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경로 지연 고장 테스팅을 위한 부분 확장 주사방법 (Partial Enhanced Scan Method for Path Delay Fault Testing)

  • 김원기;김명균;강성호;한건희
    • 한국정보처리학회논문지
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    • 제7권10호
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    • pp.3226-3235
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    • 2000
  • 반도체 집적 회로가 점점 복잡해지고 고속화되면서 반도체 집적 회로의 동작에 대한 검사 뿐 아니라, 회로가 원하는 시간 내에 동작함을 보장하는 지연 고장 검사의 중요성이 점점 커지고 있다. 본 논문에서는 경로 지연 고장에 대한 효율적인 테스트 입력 생성을 위하여 새로운 부분 확장 주사 방법을 제안한다. 본 논문에서는 유추와 할당을 적용한 테스트 입력 자동 생성기를 기반으로 하여 새로운 부분 주사 방법을 구현하였다. 우선적으로 표준 주사환경에서 테스트 입력을 생성한 후에 테스트 입력이 제대로 생성되지 않은 주사 사슬에 대하여 테스트 입력 생성기를 수행하는 동안의 정보를 이용하여 확장 주사 플립플롭이 적용될 플립플롭을 결정하였다. 확장 주사 플립플롭을 결정하는 기준으로서는 고장 검출율과 하드웨어 오버헤드를 사용하였다. 순차 회로인 ISCAS 89 벤치 마크 회로를 이용하여 실험을 수행하였으며, 실험을 통하여 표준 주사와 확장 주사 환경, 부분 확장 주사 환경에서 고장 검출율을 비교, 확인하였다. 그리고 새로운 알고리즘이 적용된 부분 확장 주사 방법에서 높은 고장 검출율을 확인함으로써 효율성을 입증하였다.

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플랫 블레이드 윈드실드 와이퍼의 역전 진동 저감에 관한 연구 (A Study on the Attenuation of Flip-over Vibration in the Flat Blade Windshield Wiper)

  • 이형일
    • 한국소음진동공학회논문집
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    • 제22권10호
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    • pp.974-984
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    • 2012
  • 플랫 블레이드 와이퍼의 블레이드의 누름압 분포를 조정하여 역전과정에서 발생되는 진동을 저감하는 방법을 제시하였다. 블레이드와 유리면 사이에 길이방향으로 불균일한 누름압 분포를 도입, 고무스트립에 점진적인 역전을 유도함으로써 역전과정에서 발생하는 충격력을 저감하였다. 블레이드 내의 바디스프링 형상을 이전 연구에서 제시된 방법을 통해 구해진 형태를 적용함으로써 누름압 분포를 조정하였다. 이 방법을 적용하여 전체 길이에 균일한 누름압과 불균일한 누름압을 발생시키는 두 종류의 블레이드를 개발한 다음 누름압을 측정하여 확인하였다. 두 블레이드에서 발생하는 수직방향 및 횡방향 진동을 측정 비교한 결과, 불균일한 누름압을 가진 블레이드가 균일한 누름압의 블레이드에 비해 훨씬 작은 수직방향 진동을 나타냄을 확인하였다.

마이크로파이프라인 회로를 위한 지연 고장 테스트 (Path Delay Testing for Micropipeline Circuits)

  • 강용석;허경회;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제38권8호
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    • pp.72-84
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    • 2001
  • 마이크로파이프라인 회로의 모든 연산 소자의 타이밍은 아주 중요하다. 스캔 플립플롭을 이용한 경로 지연고장 테스팅에 관한 기존 연구들은 두 개의 테스트 패턴 중 두 번째 패턴의 조절용이도가 높아야 한다는 점을 간과하였다. 본 논문에서는 작은 면적 오버헤드로 마이크로파이프라인 회로의 경로 지연고장을 테스트 할 수 있는 새로운 스캔 래치 및 테스트 방법을 제안하였다. 새로운 스캔 래치를 사용하여 마이크로파이프라인의 경로지연고장을 테스트한 결과에서 기존연구에 비해 높은 경성 경로 지연고장 검출율을 얻었다. 또한 제안된 스캔 래치는 마이크로파이프라인의 고착고장 검출을 위한 BIST로 응용을 확대하기 쉽다.

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저전력 테스트를 고려한 효율적인 테스트 데이터 압축 방법 (An Efficient Test Data Compression/Decompression for Low Power Testing)

  • 전성훈;임정빈;김근배;안진호;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제42권2호
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    • pp.73-82
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    • 2005
  • 스캔 테스트를 위한 테스트 데이터의 양과 파워 소모는 SoC 테스트에서의 최근의 직면한 가장 큰 문제들이다. 따라서 본 논문에서는 저전력 테스트를 고려한 새로운 테스트 데이터 압축 방법을 제안한다. 제안하는 압축 방법은 테스트 데이터 압축을 위해 압축율, 전력 소모 감소율과 하드웨어 오버헤드를 고려하여 최대 효율을 가지도록 하는데 기초하고 있다. 압축율과 전력 감소율을 높이기 위해서 본 논문에서는 IR (Input Reduction) 기법과 MSCIR (Modified Statistical Code using Input Reduction) 압축 코드을 사용하며, 뿐만아니라 이를 위한 사전 작업인 새로운 스캔 플립플롭 순서 재조합 기법 및 테스트 패턴 순서 재조합 방법을 제안한다. 기존의 연구와는 달리 CSR 구조를 사용하지 않고 원래의 테스트 데이터 $T_D$를 사용하여 압축하는 방법을 사용한다. 이렇게 함으로써 제안하는 압축 방법은 기존의 연구에 비해 훨씬 높은 압축율을 가지며 낮은 하드웨어 오버헤드의 디컴프레션 구조와 적은 전력 소모를 가진다. ISCAS '89 벤치 회로에 대찬 기존의 연구와의 비교로서 그 결과를 알 수 있다.