• Title/Summary/Keyword: 패턴 생성

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Design of Test Pattern Generator and Signature Analyzer for Built-In Pseudoexhaustive Test of Sequential Circuits (순서회로의 Built-In Pseudoexhaustive Test을 위한 테스트 패턴 생성기 및 응답 분석기의 설계)

  • Kim, Yeon-Suk
    • The Transactions of the Korea Information Processing Society
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    • v.1 no.2
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    • pp.272-278
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    • 1994
  • The paper proposes a test pattern generator and a signature analyzer for pseudoexhaustive testing of the combinational circuit part within a sequential circuit when performing built-in self test of the circuit. The test pattern generator can scan in the seed test pattern and generate exhaustive test patterns. The signature analyzer can perform the analysis of the circuit response and scan out the result. Such test pattern generator and signature analyzer have been developed using SRL(shift register latch) and LFSR(linear feedback shift register).

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A Security System that Flexibly Generates a Range of Direction Data and Recognizes the Pattern (적응적으로 방향 데이터의 범위를 생성하여 패턴을 인식하는 보안시스템)

  • Han, Juchan;Jeon, Minseong;Kim, Jeongyeong;Cheoi, Kyungjoo
    • Proceedings of the Korean Society of Broadcast Engineers Conference
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    • 2016.06a
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    • pp.103-105
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    • 2016
  • 본 논문에서는 손의 움직임 패턴으로 암호를 구성하고, 이를 인식하는 보안 시스템에서 기존의 고정된 공간에서 방향 데이터 범위를 생성하여 입력되는 패턴마다 적응적으로 방향 데이터를 뽑아낼 수 없었던 단점을 극복하고자 입력되는 움직임 패턴의 방향 데이터를 입력 패턴마다 적응적으로 생성하는 방법을 제안한다. 기존의 고정된 공간에서의 방향 데이터 생성 방식 기법과 비교 실험한 결과 정인식률 94.2%로 기존방식의 91.4%보다 높은 인식률로 만족할 만한 성능을 보여줌을 확인할 수 있었다.

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Fuzzy Test Generation for Fault Detection in Logic Circuits. (논리회로의 고장진단을 위한 퍼지 테스트생성 기법)

  • 조재희;강성수;김용기
    • Proceedings of the Korean Institute of Intelligent Systems Conference
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    • 1996.10a
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    • pp.106-110
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    • 1996
  • 고밀도 집적회로(VLSI)의 설계 과정에 있어 테스트(test)는 매우 중요한 과정으로서, 회로내의 결함(fault)을 찾기 위해 일련의 입력값을 넣어 그 출력값으로 고장 여부를 판단한다. 회로의 테스트를 위하여 사용되는 일련의 입력값을 테스트패턴(test pattern)이라 하며 최고 2n개의 테스트패턴이 생성될 수 있다. 그러므로 얼마나 작은 테스트패턴을 사용하여 회로의 결함 여부를 판단하느냐가 주된 관점이 된다. 기존의 테스트 패턴 생성 알고리즘인 휴리스틱(heuristic)조건에서 가장 큰 문제점은 빈번히 발생하는 백트랙(backtrack)과 이로 인한 시간과 기억장소의 낭비이다. 본 논문에서는 이러한 문제점을 보완하기 위해 퍼지 기법을 이용한 새로운 알고리즘을 제안한다. 제안된 기법에서는 고장신호 전파과정에서 여러개의 전파경로가 존재할 때, 가장 효율적인 경로를 선택하는 단계에서 퍼지 관계곱(Fuzzy Relational Product)을 이용한다. 이 퍼지 기법은 백트랙 수를 줄이고 기억장소와 시간의 낭비를 줄여 테스트 패턴 생성의 효율을 증가시킨다.

