• Journal of Korean Society of Industrial and Systems Engineering
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• v.32 no.2
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• pp.179-185
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• 2009

공공사업이나 자동화 생산시스템 등에 있어서 설비 자산이 차지하는 비중은 매우 크며 이러한 설비들의 경제적 설비 대체 분석을 위하여 설비에 대한 수명분석이 이루어져야 한다. 본 논문에서는 설비들의 폐기 자료가 불충분한 경우의 수명분석에서 Iowa형 생존곡선을 기초로 한 CM 방법을 제시하였다. 기존의 SPR 방법이 평균 수명만을 추정하는데 비하여 제시된 CM 방법은 설비의 수명분포를 추정함으로써 평균 수명뿐만 아니라 폐기 자료의 폐기곡선과 폐기율을 추정할 수 있어 설비 교체 분석 시 유용하게 사용될 수 있다.

• Journal of the Korean Vacuum Society
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• v.4 no.4
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• pp.380-385
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• 1995

AI-1%Si 박막배선에서 수명의 길이 의존성 및 EM에 대한 저항성을 절연보호막 및 온도에 대하여 관찰하였고 ICB증착된 Cu박막배선의 EM에 대한 저항성을 측정하여 진공 열증착된 Cu 박막배선과 비교하였다. 첫째, 절연보호막 처리된 AI-1%Si 박막배선에서 길이가 200$\mu$m에서 1200$\mu$m로 증가함에 따라 전류인가에 의한 평균 수명과 활성화에너지값이 감소하다가 임계길이서부터는 모두 포화되는 것으로 나타났다. 절연보호막 물질에 상관 없이 고온으로 갈수록 임계길이가 짧아지며 그것을 넘는 영역에서는 길에에 대한 의존성이 약해져 임계길이 이상을 갖는 박막배선인 경우 평균수명 및 활성화 에너지값은 길이보다 막특성에 의존하는 것으로 사료된다. 둘째, ICB 증착된 Cu 박막배선의 d.c.인가에 따른 평균 수명은 진공 열층착된 Cu 박막배선보다 길게 나왔으며 e.ectromigration에 대한 활성화 에너지값도 1.70eV로 1.33eV보다 높게 측정되어 EM에 대한 저항성이 증가한 것으로 나타났다.

• The Korean Journal of Applied Statistics
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• v.14 no.2
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• pp.369-378
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• 2001

본 논문에서는, 신뢰성분석에서 고려되는 평균고장률의 추이에 관한 검정법에 대해 연구하였다. 즉, 수명분포가 지수분포를 따르는지 또는 수명분포의 평균고장률이 증가하는지를 검정하는 검정통계량을 제안하였다. 제안된 검정통계량은 순서통계량의 선형 함수의 형태로 이루어져 있고 대표본 뿐만 아니라 소표본에서도 쉽게 적용될 수 있다. 또한 제안된 검정통계량의 점근상대효율을 평가하기 위해, Klefsjo(1983)가 제안한 검정통계량과 비교하여 보았다.

• 전기의세계
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• v.53 no.9
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• pp.43-52
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• 2004

최근 한국사회는 국민소득향상, 생활수준의 개선, 의학기술의 발달 등으로 평균수명이 크게 연장 되어 고령화 사회로 발전되어 가고 있다. 평균수명이 짧았던 시대에는 고령화 문제가 크게 중요시되지 않았으나 수명이 연장됨에 따라 노후에 대한 경제적, 사회적 보호문제 등이 대두되고 있다. 노인들의 기본욕구는 주로 소득 보건 주택 여가 등에 관한 것으로 노후에도 자신의 능력과 적성에 맞는 일자리를 찾아 경제적 안정을 누리며 소득을 유지하고 의료보장으로 건강한 노후를 보낼 수 있으며, 가족관계가 안정이 되고 자기발전을 기하며, 사회참여와 역할을 지속하며, 휴식과 오락을 즐기고 문화를 창출하며 삶의 보람을 찾을 수 있는가 하는 것이 문제이다.(중략)

• The Korean Journal of Applied Statistics
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• v.7 no.2
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• pp.89-100
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• 1994

In this paper we consider a new estimator of mean residual life (MRL), based on the partial moment of the distribution. The parameters of a partial moment are estimated by its maximum likelihood estimators when the underlying distribution is known. Though the new estimator is not a consistent estimator of the MRL, it is shown to have smaller mean squared error than the well known empirical MRL estimator for certain parametric families. Numerical summaries of the mean squared errors of the new estimator are presented.

