• Title/Summary/Keyword: 테스트 생성

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블랙박스 테스팅을 위한 함수 추상화 기반의 테스트 케이스 생성기법 (Test Case Generation for Black-Box Testing based on Function Abstraction)

  • 류호동;이우진
    • 한국정보처리학회:학술대회논문집
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    • 한국정보처리학회 2013년도 추계학술발표대회
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    • pp.1019-1021
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    • 2013
  • 오늘날 소프트웨어의 복잡화에 따라 그 테스트 방법 또한 다양화 되고 있다. 입력의 따른 결과 값을 비교하여 대상의 내부 구조에 대한 깊은 이해 없이 가능한 블랙박스 테스팅은 오늘날의 복잡한 소프트웨어의 테스팅에 있어 매우 적합한 방법이다. 하지만 이러한 테스트를 위한 테스트 케이스 생성을 위해서는 요구 명세와 더불어 이에 대한 깊은 이해를 필요로 한다. 이러한 문제를 해결하기 최근에는 UML과 같은 정형화된 명세 기반의 테스트 케이스 생성기법이 연구되고 있지만, 모델 기반의 개발 방법이 사용되지 않는 부분에서는 매번 이루어지는 코드 변경에 따라 모델을 다시 수정하는 번거로움이 필요하다. 이에 본 논문에서는 함수 레벨의 블랙박스 테스트를 위하여 코드를 이용하여 테스트 케이스를 생성하는 방법을 제안한다. 이를 위해 먼저 대상 함수를 추상화한 후 함수의 각 인자들을 이용하여 각 조건문 상의 인자의 쓰임을 분석하여 각 조건의 기준 값을 추출하고 이로부터 테스트 케이스를 추출하는 방법을 제안한다. 이러한 방법은 이미 구현되어 있는 코드를 사용함으로써 새로운 요구 명세에 대한 이해의 필요성을 줄이고 더불어 코드 기반의 테스트 케이스의 자동 생성연구의 초석이 된다.

RFID 미들웨어 평가를 위한 테스트 데이터셋의 품질 지표 (Quality Metrics for RFID Test Dataset to Evaluate RFID Middleware)

  • 류우석;권준호;홍봉희
    • 한국정보과학회:학술대회논문집
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    • 한국정보과학회 2012년도 한국컴퓨터종합학술대회논문집 Vol.39 No.1(B)
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    • pp.141-143
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    • 2012
  • RFID 미들웨어의 평가를 위한 방법으로서, 테스트 데이터셋을 이용한 시뮬레이션은 일반적으로 사용되는 평가 방법이다. 태그 식별자에 따라 순차생성된 가상 데이터셋이나 랜덤 생성된 데이터셋의 경우 미들웨어의 단순 처리량을 평가하기에는 유용하나 미들웨어의 정확성이나 실행 가능성를 평가하기에는 한계가 있다. 테스트 데이터셋은 실제 리더에서 생성된 데이터셋과 매우 유사하여야 함에도 불구하고, 테스트 데이터셋의 품질 기준이 정의되어 있지 않음에 따라 테스트 데이터셋이 얼마만큼 실제 데이터셋과 유사한 지를 평가하기가 어려운 문제가 있다. 이를 위해 본 논문에서는 RFID 미들웨어의 평가에 사용되는 테스트 데이터셋의 품질을 평가하기 위한 품질 지표를 제안한다. 제안하는 품질 지표는 실제 RFID 리더에 태그가 통과할 때 생성되는 데이터 셋을 기반으로 하여 정의하였으며, RFID 무선 인식의 고유의 특성, 즉 중복성과 불확실성을 수치화해서 표현하는 특징이 있다. 또한 제안한 품질 지표를 실제 RFID 리더를 통해 생성한 데이터셋에 적용하여 비교 검토함으로써 품질 지표의 유용성을 입증한다.

합선고장을 검출하기 위한 IDDQ 테스트 패턴 생성에 관한 연구 (A Study on IDDQ Test Pattern Generation for Bridging Fault Detection)

  • 배성환;김대익;전병실
    • 한국통신학회논문지
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    • 제25권12A호
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    • pp.1904-1911
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    • 2000
  • IDDQ 테스팅은 CMOS에서 발생 빈도가 가장 높은 합선고장을 효과적으로 검출할 수 있는 기법이다. 본 논문에서는 테스트 대상 회로의 게이트간에 발생 가능한 모든 단락을 고려하여, 이러한 결함을 효과적으로 검출하기 위한 테스트 패턴 생성기와 고장 시뮬레이터를 구현하였다. 구현된 테스트 패턴 생성기와 고장 시뮬레이터는 O(n2)의 복잡도를 가지는 합선고장을 효과적으로 표현하기 위한 기법과 제안된 테스트 패턴 생성 알고리즘 및 고장 collapsing 알고리즘을 이용하여 빠른 고장 시뮬레이션 수행시간과 높은 고장 검출률을 유지하면서 적은 수의 테스트 패턴의 생성이 가능하다. ISCAS 벤치마크 회로에 대한 실험을 통하여 기존의 다른 방식보다 성능이 우수함을 보여주었다.