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Improving The Performance of Triple Generation Based on Distant Supervision By Using Semantic Similarity (의미 유사도를 활용한 Distant Supervision 기반의 트리플 생성 성능 향상)

  • Yoon, Hee-Geun;Choi, Su Jeong;Park, Seong-Bae
    • Journal of KIISE
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    • v.43 no.6
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    • pp.653-661
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    • 2016
  • The existing pattern-based triple generation systems based on distant supervision could be flawed by assumption of distant supervision. For resolving flaw from an excessive assumption, statistics information has been commonly used for measuring confidence of patterns in previous studies. In this study, we proposed a more accurate confidence measure based on semantic similarity between patterns and properties. Unsupervised learning method, word embedding and WordNet-based similarity measures were adopted for learning meaning of words and measuring semantic similarity. For resolving language discordance between patterns and properties, we adopted CCA for aligning bilingual word embedding models and a translation-based approach for a WordNet-based measure. The results of our experiments indicated that the accuracy of triples that are filtered by the semantic similarity-based confidence measure was 16% higher than that of the statistics-based approach. These results suggested that semantic similarity-based confidence measure is more effective than statistics-based approach for generating high quality triples.

An Incremental Rule Extraction Algorithm Based on Recursive Partition Averaging (재귀적 분할 평균에 기반한 점진적 규칙 추출 알고리즘)

  • Han, Jin-Chul;Kim, Sang-Kwi;Yoon, Chung-Hwa
    • Journal of KIISE:Software and Applications
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    • v.34 no.1
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    • pp.11-17
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    • 2007
  • One of the popular methods used for pattern classification is the MBR (Memory-Based Reasoning) algorithm. Since it simply computes distances between a test pattern and training patterns or hyperplanes stored in memory, and then assigns the class of the nearest training pattern, it cannot explain how the classification result is obtained. In order to overcome this problem, we propose an incremental teaming algorithm based on RPA (Recursive Partition Averaging) to extract IF-THEN rules that describe regularities inherent in training patterns. But rules generated by RPA eventually show an overfitting phenomenon, because they depend too strongly on the details of given training patterns. Also RPA produces more number of rules than necessary, due to over-partitioning of the pattern space. Consequently, we present the IREA (Incremental Rule Extraction Algorithm) that overcomes overfitting problem by removing useless conditions from rules and reduces the number of rules at the same time. We verify the performance of proposed algorithm using benchmark data sets from UCI Machine Learning Repository.

VISI의 테스트생성에 대한 연구동향

  • Gang, Min-Seop;Lee, Chul-Dong;Yu, Young-Wook
    • Electronics and Telecommunications Trends
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    • v.3 no.3
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    • pp.76-84
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    • 1988
  • 자동적으로 테스트 패턴을 생성하는 방법에는 랜덤 패턴을 이용한 고장 시뮬레이션 기법과 알고리즘적인 테스트 생성 기법이 있다. 본고에서는 알고리즘적인 테스트 생성 기법에 대해서 지금까지 발표된 알고리즘을 위주로 하여 이들에 대한 연구동향 및 최근의 연구 사례에 대해서 기술한다.

An Analysis of Random Built-In Self Test Techniques for Embedded Memory Chips (내장된 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST의 비교분석)

  • 김태형;윤수문;김국환;박성주
    • Proceedings of the IEEK Conference
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    • 1999.11a
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    • pp.935-938
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    • 1999
  • 메모리 테스트는 Built-In Self Test(BIST)와 같이 메모리에 내장된 회로를 통하여 자체 점검하는 방법과 테스터를 통하여 생성된 패턴을 주입하는 방법이 있다. 테스트 패턴 생성방법으로는 각각의 고장모델에 대한 테스트 패턴을 deterministic하게 생성해주는 방법과 Pseudo Random Pattern Generator(PRPG)를 이용하여 생성하는 경우로 구분할 수 있다. 본 연구에서는 PRPG를 패턴 생성기로 사용하여 여러 가지 메모리의 결함을 대표한다고 볼 수 있는 Static 및 Dynamic Neighborhood Pattern Sensitive Fault(NPSF) 등 다양한 종류의 고장을 점검할 수 있도록 메모리 BIST를 구성하였다. 기존의 Linear Feedback Shift Register(LFSR)보다 본 연구에서 제안하는 Linear Hybrid Cellular Automata(LHCA)를 이용한 PRPG가 높고 안정된 고장 점검도를 나타내었다.

