• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2000.10a
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• pp.427-429
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• 2000

멜티미디어 표준인 MPEG-2 TS 형태의 테스트 데이터를 자동 생성하는 도구인 TDGT(Test Data Generation Tool)를 설계하고 구현하였다. TDGT는 테스터로부터 기본적인 입력사항을 받아들이고 이를 기반으로 테스트 데이터를 자동 생성한 후 결과물로 테스트 데이터 스크립트 파일과 테스트 데이터 시나리오 파일, 테스트 데이터 커버리지 분석 결과를 테스터에게 제공한다. TDGT는 복잡하고 방대한 테스트 데이터를 생성하는데 요구되는 노력, 시간을 상당히 줄여주며 전문적인 지식이 없는 이도 쉽게 테스트 데이터를 생성할 수 있게 한다. 본 논문은 TDGT가 테스트 데이터를 자동 생성하는 구조와 TDGT의 분석을 제시하였으며 이 시스템의 prototype을 기술한다.

• Journal of Internet Computing and Services
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• v.9 no.2
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• pp.89-105
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• 2008

So far, most of research on automated test data generation(ATDG) deals with programs without pointers. Recently, few works hove been done on ATDG in the presence of pointers, but they ore path-oriented techniques which require the specification of on entire program path to be tested or a program to be executed. This paper presents a new technique for generating test data even without specifying a program path completely. The presented technique is a static technique which transforms the test data generation problem into a SAT(SATisfiability) problem and makes advantage of SAT solvers for ATDG. For the ends, we transform a program under test into Alloy which is the first-order relational logic and then produce test data via Alloy analyzer.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2012.06b
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• pp.150-152
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• 2012

일반적으로 테스트 데이터 자동 생성을 지원하기 위해 심볼릭 실행기나 제약 해결기와 같은 도구를 요구한다. 그러나 이와 같은 도구들을 개발하는 것은 상당한 노력이 요구되는 것도 사실이다. 이 논문에서는 이러한 도구들의 지원 없이 분기 커버리지를 효과적으로 달성할 수 있는 테스트 데이터 생성 방법을 제안한다. 이를 위해 경로 지향 테스트 데이터 생성을 위해 개발된 Korel의 방법을 확장하여 프로그램의 분기들을 가능한 많이 실행할 수 있는 테스트 데이터를 효과적으로 생성하는 방법을 제안한다.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2012.06b
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• pp.141-143
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• 2012

RFID 미들웨어의 평가를 위한 방법으로서, 테스트 데이터셋을 이용한 시뮬레이션은 일반적으로 사용되는 평가 방법이다. 태그 식별자에 따라 순차생성된 가상 데이터셋이나 랜덤 생성된 데이터셋의 경우 미들웨어의 단순 처리량을 평가하기에는 유용하나 미들웨어의 정확성이나 실행 가능성를 평가하기에는 한계가 있다. 테스트 데이터셋은 실제 리더에서 생성된 데이터셋과 매우 유사하여야 함에도 불구하고, 테스트 데이터셋의 품질 기준이 정의되어 있지 않음에 따라 테스트 데이터셋이 얼마만큼 실제 데이터셋과 유사한 지를 평가하기가 어려운 문제가 있다. 이를 위해 본 논문에서는 RFID 미들웨어의 평가에 사용되는 테스트 데이터셋의 품질을 평가하기 위한 품질 지표를 제안한다. 제안하는 품질 지표는 실제 RFID 리더에 태그가 통과할 때 생성되는 데이터 셋을 기반으로 하여 정의하였으며, RFID 무선 인식의 고유의 특성, 즉 중복성과 불확실성을 수치화해서 표현하는 특징이 있다. 또한 제안한 품질 지표를 실제 RFID 리더를 통해 생성한 데이터셋에 적용하여 비교 검토함으로써 품질 지표의 유용성을 입증한다.