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휴리스틱 입력 분석을 이용한 RRT 기반의 Simulink/Stateflow 모델 테스트 케이스 생성 기법 (Generating Test Cases of Simulink/Stateflow Model Based on RRT Algorithm Using Heuristic Input Analysis)

  • 박현상;최경희;정기현
    • 정보처리학회논문지:소프트웨어 및 데이터공학
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    • 제2권12호
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    • pp.829-840
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    • 2013
  • 본 논문은 Simulink/Stateflow 모델 기반의 테스트 케이스를 자동으로 생성하기 위하여, 휴리스틱 입력 분석을 이용한 Rapidly-exploring Random Tree(RRT) 기법을 제안한다. RRT는 모델 기반 블랙박스 테스트 케이스 생성 시 반드시 해결해야 되는 도달 가능성 문제를 효율적으로 해결할 수 있는 방법이지만, 모델의 내부 상태와 테스트 목표를 고려하지 않고 무작위로 모델의 입력을 생성하기 때문에 테스트 케이스 생성 효율이 떨어지는 단점이 있다. 제안하는 기법에서는 RRT를 확장해나갈 때 필요한 입력을, 모델의 현재 상태에서 만족 할 수 있는 테스트 목표를 분석하고 이를 달성할 수 있는 모델의 입력을 분석 결과에 따라 휴리스틱하게 결정함으로써, RRT의 장점을 보존하면서, 테스트 케이스 생성 효율을 높일 수 있다. 제안된 기법은 자동차에 사용되는 실 부품 ECU의 Simulink/Stateflow 모델을 대상으로 한 실험을 통해 성능이 평가되었으며, 기존 RRT와 비교하여 테스트 케이스 생성 효율이 높은 것을 보였다.

반도체 공정제어 소프트웨어를 위한 테스트 스크립트 관리 방법 (Test script management method for semiconductor process control software)

  • 주영민;정현준;백두권
    • 한국정보과학회:학술대회논문집
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    • 한국정보과학회 2012년도 한국컴퓨터종합학술대회논문집 Vol.39 No.1(A)
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    • pp.74-76
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    • 2012
  • 반도체 공정은 웨이퍼를 제작할 때 오류가 발생할 경우 웨이퍼 전체를 사용하지 못하는 손실이 발생한다. 이로 인해 반도체 공정제어 소프트웨어는 높은 품질을 요구하고 있다. 반도체 공정제어 소프트웨어를 위한 테스트의 중요성도 높아졌다. 하지만 반도체 공정제어 공정제어 소프트웨어 테스트는 대상이 되는 프로그램에 따라 테스트 스크립트의 변화가 많다. 이로 인해 테스트 스크립트 작성의 비용이 높으며, 이미 작성된 스크립트의 재사용이 어렵다. 이러한 문제를 해결하기 위해 이 논문에서는 반도체 공정제어 소프트웨어를 위한 테스트 스크립트 생성과정과 생성된 스크립트의 재사용성을 높이기 위한 색인방법을 제안한다. 제안한 스크립트 생성과정은 반도체 공정제어에서 사용하는 일반적인 테스트 과정을 기반으로 스크립트 생성의 복잡도를 줄일 수 있다. 소프트웨어에 존재하는 함수의 수정으로 인한 스크립트 재사용성 불가 문제를 해결하기 위해 함수에 대한 정보를 색인하여 기존 스크립트의 재사용성을 높인다.

소프트웨어 품질향상을 위한 소스코드 기반의 테스트 케이스 자동 생성에 관한 연구 (A Study on the Automatic Generation of Test Case Based on Source Code for Quality Improvement)

