플리주마 디스플레이는 시야각이 매우 넓으며 비선형성이 우수하고 수동 행렬 구동이 가능하다. 제조방법이 다른 표시 장치보다 간단하고 대형화가 용이하기 때문에 42인치 이상 대형 표시 장치로 많은 회사에서 플라즈마 디스플레이를 개발 및 상용화 하고 있다. 플라주마 디스플레이는 초기에는 PMD(Pulse Momory Drive) 및 NOA(Nomally On Anode) 방식으로 구동하는 DC PCP를 중심으로 개발되었으나, DC PDP의 소비 전력이 매우 크고 패널의 수명이 짧기때문에 더 이상 개발되지 않고 현재 AC PDP를 중심으로 개발 및 상용화가 되고있다. AC PDP를 구동하는 방법으로 어드레스 구간과 유지 방전구간이 완전히 분리된 ADS(Address Display Seperation) 방식과 유지방전이 진행하는 동나 어드레스를 하는 AWD(Address While Display) 방식이 있다. 그러나, ADS 나 AWD 방식으로 고해상도 고휘도의 PDP를 구동하기가 어렵기 때문에 고해상도의 PDP를 구동할 수 있는 ALiS, MAoD, MASS 방식 등이 개발되었다. 그리고, AC PDP는 유지 방전할 때, 패널에 고전압을 충전하고 방전하기 때문에 패널에서 소모하는 전력이 많아 이를 줄이기위해 에너지 회수 회로를 사용하여 전력 소모를 줄이고 있다. 본 논문에서는 PDP의 구조 및 동작원리에 대해서 설명하고, 계조를 표시하기 위한 구동 방법, 전력 소모를 감소기키기 위한 에너지 회수회로 및 구동회로에 대해서 기술하였다.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2011.02a
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pp.222-222
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2011
용량성 결합 플라즈마는 반도체 및 디스플레이 공정에서 널리 쓰이기 때문에 그 방전 특성에 관한 연구는 매우 중요하다. 하지만 대부분의 연구는 상대적으로 유사한 면적을 갖는 전극 구조에서 주로 진행되어 왔다. 따라서 본 연구는 두 전극의 면적 차이가 매우 큰 비대칭 구조를 갖는 용량성 결합 플라즈마에서 방전 특성을 측정하였으며, 전력 소비 모드 전이와 플라즈마 밀도와의 상관관계에 관한 연구를 진행하였다. 인가 전력 또는 방전 전류가 증가함에 따라서 플라즈마에 전달된 전력은 초기에는 선형적으로 증가하다가 점차적으로 급격히 증가하였으며, 방전 저항은 감소하다가 증가하는 형태의 전이를 보였다. 전달 전력과 방전 저항의 변화는 용량성 결합 플라즈마에서 초기에는 대부분의 전력이 플라즈마 내의 전자에 의해 소비되다가 점차 쉬스 내의 이온의 가속 에너지로 소비되는 전력 소비 모드 전이에 의한 것이며, 이로 인해 플라즈마 밀도는 처음에는 큰 폭으로 증가하다가 그 증가 폭이 줄어들었다. 이러한 방전 특성에 관한 연구는 다양한 아르곤 압력 범위에서 인가 전력을 증가시킴에 따라서 실험하였으며, 스퍼터, 에칭 등 산업용 플라즈마 공정에서 최적의 방전 조건 형성을 위해 큰 도움이 되리라 예상된다.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2013.02a
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pp.558-558
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2013
유도 결합 플라즈마는 반도체 및 디스플레이 플라즈마 공정에서 널리 사용되고 있으며, 이때 대표적인 플라즈마 변수인, 플라즈마 밀도, 전자 온도 그리고 그들의 공간 균일도는 공정결과 및 소자 품질에 직접적인 영향을 준다. 하지만, 기존의 통상적인 유도 결합 플라즈마에서의 안테나 구조는 용량성 결합에 의한 이온 에너지 손실, 불 균일한 플라즈마 밀도 분포 그리고 높은 안테나 전압을 야기한다. 이러한 한계를 극복하기 위하여 SMP, 다중 전력 인가 대칭형 안테나를 고안하여 플라즈마 밀도의 공간 균일도 개선하였다. 구조적으로 두 개의 안테나가 수평면 상에 일정한 간격으로 중첩되며, 전기적으로 다중 전력을 인가하여 안테나 임피던스를 낮추고 안테나 전압을 방위각상 균등 배분하여 용량성 결합 문제를 저감함으로서 플라즈마의 회전방향 균일도를 개선할 수 있었다.
