• Journal of Software Assessment and Valuation
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• v.15 no.1
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• pp.109-114
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• 2019

In this paper, simulations of S-parameter and characteristic impedance for the probe pin are performed and its high-frequency performance is analyzed. The probe pins are arranged with one signal pin in the center and four ground pins on the top, bottom, left and right sides. The insertion loss and return loss of the probe pin are calculated while increasing the separation between the probe pins to 0.35 mm, 0.40 mm, and 0.50 mm, respectively. It is confirmed that the probe pin has different features of the insertion loss due to its periodic resonance phenomenon. Effect of the characteristic impedance on pitch and assignment of the probe pin is also analyzed. It is verified that there are a number of ground pins whose characteristic impedance is close to 50 Ω.

• Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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• v.19 no.10
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• pp.324-329
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• 2018

This study examined the effects of the contact position and structure of the test probe on its signal transmission characteristics. The contact position in the operating of the test probe was considered and then divided into the plunger inner contact and barrel inlet contact. The high frequency performance of the test probes was investigated for both contact positions. The signal transmission characteristics of the test probes with the structures of double, single, and out-spring was also analyzed. The insertion and return losses were calculated using the HFSS and the characteristic impedance of the test probes was analyzed using a Q3D simulation. The insertion loss of the barrel inlet contact was smaller than that of the plunger inner contact. The contact position of the test probe may result in a change in the high frequency performance. The out-spring probe has better frequency characteristics at -1 dB insertion loss and -10 dB return loss. The double probe and single probe have the same characteristic impedance with $30.8{\Omega}$. On the other hand, the out-spring probe has an impedance of $47.1{\Omega}$. The out-spring probe is closer to $50{\Omega}$ than the other probes and then shows higher signal transmission characteristics. The out-spring probe has superior high-frequency characteristics and is expected to be suitable for high-speed applications.

• Journal of the Korean Society for Marine Environment & Energy
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• v.15 no.1
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• pp.22-24
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• 2012

Depending on the status of the engine oil, the dielectric constant is changed. Dielectric constant of oil is related to the characteristic impedance of the probe and the characteristic impedance of the probe determines the reflected signal. In this paper, we derive an equivalent circuit of the probe and using the dielectric constant obtained by measuring the capacitance, the theoretical reflection coefficient of the probe was calculated. In the results, if the engine oil is deteriorated, we can see that the reflection coefficient is increased.

• Journal of Korean Society of Transportation
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• v.20 no.4
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• pp.177-185
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• 2002

본 논문의 목적은 링크통행시간 자료를 수집하는 시스템에서 소요 프로브차량대수에 영향을 주는 요소들을 규명하고. 최적의 소요 프로브차량대수를 결정하는 모형을 개발하는데 있다. 자가용승용차, 택시, 버스, 택배차량 등 여러 종류의 차량들이 프로브차량으로 사용될 수 있다. 그러나 일정한 정확도 이상의 교통정보를 수집하기 위해서 얼마나 많은 프로브차량이 필요한지에 대한 연구는 그다지 깊이 있게 이루어지지 않았다. 적정 소요 프로브차량대수는 링크통행시간 자료수집 기술 수집대상 링크의 공간적 범위, 프로브차량의 종류 및 운행 특성, 자료수집 시스템의 신뢰도, 수집되는 자료의 정확도 등에 영향을 받게 된다. 소요 프로브차량대수를 결정하는 링크당 평균 통행시간 자료수, 프로브차량 밀도의 최소 확률, 그리고 자료 미수집링크의 허용비율의 3가지 결정기준이 정의되었다. 또한 이러한 결정기준에 대해 소요 프로브차량대수를 산출하는 모형이 개발되었다. 일반적으로 주기당, 링크당 평균 필요 통행시간 자료수$(d_R)$, 단위길이당 프로브차량의 대수 또는 밀도$(n_{min} or {\alpha})$, 일정 프로브차량밀도 이상의 확률($\beta$), 그리고 자료 미수집링크의 비율($\gamma$)이 클수록 소요 프로브차량대수는 증가한다. 민간 교통정보회사의 통행시간 수집시스템에서 소요 프로브차량대수를 산정하는 사례연구가 수행되었으며, 여러가지 조건에서 소요 프로브차량대수가 산출되었다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2011.07a
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• pp.1594-1596
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• 2011

