• The Transactions of the Korea Information Processing Society
• /
• v.5 no.9
• /
• pp.2369-2377
• /
• 1998

Fault simulators are used to evaluate the quality of a test pattern generated. So far, most fault simulators did not handle bus conflicts properly. We analyzed . all possible bus conflicts when test patterns are applied to a circuit with bus structure and categorized bus conflicts into various types. Also. we proposed an efficient method to identify various types of bus conflicts. The fault simulator which employs the proposed method can evaluate the quality of test patterns generated and also can avoid destruction of bus drivers due to bus conflicts hy warning the use of test patterns which cause bus conflicts. The proposed method can also be incorperated into a test pattern generator so that it can generate conflict-free test patterns.

• Proceedings of the Korea Multimedia Society Conference
• /
• 2001.11a
• /
• pp.115-120
• /
• 2001

본 논문에서는 비닐 튜브의 결함검사에 이용하기 위한 이진화 임계치의 자동 결정방법과 패턴매칭에 이용되는 패턴 모델의 자동 친정방법에 대하여 기술한다. 256 Gray 영상을 받아 들여 이진화 임계치를 결성하기 위해서, 휘도치 분포 곡선에서 2개의 극대값을 찾고, 두 극대 위치의 중간위치를 이진화 임계치로 결정하는 방법을 이용하였다. 그리고 패턴 모델을 생성하기 위하여는 수직, 수평 방향의 누적함(Profile)을 이용하였다. 이 방법은 인쇄물 검사 시스템뿐 아니라 비슷한 휘도치 분포를 같는 반도체 자동 검사 시스템을 비롯한 일반적인 건사 시스템에 적용이 가능하다.

• Proceedings of the KIEE Conference
• /
• 2005.10b
• /
• pp.127-129
• /
• 2005

본 연구에서는 백라이트 유닛의 검사를 위한 머신비전 시스템을 구축한다. 시스템은 크게 하드웨어와 소프트웨어로 나눌 수 있고 하드웨어는 조명부, 영상획득부, 로봇 암 제어부로 분류된다. 조명부는 36W FPL램프로 구성되었고 조명부의 상판에 아크릴판을 거치대로 이용하여 백라이트 유닛을 거치한다. 로봇 암 제어부는 2축 로봇 암을 제어하여 로봇 암의 센서부착 지지대에 부착된 CCD 센서를 이동시킨다. 이와 동시에 영상획득부에서는 이미지를 획득하여 PC로 전송한다. 소프트웨어의 화상처리 검사 알고리즘은 일정 패턴이 있는 도광판에 대한 검사 알고리즘과 일정패턴이 없근 백라이트 유닛에 대한 검사 알고리즘으로 분리된다. 일정 패턴이 인쇄되어 있는 패널에 대한 검사 알고리즘은 모폴로지 연산을 이용하는 템플릿 체크방법과 블록 매칭 방법이 사용되었고 일정패턴이 없는 유닛에 대한 검사는 개선된 Otsu 방법을 이용하여 얼룩이나 흐릿한 결함에 대한 결함을 검출하였다. 실험결과 불균일한 결함과 밝기가 일정하지 않은 결함일지라고 90% 이상의 검출율로 뛰어난 성능을 입증하였다.

• Journal of the Institute of Convergence Signal Processing
• /
• v.7 no.4
• /
• pp.161-168
• /
• 2006

In this paper, we propose a method for the pattern inspection of LCD module using the color compensation and pattern matching. The pattern matching is generally used for the inspection method of LCD module at the industry. LCD module has many defections such as the brightness difference of the back light, the optic feature of liquid crystal, the difference of the light penetrated by driving LCD and the color difference by the lighting. The conventional method without the color compensation can not solve these defections and decreases the efficiency of inspecting LCD module. The method proposed to inspect defective badness through the pattern matching after it compensated color difference of the LCD occurred by the various causes. At first, it revises with setting by standard tone of color with the LCD pattern of the reference image. And It perform the preprocessing and pattern matching algorithm on the compensated image. In experiment, we confirmed that this algorithm is useful to detect some defections of LCD module. The proposed methods was easy to detect the faulty product.

• The Transactions of the Korea Information Processing Society
• /
• v.4 no.2
• /
• pp.606-615
• /
• 1997

This paper proposes an dffcient method for test pattern generation.Current test pattern genration systems generate a test vester for fault $F_{i+l}$ independently of the computation previously done for faults F1,F2...,Fi The proposed algorithm generates a test vector for fault $F_{i+l}$ by inheriting the test vector for fault Fi. A new test vector is grnerated from inherited values by gradually changing the inhderited values .The inherited values may partially activate a fauog and propagate the fault signal,Normally,this reduses the number of decision steps and backtracks in the second search.Experimental results for well-Known benchmark circuts show that the proposed algorithm is very efficient with small backtrack kimit;in combination eith other algorithms,it is very efficient for arbitrary backtrack limits.

• The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
• /
• v.25 no.4A
• /
• pp.558-565
• /
• 2000

While research of ATPG(automatic test pattern generation) for combinational circuits almost reaches a satisfiable level, one for sequential circuits still requires more research. In this paper, we propose new algorithm for sequential ATPG based on state information learning. By efficiently storing the information of the state searched during the process of test pattern generation and using the state information that has been already stored, test pattern generation becomes more efficient in time, fault coverage, and the number of test patterns. Through some experiments with ISCAS '89 benchmark circuits, the efficiency of the proposed method is shown.