Jang Soo-Wook;Pyo Se-Jin;Lee Sung-Hak;Sohng Kyu-Ik;Kim Eun-Su
Journal of Korea Multimedia Society
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v.8
no.10
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pp.1360-1368
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2005
PDP is the flat panel display, suitable for high definition television because of large-sire and high-brightness. It has many advantages such as fast response, wide viewing angle, low weight, and simple manufacturing process for fabrication. However, there are some disadvantages and one of them is the image quality degradation, which is dependent on the digital signal processing. Although image quality of PDP is improving by many researches and experimentations, it still isn't as good as that of CRT because of various factors. One of them is worm-like pattern generated by an error diffusion process. And the worm-like pattern is severely increased after an APL process. An increased worm-like pattern occur a drop of resolution in image and a change of CCT according to each grayscale. In this paper, a method for improvement of image quality using the error diffusion which considers the APL process is proposed. In the proposed method, the APL process is performed before the error diffusion process. Simulation results showed that the proposed method has better performances for resolution in images and CCT uniformity according to each grayscale than the conventional method.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2010.08a
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pp.138-138
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2010
이중 주파수를 이용한 고주파 용량성 결합 플라즈마 장치는 반도체 및 디스플레이 생산 공정에서 널리 사용되는 장치 형태이며 일반적으로 이온 플라즈마 주파수보다 높은 주파수의 고주파 전력과 이온 플라즈마 주파수보다 낮은 주파수의 저주파 전력을 인가하여 플라즈마 발생 밀도 및 입사 이온 에너지를 독립적으로 조절할 수 있다. 용량성 결합 플라즈마 장치에서는 전극의 쉬스 임피던스가 비선형적으로 변화함에 따라 전극의 전압, 전류 및 플라즈마 전위는 수많은 고조파를 포함하게 되며, 이중 주파수가 인가된 경우 이러한 고주파와 저주파 신호의 고조파가 상호 변조된 형태로 나타나게 된다. 본 연구에서는 주파수에 따른 이온의 거동 특성 차이를 이용하여 변조된 형태의 Lieberman의 비균일 RF쉬스 모델을 가정한 고주파 쉬스를 단순한 저주파 쉬스로 모사하였다. 단순화된 저주파 쉬스 임피던스를 이용한 회로 모델을 구성하여 100MHz와 2MHz RF전력을 사용하는 용량성 결합 플라즈마 장치에서 측정된 전극 전압, 전류 및 플라즈마 전위 신호의 위상차 및 고조파 발생 특성을 분석하였다.
Park, Il-Seo;Bang, Jin-Yeong;Kim, Yeong-Cheol;Kim, Yu-Sin;Kim, Dong-Hwan;Jeong, Jin-Uk
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2012.02a
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pp.525-525
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2012
플라즈마 밀도와 전자온도는 반도체 및 디스플레이 공정결과에 결정적인 역할을 하므로 그에 대한 진단법 연구는 필수적이다. 하지만 대부분의 연구는 공정플라즈마와 같이 프로브 팁이 증착된 환경에서는 진단이 힘든 실정이다. 이러한 한계를 극복하기 위해서 부유전위 근처에서 고조파 진단법(floating harmonic method)에 대한 연구가 제시되었다[1]. 저밀도 플라즈마에서는 제 2 고조파의 측정이 어렵기 때문에 전자온도를 정확히 측정하기 힘들 수가 있다. 따라서 이에 대안으로 본 논문에서는 부유 고조파 진단법을 기반으로 하여 진폭과 주파수를 다르게 한 두개의 소신호 정현파 전압신호를 동시에 인가하여 플라즈마 변수를 진단하는 방법을 개발하였다. 본 방법을 이용하여 유도결합 아르곤 플라즈마에서 RF전력과 압력변화에 따라 플라즈마 변수진단을 진행하였고, 기존의 고조파 진단법의 결과와 일치하는 경향을 보이는 것을 확인하였다. 이 방법은 측정된 전류의 고조파 성분을 이용하지 않고 기본주파수를 가지는 전류의 크기 비율을 사용하여 전자온도 값을 구하기 때문에 저밀도 플라즈마에서 정밀한 진단이 가능할 것으로 예상된다.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2010.02a
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pp.469-469
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2010
공정 플라즈마에서 가장 중요한 요소 중 하나는 챔버 내 균일도 제어이다. 챔버 내 플라즈마 상태가 공간적으로 불균일한 경우 과에칭, 미증착 등의 문제가 웨이퍼의 특정 영역에 나타나게 되어 공정 수율이 감소된다. 이 연구에서는 2차원 평면 탐침을 챔버 내에 삽입하여 플라즈마 전자온도, 밀도, 이온 전류량 등의 상태변수를 측정 가능한 방법을 연구하였다. 기존의 2차원 평면 탐침과 달리, 측정 회로와 계산 모듈을 모두 삽입하여 외부의 컨트롤러가 필요 없어 반도체나 디스플레이의 플라즈마 공정의 사이사이에 삽입되어서 플라즈마 상태변수를 측정할 수 있는 장점을 가지고 있다. 본 임베디드 2차원 평면 탐침은 측정회로가 외부와 단절되어 전기적으로 절연되어 있어, 측정 방법으로 이중 탐침법을 응용하였다. 이중탐침에 정현파 전압을 인가하고 이 경우 들어오는 전류의 제 1 고조파와 제 3 고조파를 크기를 측정하는 방법으로 플라즈마 변수 계산이 가능하다. 이 측정 방법은 플라즈마 공정에서 쉽게 관찰할 수 없었던 공간적인 상태변수의 분포를 알 수 있고 플라즈마 균일도 제어에 기여할 수 있을 것이다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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