• Journal of KIISE:Software and Applications
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• v.37 no.12
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• pp.882-891
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• 2010

Many automated dynamic test data generation technique have been proposed. The techniques evaluate fitness of test data through executing instrumented Software Under Test (SUT) and then generate new test data based on evaluated fitness values and optimization algorithms. Previous researches and experiments have been showed that these techniques generate effective test data. However, optimization algorithms in these techniques incur much time to generate test data, which results in huge test case generation cost. In this paper, we propose a technique for reducing the time of evaluating a fitness of test data among steps of dynamic test data generation methods. We introduce the concept of Fitness Evaluation Program (FEP), derived from a path constraint of SUT. We suggest a test data generation method based on FEP and implement a test generation tool, named ConGA. We also apply ConGA to generate test cases for C programs, and evaluate efficiency of the FEP-based test case generation technique. The experiments show that the proposed technique reduces 20% of test data generation time on average.

• The KIPS Transactions:PartD
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• v.14D no.2
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• pp.191-202
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• 2007

In general, test data generation techniques require the specification of an entire program path for automated test data generation. This paper presents a new way for generating test data automatically een without specifying a program path completely. For the ends, this paper presents a technique for transforming a program under test into Alloy which is the first order relational logic and then producing test data via Alloy analyzer. The proposed method reduces the burden of selecting a program path and also makes it easy to generate test data according to various test adequacy criteria. This paper illustrates the proposed method through simple, but illustrative examples.

• The KIPS Transactions:PartD
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• v.16D no.3
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• pp.371-380
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• 2009

Recently, lots of research on automated test data generation has been actively done. However, techniques for automated test data generation presented so far have been proved ineffective for programs with flag variables. It can present problems when considering embedded systems such as engine controllers that make extensive use of flag variables to record state information concerning devices. This paper introduces a technique for generating test data effectively for programs with flag variables. The presented technique transforms the test data generation problem into a SAT(SATisfiability) problem and makes advantage of SAT solvers for automated test data generation(ATDG). For the ends, we transform a program under test into Alloy which is the first-order relational logic and then produce test data via Alloy analyzer.

• The KIPS Transactions:PartD
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• v.8D no.1
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• pp.81-86
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• 2001

one key goal of software testing is to generate a 'good' test data set, which is consideres as the most difficult and time-consuming task. This paper discusses how genetic algorithns can be used for automatic generation of test data set for software testing. We employ mutation testing to show the effectiveness of genetic algorithms (GAs) in automatic test data generation. The approach presented in this paper is different from other in that test generation process requireas no lnowledge of implementation details of a program under test. In addition, we have conducted some experiments and compared our approach with random testing which is also regarded as a black-box test generation technique to show its effectiveness.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2009.11a
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• pp.875-876
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• 2009

회귀테스트(Regression Test)를 진행할 때 테스트 대상(class, function)의 숫자가 많아질수록 테스트하는데 많은 인력과 시간이 소요된다. 현재 이를 극복하기 위해서 다양한 도구가 사용되고 있다. 하지만 이러한 도구를 사용해도 테스트 데이터 생성에 대한 문제는 여전히 존재하고 있으며, 테스트 데이터 생성 문제는 회귀테스트 단계 진행에도 큰 문제점으로 나타나고 있다. 본 논문에서는 이를 해결하기 위해 가장 신뢰할 수 있는 입력 데이터인 구현단계에서 프로그래머에 의해 사용되는 데이터를 확보하고 이를 테스트 데이터로 활용하는 방법을 알아본다.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2002.04b
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• pp.394-396
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• 2002

품질 인증 테스트는 소프트웨어 품질을 결정하고 보증하기 위하여 인증 기관에서 제품 개발 후에 수행하는 테스트이다. 제품 개발 완료 후에 매뉴얼과 소프트웨어 제품을 가지고 수행되므로 효과적으로 테스트가 수행되기 위해서는 제품의 매뉴얼과 제품에 대한 정확한 분석을 해야 하고 이를 바탕으로 테스트 데이터를 생성해야 한다. 따라서 본 연구에서는 매뉴얼 기반의 테스트 데이터 선정 기법을 제안한다. 본 연구에서 제안한 매뉴얼 기반의 테스트 분석 모델과 테스트 데이터 선정기법을 사용하면 보다 정확하고 체계적인 데스트를 수행 할 수 있을 것이다.