. 최근 상변화 메모리의 동작 전류를 감소시키기 위해 상변화 물질 및 전극 물질에 대한 연구를 진행하고 있으며, 소자의 크기를 최소화 하기 위한 연구가 진행되고 있다. 본 연구에서는 나노 임프린트 리소그래피와 전도성 AFM을 이용하여 나노급 상변화 물질의 특성을 평가하였다. 나노급 상변화 물질을 형성하기 위해 열경화성 나노 임프린트 리소그래피를 이용하여 $Ge_2Sb_2Te_5$(GST)/Mo/SiO2 기판 위에 200nm급 홀 패턴을 형성하였다. 홀 패턴에 Cr을 증착하여 리프트 오프 한 뒤 Cr을 하드 마스크로 사용하여 GST를 식각하였다. 그 결과, Mo 하부 전극 위에200nm 지름과 100nm 높이를 가지는 GST 나노 기둥을 형성하였다. GST 나노 기둥의 전기적 특성 평가를 위해 저항 측정 장비 및 펄스 발생기와AFM을 사용하였다. AFM은 접촉 모드로 설정하였으며, Pt가 코팅된 AFM tip을 사용하여 Cr 하드 마스크와 함께 상부 전극으로 사용하였다. GST 나노 기둥을 초기화 시키기 위해 I-V sweep을 하였으며, 그 결과 $1M\Omega$에서 $10\;k\Omega$으로 저항이 변화함을 확인하였다. GST 나노 기둥은 2V, 5ns의 리셋 펄스에서 비정질로 변화하였으며, 1.3V, 150ns의 셋 펄스에서 결정질로 변화하였다. 이 동작 전압으로 5번의 스위칭 특성을 평가하였으며, 이 결과는 소자 형태의 200nm 급GST의 특성과 유사하여 나노급 상변화 물질을 테스트하는 새로운 방법으로 사용될 수 있을 것이다.

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Demonstration of Nonpolar Light Emitting Diodes on a-plane GaN Templates

  • Seo, Yong-Gon;Baek, Gwang-Hyeon;Yun, Hyeong-Do;O, Gyeong-Hwan;Hwang, Seong-Min
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2011.02a
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    • pp.148-148
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    • 2011
  • 일반적으로 LED 제작에 사용되는 c-plane GaN는 c축 방향으로 발생하는 분극의 영향을 받게 된다. 분극은 LED내 양자우물의 밴드를 기울게 하여 그 결과 전자와 홀의 재결합 확률을 감소시켜 낮은 내부양자효율을 가지게 된다. 이러한 문제를 해결하기 위한 여러 가지 방법들이 제시되었는데 그 중에서도 특히 a-plane 혹은 m-plane면과 같은 무분극 면을 사용하는 GaN LED가 주목받고 있다. 그 이유는 무분극 면은 분극이 발생하는 c축과 수직이기 때문에 분극의 영향을 받지 않아 높은 내부 양자효율을 가질수 있다. 본 연구에서는 MOCVD 장비를 사용하여 2인치 r-plane 사파이어 기판위에 3um두께의 a-plane GaN을 성장하였다. 그위에 2um정도로 Si을 도핑하여 n-type GaN 형성한후 단일 양자우물, 그리고 Mg을 도핑하여 p-type GaN을 성장하였다. 장파장대역의 a-plane LED의 특성을 알아보기 위해서 양자우물 형성시 In의 조성비를 높였다. 일반적인 포토리소그래피 공정과 Dry etching 공정을 사용하여 메사구조를 형성하였으며 Ti/Al/Pt/Au와 Ni/Au를 각각 n-type과 p-type의 전극 물질로 사용하였다. 제작된 LED의 특성을 파악하기 위해서 인가전류를 0부터 100mA까지 출력 스펙트럼을 측정하였으며 orange대역의 파장을 갖는 LED를 얻었다. 인가전류별 Peak 파장의 변화와 반측폭의 변화를 파악하여 장파장 대역의 a-plane LED의 특성을 확인하였다.

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