• Journal of the Korean Data and Information Science Society
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• v.5 no.2
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• pp.45-57
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• 1994

이 연구에서는 Hjort(1991)에의해 제안된 누적위험률함수의 비모수적 추정량을 이용하여 무한인 구간까지 정의된 평균잔여수명함수의 추정량을 제안하고 제안된 추정량의 일치성과 점근적 정규성을 밝히고, 모의실험을 통하여 다른 추정량들과 비교하고자 한다.

• 주택과사람들
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• s.199
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• pp.68-73
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• 2006

얼마 전 발표된 통계청 자료에 따르면 우리나라 평균 수명은 20년 새 8.4년이나 늘어나 세계에서 가장 빠른 증가 속도를 보였다. 이제 우리나라 평균수명은 미국보다 길고 유럽 국가들 수준에 근접하고 있다. 이처럼 고령화가 급속하게 진행됨에 따라 노인 소비 계층을 타깃으로 하는 다양한 실버 비즈니스가 생겨나고 있다.

• Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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• 2006.11a
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• pp.23.1-23.1
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• 2006

• Journal of the Korean Society for Aeronautical & Space Sciences
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• v.39 no.7
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• pp.612-617
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• 2011

An experimental study was carried out for the Elbrodur-NIB(copper alloy) at room temperature under stress-controlled uniaxial fatigue loading with and without mean stress. As a result, the effects of stress amplitude, mean stress and stress rate on ratcheting behavior were investigated. The ratcheting strain increased with increasing stress amplitude for a given mean stress, and with mean stress for a given stress amplitude. But, the ratcheting strain decreased as the stress rate increased. The three mean stress models were investigated and the mean stress models of Smith-Watson-Topper and Walker yielded good correlation of fatigue lives in the life range of $10^2-10^5$cycles.

• Journal of the Korean Vacuum Society
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• v.3 no.1
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• pp.59-64
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• 1994

극소전자 디바이스의 고집적화와 더불어 박막배선의 선폭은 0.5$\mu$m이하까지 축소되며 초고집적 submicron 박막금속화가 진행되고 있다. 미세회로에 적용되어지는 배선재료는 인가되는 고전류밀도로 인하여 electromigration 에 의한 결함이 쉽게 발생한다는 단점이있다. 금속박막 전도체위의 dielectric overlayer는 electromigration 에 대한 passivation 효과를 보여 극소전자 디바이스의 평균수명을 향상시 킨다.본 연구에서는 박막금속화에서 dielectric overlayer의 passivation 효과를 알아보기 위하여 약 3000 $\AA$ 두께의 Al,Al-1%Si, Ag 그리고 Cu 박막배선위에 증착하여 SiO2절연보호막의 유무에 따른 박막배선 의 수명변화 및 신뢰도를 측정하였다. 박막배선에 인가된 전류밀도는 1x106 A/cm2와 1x107 A/cm2 이었다. SiO2 dielectric overlayer는 Al,Al-1%Si Ag. Cu 박막배선에서는 electromigration에 대한 보호막 혀과를 보이며 평균수명을 모두 향상시킨다. SiO2 passivation 효과는 Al, Ag, Cu 박막중 Cu 박막배선에서 가 장 크게 나타났다. SiO2 dielectric overlayer가 형성되지 않은 경우 Al 박막배선의 수명이 가장 긴 것으 로 나타났으나 SiO2 가 형성된 경우는 Cu 박막배선의 수명이 가장 길게 나타났다.