  • 손웅진;이승호
    • 전기전자학회논문지
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    • 제19권2호
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    • pp.186-192
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    • 2015
  • 본 논문에서는 소프트웨어 개발 과정에서 소프트웨어의 품질향상에 필요한 소스코드의 API를 기반으로 테스트 케이스를 자동으로 생성할 수 있는 기법을 제안한다. 제안된 기법은 Doxygen 오픈소스 툴을 이용한 소스코드 분석 과정, 분석된 결과를 이용한 API 사양 정의 과정, 테스트 디자인 생성 과정, Pairwise Test 기법을 적용한 테스트 케이스 생성 과정 등의 4가지 과정으로 구성된다. Doxygen 오픈소스 툴을 이용한 소스코드 분석 과정은 소스코드의 API 정보인 API 명, 입력 파라미터, 리턴 파라미터 정보 등을 추출하는 단계이다. 분석된 결과를 이용한 API 사양 정의 과정은 추출한 API 정보를 바탕으로 SQLite 데이터베이스를 이용하여 테스트 케이스 생성에 필요한 API 정보들을 데이터베이스화하여 정의하는 단계이다. 테스트 디자인 생성 과정은 정의된 API를 기반으로 입력 파라미터, 리턴 파라미터의 임계치 설정, 제약사항 설정 등을 통해 시나리오를 디자인하여 데이터베이스로 구성하는 단계이다. Pairwise Test 기법을 적용한 테스트 케이스 생성 과정은 테스트 디자인 정보를 바탕으로 Pairwise 조합 기법을 적용하여 실제 테스트 케이스를 생성하여 데이터베이스로 구성하는 단계이다. 제안된 기법의 효율성을 평가하기 위하여 기존의 명세서 기반의 테스트 케이스 생성 방법과 비교한 결과 비슷한 시간 내에 훨씬 더 많은 테스트 케이스가 생성되며, 명세 기반 기법으로는 불가능한 소스코드에 대한 기능 검증도 가능하여 소스코드내 결함 위치도 확인할 수 있다. 따라서 사람의 인력을 통한 수작업에 의존적으로 진행하였던 소프트웨어 개발 품질 향상 과정을 소스코드의 API를 기반으로 자동으로 테스트 케이스를 생성함으로써, 노동력 절감 및 제품 개발 시간 등을 단축 할 수 있으리라 기대된다.

CFG를 이용한 소프트웨어 테스트 케이스의 자동 생성 (Automatic Generation of Software Test Cases using CFG)

  • 윤성희
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제10권5호
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    • pp.985-991
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    • 2009
  • 문법 기반의 테스트 케이스 자동 생성(GBTG) 알고리즘은 문법 G를 기반으로 G에 의해 수용되는 문장들의 집합 L(G), 즉 소프트웨어 테스트를 위한 테스트 케이스를 생성한다. 문맥 자유 문법으로 기술되는 대부분의 언어들은 순환적 성격을 가지며, 일반적으로 G에 의해 생성되는 집합 L(G)는 너무 커서 생성된 케이스들을 모두 실행시킬 테스트 대상으로 삼는다는 것은 현실석이지 못하다. 본 논문에서는 CFG에 의해 자동 생성되는 테스트 케이스의 집합의 크기를 통제하면서도 테스트의 주요 범위를 커버하기 위하여 문맥 자유 문법을 보강하는 문법외적 요소인 태그들을 개발하고 실험하였다.

내장된 자체 테스트에서 경로 지연 고장 테스트를 위한 새로운 가중치 계산 알고리듬 (New Weight Generation Algorithm for Path Delay Fault Test Using BIST)

  • 허윤;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제37권6호
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    • pp.72-84
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    • 2000
  • 경로 지연 고장의 테스트 패턴은 두 개의 패턴을 가진 쌍패턴으로 이루어져 있다. 따라서 가중 무작위 패턴 생성 방법을 이용하여 지연 고장 테스트를 하기 위해서는 기존의 고착 고장을 위한 방법과는 다른 새로운 가중치 생성 방법이 적용되어야 한다. 결정론적 테스트 패턴을 이용하여 가중치를 계산할 때는 테스트 패턴의 집합을 패턴간의 해밍 거리가 너무 크지 않도록 분할하여 주는 것이 일반적이나 지연 고장 테스트에 있어서는 이 분할 방법이 너무 만은 가중치 집합을 생성하게 될 수도 있을 뿐만 아니라 부정확한 가중치를 계산하게 될 수도 있다. 따라서 본 논문에서는 결정론적 테스트 패턴의 분할 없이 가중치를 계산하여 고장 시뮬레이션을 생성하는 실험을 해 보았다. ISCAS 89 벤치마크 회로에 대한 실험 결과는 본 논문에서 제시한 경로 지연 고장을 위한 가중치 생성 방법의 효율성을 보여준다.

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테스트 스크립트 자동 생성을 위한 계층 구조 체크리스트 (A Hierarchical Checklist to Automatically Generate Test Scripts)

  • 김대준;정기현;최경희
    • 정보처리학회논문지:소프트웨어 및 데이터공학
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    • 제6권5호
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    • pp.245-256
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    • 2017
  • 본 논문은 구조화된 체크리스트로부터 임베디드 시스템 테스팅을 위한 테스트 스크립트를 쉽게 생성할 수 있는 방법을 제안한다. 제안하는 방법은 체크리스트를 이벤트(Event), 컴포넌트(Component), 입력 명령어(Command) 사전을 기반으로 구성하고, 사전으로부터 계층적으로 테스트 스크립트를 생성한다. 계층 구조로 임베디드 시스템의 물리적 입력 계층이 상위 계층의 컴포넌트 및 이벤트 계층에서 추상화되어 복잡한 시스템 입력 정보를 사용하지 않고도 테스트 스크립트를 생성할 수 있다. 비슷한 종류의 입출력 정보를 가지는 임베디드 시스템을 테스트하기 위한 테스트 스크립트 생성은 재사용성이 높은 사전을 이용하여 매우 쉽게 할 수 있다. 제안하는 방법의 유용성은 실험을 통해 보인다.