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Implementation of pattern generator for efficient IDDQ test generation in CMOS VLSI (CMOS VLSI의 효율적인 IDDQ 테스트 생성을 위한 패턴 생성기의 구현)

  • Bae, Seong Hwan;Kim, Gwan Ung;Jeon, Byeong Sil
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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    • v.38 no.4
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    • pp.50-50
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    • 2001
  • IDDQ 테스트는 CMOS VLSI 회로에서 발생 가능한 여러 종류의 물리적 결함을 효율적으로 검출 할 수 있는 테스트 방식이다. 본 논문에서는 CMOS에서 발생 빈도가 가장 높은 합선고장을 효과적으로 검출할 수 있는 IDDQ 테스트 알고리즘을 이용하여 패턴 생성기를 개발하였다. 고려한 합선고장 모델은 회로의 레이아웃 정보에 의존하지 않으며, 내부노드 혹은 외부노드에 한정시킨 합선고장이 아닌 테스트 대상회로의 모든 노드에서 발생 가능한 단락이다. 구현된 테스트 패턴 생성기는 O(n2)의 복잡도를 갖는 합선고장과 전압 테스트 방식에 비해 상대적으로 느린 IDDQ 테스트를 위해서 새롭게 제안한 이웃 조사 알고리즘과 고장 collapsing 알고리즘을 이용하여, 빠른 고장 시뮬레이션 시간과 높은 고장 검출율을 유지하면서 적은 수의 테스트 패턴 생성이 가능하다. ISCAS 벤치마크 회로의 모의실험을 통하여 기존의 다른 방식보다 우수한 성능을 보였다.

Intrusion Detection Model based on Intelligent System (지능형 시스템기반의 침입탐지모델)

  • 김명준;양지흥;한명묵
    • Proceedings of the Korean Institute of Intelligent Systems Conference
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    • 2002.12a
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    • pp.243-248
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    • 2002
  • 빠르게 변해 가는 정보화사회에서 침입 탐지 시스템은 정밀성과 적웅성, 그리고 확장성을 필요로 한다. 또한 복잡한 Network 환경에서 중요하고 기밀성이 유지되어야 할 리소스를 보호하기 위해, 더욱 구조적이고 지능적인 IDS(Intrusion Detection System)개발의 필요성이 요구되고 있다. 본 연구는 이를 위한, 지능적인 IDS를 위해 침입패턴을 생성하기 위한 모델을 도출함에 목적이 있다. 침입 패턴은 방대한 양의 데이터를 갖게 되고, 이를 정확하고 효율적으로 관리하기 위해서 데이터마이닝의 주요 2분야인 Link analysis와 Sequence analysis를 이용하여 정확하고 신뢰성 있는 침입규칙을 생성하기 위한 모델을 도출해낸다 이 모델은 "Time Based Traffic Model", "Host Based Traffic Model", "Content Model"로 각각 상이한 침입 패턴을 생성하게 된다. 이 모델을 이용하면 좀더 효율적이고 안정적으로 패턴을 생성 할 수 있다, 즉 지능형 시스템기반의 침입 탐지 모델을 구현할 수 있다. 이러한 모델로 생성한 규칙은 침입데이터를 대표하는 규칙이 되고, 이는 비정상 사용자와 정상 사용자를 분류하게 된다 모델에 사용된 데이터는 KDD컨테스트의 데이터를 이용하였다. 사용된 데이터는 KDD컨테스트의 데이터를 이용하였다.

Training Optimization for Fringe Pattern Generation Network Based on Deep Learning (딥러닝 기반의 프린지 패턴 생성 네트워크 학습에 대한 최적화)

  • Park, Sun-Jong;Kim, Woosuk;Seo, Young-Ho
    • Proceedings of the Korean Society of Broadcast Engineers Conference
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    • 2022.06a
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    • pp.858-859
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    • 2022
  • 본 논문에서는 프린지 패턴을 생성하는 딥러닝 기반의 WGAN-GP 네트워크의 최적화 방법을 제안한다. 기존의 복소 프린지 패턴 생성을 위한 GAN 모델은 생성의 정확도뿐만 아니라 학습의 안정성이 다소 부족하였다. 이에 따라 WGAN-GP 등의 업그레이드 된 방법을 사용하였지만, 네트워크 구조 및 파라미터에 따른 최적화가 필요하다. 보다 정확도 높은 정확도를 가진 프린지 패턴 생성을 위해 learning rate decay 사용하여 학습된 결과를 epoch 별 그래프로 최적화 전의 결과와 비교하고, 홀로그램과 복원 결과에 대한 PSNR 을 비교한다.

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