• Proceedings of the KAIS Fall Conference
• /
• 2000.10a
• /
• pp.121-123
• /
• 2000

섬유의 자동 검사에서는 섬유 패턴과 연관이 있는 결함과 패턴과 연관이 없는 결함의 2 부류를 검사하게 된다 본 논문에서는 이들 결함의 검사를 2 단계에 거쳐서 하게 되는데, 섬유 패턴에 독립적인 결함을 프로파일 분석을 통해 우선 검출하고, 섬유 패턴에 종속적인 결함을 co-occurrence 행렬을 이용해 검출하는 기법을 소개한다. 이렇게 해서 검출된 결함들은 Back-propagation 알고리즘을 사용해 분류된다. 이 기법을 통한 실험에서 백색 유광택 타포린에서 발생하는 이물질유입 및 위사빠짐을 97.1%이상 검출할 수 있었다.

• Proceedings of the Korea Water Resources Association Conference
• /
• 2018.05a
• /
• pp.164-164
• /
• 2018

강우침식인자는 토양침식에 영향을 주는 한 인자이다. 강우침식인자는 강우강도, 강우량, 강우빈도 등과 같은 강우패턴으로 산정되는 값으로 기후변화로 인해 많은 지역에서 강우패턴의 변화가 관측되었기에 강우침식인자 또한 기후변화로 인한 변화가 예상된다. 한국의 강우의 시공간적인 변동성에 대한 연구는 많이 진행되었으나, 강우침식인자에 대한 연구는 아직까지 미흡한 상태이기 때문에 본 연구에서는 한국의 강우침식인자의 시공간적 변동성을 분석하였다. 강우강도, 강우량, 강우빈도, 강우지속기간 등 강우패턴을 결정하는 인자들 중 어떤 인자가 강우침식인자의 시간적인 변동성에 영향을 주는지 조사하였다. 시간적인 변동성을 조사하기 위해서 경향성 검사를 진행하였다. 적용된 경향성 검사는 Mann-Kendall test, 수정된 Mann-Kendall test, Block Bootstrapping Mann-Kendall test, T-test를 적용하였다. 검사결과 대부분의 지점에서는 강우침식인자에서는 경향성이 발견되지 않았다. 경향성이 발견된 지점에 대하여 경향성의 원인을 검토해본 결과, 복합적인 강우패턴 인자의 영향으로 인하여 강우침식인자의 경향성이 발생하는 것을 확인하였다. 강우패턴 인자 중에서는 유효강우사상의 강우량이 가장 큰 영향인자인 것을 확인 할 수 있었다.

• Culinary science and hospitality research
• /
• v.9 no.3
• /
• pp.169-181
• /
• 2003

안면 특정 근육의 움직임으로부터 기록되는 Electronic Sensing System(ESS)신호는 인간의 관능검사에 사용할 수 있다. 본 연구는 ESS를 이용하여 저작패턴에 따라 나타나는 결과들을 분석, 분류하고 각 그룹별로 같은 식품에 대한 관능 감지도의 차이를 검사하기 위하여 각 그룹별 씹는 특성을 파악하여 이에 따라 패널요원들을 선발하였다. 패널들을 젊은 남$.$여 및 노년 남$.$여 총 4그룹으로 구분하여 껌 및 당근의 저작과정에 대한 패턴 즉 속도, 시간 및 총 에너지를 비교한 결과, 젊은 남$.$여 그룹(n=47, 18∼42세, 남성 27명, 여성 20명) 및 노년 남$.$여 그룹((n=44, 65세 이상, 남성 33명, 여성 31명)은 저작 특성들이 서로 달라 같은 식품에 대하여 서로 관능감지도가 달라질 수 있음을 나타내었다. 또한 ESS에 의한 각 패널들의 검사치를 분석한 결과 껌을 씹을 때의 에너지에 대한 표준편차는 2.0 이하(n=71)그리고 씹는 속도의 경우는 0.1 이하로 반복실험의 재현성이 있었다. 91명의 패널들을 저작 에너지 및 씹는 속도에 따라 4그룹(낮은 에너지를 사용하며 천천히 씹는 그룹, 낮은 에너지를 사용하면서 빨리 씹는 그룹, 높은 에너지를 사용하며 천천히 씸는 그룹, 그리고 높은 에너지를 사용하며 빨리 씹는 그룹)으로 분류하고 각 그룹별 평균값에 가장 비슷한 양상을 나타내는 6명씩 총 24명의 관능검사 요원들을 선발하였다.

• The Transactions of the Korea Information Processing Society
• /
• v.4 no.7
• /
• pp.1900-1906
• /
• 1997

In this paper, the efficient BILBO(named EBILBO) is designed for BIST that is able to batch the testing when circuit is designed on FPGA. The proposed algorithm of batch testing is able to test the normal operation speed with one-pin-count that can control all part of large and complex circuit. PRTPG is used for the test pattern and MISR is used for PSA. The proposed algorithm of batch testing is VHDL coding on behavioral description, so it is easily modified the model of test pattern generation, signature analysis and compression. The EBILBO's area and the performance of designed BIST are evaluated with ISCAS89 benchmark circuit on FPGA. In circuit with above 600 cells, it is shown that area is reduced below 30%, test pattern is flexibly generated about 500K and the fault coverage is from 88.3% to 100%. EBILBO for the proposed batch testing BIST is able to execute concurrently normal and test mode operation in real time to the number of $s+n+(2^s/2^p-1)$ clock(where, in CUT, # of PI;n, # of register, p is order # of polynomial). The proposed algorithm coded with VHDL is made of library, then it well be widely applied to DFT that satisfy the design and test field on sme time.