고전압 펄스 성형회로의 출력 펄스를 측정하기위한 D-DOT 프로브를 설계 제작하고 그 동작 특성을 조사하였다. 이 프로브는 고전압 펄스 전송선의 외함에 전계방향과 병렬로 설치되었다. 프로브의 중심도체는 지름 4.6 mm의 구리선이고, 바깥도체는 안지름 15 mm의 알루미늄이며, 이들 도체사이에 동축의 테플론 절연체가 삽입되었다. 프로브에서 출력되는 신호는 고전압 펄스신호의 미분된 형태의 신호가 측정되므로 오실로스코프의 적분기능을 사용하였다. 실제 제작한 프로브의 교정비는 $7.7{\times}10^{12}$였으며, 컴퓨터 시뮬레이션을 통하여 얻은 교정비는 $7.38{\times}10^{12}$였다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2009.07a
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• pp.790_791
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• 2009

본 논문에서는 전자기 유한요소 해석을 통하여 원전 증기 발생기(SG, Steam Generator) 세관의 결함 변화에 따른 배열와전류프로브의 와전류탐상 특성을 해석하였다. 프로브의 전자기적 특성을 위해 맥스웰 방정식을 이용하여 지배방정식을 유도하였고, 이를 3차원 전자기 유한요소법을 이용하여 문제를 해석하였다. 해석을 위한 선정한 결함은 프로브의 특성파악을 위한 표준시험편과 원전 SG세관에 발생 가능한 결함인 Pitting, SCC, Wear, Multi SCC 결함을 선정하였다. 해석 대상으로는 원자력발전소 증기발생기 세관으로 사용되고 있는 Inconel 600 도체관을 사용하였다. 본 논문으로 통하여 결함의 형상, 크기, 시험주파수의 변화에 따른 탐상신호의 변화를 확인할 수 있었다. 본 논문의 결과는 배열와전류프로브의 와전류탐상 신호 평가시 도움이 될 것이다.

• 한국정보통신설비학회:학술대회논문집
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• 2008.08a
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• pp.566-569
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• 2008

와전류탐상(ECT) Transmit-Receive 프로브를 이용한 ECT 방법은 센서코일의 유도기전력의 변화를 관찰하여 피검사체의 결함이나 특성의 변화를 탐지해내는 방법이다. ECT T/R 프로브는 여러 개의 Pancake 코일로 구성되어있고, 각각의 코일은 Transmit 코일과 Receive 코일로 나뉜다. 본 논문은 실제 TH 프로브 제작에 앞서 동일한 특성을 갖는 와전류센서를 설계 및 제작하여 그 특성을 파악하였다. 와전류센서에 인가되는 시험주파수와 Lift-off의 변화에 대한 특성을 파악하고 와전류센서의 임피던스값을 산출하여 정규화 임피던스도를 그려 와전류센서의 특성을 살펴보았다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2011.07a
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• pp.906-907
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• 2011

본 논문은 3D 타원형 결함을 가진 알루미늄 판에 대하여 와전류 탐상 프로브 중 Impedance, T/R, T/T 프로브를 설계하여 결함에서의 특성을 파악하였다. 특성 파악을 위해 세 가지의 결함에 대하여 프로브 코일 임피던스의 실수, 허수 변화에 따른 와전류 센서의 특성을 비교하였다.

• The Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science
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• v.21 no.7
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• pp.831-841
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• 2010

The conventional vertical probe has the thin and long signal path that makes transfer characteristic of probe worse because of the S-shaped structure. So we propose the new vertical probe structure that has branch springs in the S-shaped probe. It makes closed loop when the probe mechanically connects to the electrode on a wafer. We fabricated the proposed vertical probe and measured the transfer characteristic and mechanical properties. Compared to the conventional S-shaped vertical probe, the proposed probe has the overdrive that is 1.2 times larger and the contact force that is 2.5 times larger. And we got the improved transfer characteristic by 1.4 dB in $0{\sim}10$ GHz. Also we developed the simulation model of the probe card by using full-wave simulator and the simulation result is correlated with measurement one. As a result of this simulation model, the cantilever probe and PCB have the worst transfer characteristic in the probe card.

• Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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• v.11 no.4
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• pp.1210-1215
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• 2010

The probe card are test modules which are to classify the good semiconductor chips and thin film before the packaging process. In the rapid growth a technology of semiconductor, the number of pads per unit area is increasing and pad arrays are becoming irregular. Therefore, the technology of probe card needs narrow width and lots of probe tip. In this paper, the probe tip based on the MEMS(Micro Electro Mechanical System)technology was developed a new MEMS probe tip for vertical probe card applications. For the structural designs of probe tip were performed to mechanical characteristics and structural analysis using FEM(Finite Element Method). Also, the contact force of MEMS probe tip compared with FEM results and experimental results. Finally, the MEMS probe card was developed a fine pitch smaller than $50{\mu}m$.