• 제목/요약/키워드: 칠기

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컴퓨터 모델링과 시뮬레이션을 통한 반도체 FAB Line 분석 (Analysis semiconductor FAB line on computer modeling & simulation)

  • 채상원;한영신;이칠기
    • 한국시뮬레이션학회:학술대회논문집
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    • 한국시뮬레이션학회 2002년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.115-121
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    • 2002
  • The growth of semiconductor industry attracted to researchers like design, facility technique and making small size chip areas. But nowadays, cause of technology extension and oversupply and price down, yield improvement is the most important point on growth. This paper describes the computer mode]ing technique as the solutions to analyze the problem, to formalize the semiconductor manufacturing process and to build advanced manufacturing environments. The computer models are built referring an existing 8' wafer production line in Korea.

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살색을 이용한 고속 얼굴검출 알고리즘의 개발 (High Speed Face Detection Using Skin Color)

  • 한영신;박동식;이칠기
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2002년도 하계종합학술대회 논문집(3)
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    • pp.173-176
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    • 2002
  • This paper describes an implementation of fast face detection algorithm. This algorithm can robustly detect human faces with unknown sizes and positions in complex backgrounds. This paper provides a powerful face detection algorithm using skin color segmenting. Skin Color is modeled by a Gaussian distribution in the HSI color space among different persons within the same race, Oriental. The main feature of the Algorithm is achieved face detection robust to illumination changes and a simple adaptive thresholding technique for skin color segmentation is employed to achieve robust face detection.

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반도체 생산 기준정보 테이블을 이용한 이탈처리 분석시스템

  • 김태진;한영신;이칠기
    • 한국반도체및디스플레이장비학회:학술대회논문집
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    • 한국반도체및디스플레이장비학회 2006년도 춘계학술대회
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    • pp.121-126
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    • 2006
  • 본 연구는 반도체 산업의 공정에서 자동화를 위한 Solution 개발에 초점을 두었다. Spec-out(불량)이 발생하였을 경우에 엔지니어가 원인을 분석하고 조치를 취하던 이전의 방식을 탈피하여 Expert Knowledge Base System의 On-Line방식으로 전환하고자 한다. 이러한 시스템을 구축하기 위해 공정과 계측간에 발생하는 파라메터들의 상관관계를 수학적으로 도출하였으며, 상관관계들을 이용하여 이탈 발생시 처리를 하기 위한 Rule을 구성하였다. 그리고 이 Rule들을 바탕으로 이탈발생의 원인을 분석하는 추론 시스템을 구성하여 즉각적이고 신속하게 처리를 하기 위한 이탈처리 분석 시스템을 구성하는 방법을 연구하였다.

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PC 기반의 항공기 시뮬레이터 패널부분 개발 (Development of Panel Part in Flight Simulator based on PC)

  • 이준우;채상원;이칠기
    • 한국시뮬레이션학회논문지
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    • 제10권4호
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    • pp.31-40
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    • 2001
  • The flight simulator should be made like a actual flight. For the scene of sight, instrument should show the condition of flight and the pilot should catch the altitude, speed, pose and rate of lift of the airplane. This paper describes visual training program of driving airplane in practice. It is for beginners using joystick in PC, implements airplane physical equations. Flight simulator in it implements airplane panel parts in order to make simple modeling, And it uses rendering technology to implement vision parts of panel. It uses double buffering In make it faster and more efficient..

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반도체 단위공정시간 단축에 관한 연구 (Process Time reduction of Semiconductor using BCR)

  • 빅종화;한영신;이칠기
    • 한국시뮬레이션학회:학술대회논문집
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    • 한국시뮬레이션학회 2003년도 춘계학술대회논문집
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    • pp.135-140
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    • 2003
  • 반도체 제조 공정 중 FAB공정은 수많은 단위공정들로 이루어져 있고, 한 Lot에 대한 모든 공정을 진행하는 데에는 약 1개월 이상이 소요된다. 반도체 산업의 특성상 고객이 원하는 제품을 최단 시간 내에 생산을 해서 적기에 제품을 공급해야만 최대의 수익을 올릴 수가 있다. 그러므로 FAB공정의 공기단축은 반도체 생산에서 중요한 부분이 된다고 할 수 있다. 본 연구는 FAB공정 중 단위공정과 단위공정 사이에서 이루어지는 작업을 라인자동화를 통한 새로운 모델을 적용해서 단위공정에서 소요되는 시간을 단축함으로써, 반도체 제조의 생산성향상 및 공기단축을 목적으로 한다.

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웨이퍼 오류 패턴 인식 시뮬레이션 (Wafer Fail Pattern Classification Simulation)

  • 김상진;한영신;이칠기
    • 한국시뮬레이션학회:학술대회논문집
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    • 한국시뮬레이션학회 2003년도 춘계학술대회논문집
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    • pp.161-166
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    • 2003
  • Semiconductor Manufacturing has emerged as one of the most Important world industries. Even with the highly automated and precisely monitored facilities used to process the complex manufacturing steps in a near particle free environment, processing variations in wafer fabrication still exist. The causes of these variations may arise from equipment malfunctions, delicate and difficult processing steps, or human mistakes. In this paper, we could specify the cause stage and the cause equipment and take countermeasures at a speed by the conventional method, without depending on the experience and skills of the engineer

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교육 훈련용 3차원 항공기 시뮬레이터의 구현 (3D Flight Simulator for Education of Flying Tactics)

  • 최성윤;채상원;한영신;이칠기
    • 한국시뮬레이션학회논문지
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    • 제12권3호
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    • pp.1-11
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    • 2003
  • The flight simulator should be made like a actual flight. For the scene of sight, instrument should show the condition of flight and the pilot should catch the altitude, speed, pose and rate of lift of the airplane. The paper describes 3D flight visual training program of driving airplane in practice. It is for beginners using joystick in PC, implements airplane physical equations. And it uses rendering technology to implement vision parts of flying object.

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웨이퍼 오류 패턴 인식 시뮬레이션 (Wafer Fail Pattern Classification Simulation)

  • 김상진;한영신;이칠기
    • 한국시뮬레이션학회논문지
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    • 제12권3호
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    • pp.13-20
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    • 2003
  • Semiconductor Manufacturing has emerged as one of the most important world industries. Even with the highly automated and precisely monitored facilities used to process the complex manufacturing steps in a near particle free environment, processing variations in wafer fabrication still exist. The causes of these variations may arise from equipment malfunctions, delicate and difficult processing steps, or human mistakes. In this paper, we could specify the cause stage and the cause equipment and take countermeasures at a speed by the conventional method, without depending on the experience and skills of the engineer

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교육 훈련용 3차원 항공기 시뮬레이터의 구현 (3D Flight Simulator for Education of Flying Tactics)

  • 최성윤;채상원;한영신;이칠기
    • 한국시뮬레이션학회:학술대회논문집
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    • 한국시뮬레이션학회 2003년도 춘계학술대회논문집
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    • pp.37-42
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    • 2003
  • The flight simulator should be made like a actual flight. For the scene of sight, instrument should show the condition of flight and the pilot should catch the altitude, speed, pose and rate of lift of the airplane. The paper describes 3D flight visual training program of driving airplane in practice. It is for beginners using joystick in PC, implements airplane physical equations. And it uses rendering technology to implement vision parts of flying object.

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수율 향상을 위한 반도체 공정에서의 불량 유형 자동 분류 (Automatic classify of failure patterns in semiconductor fabrication for yield improvement)

  • 한영신;최성윤;김상진;황미영;이칠기
    • 한국시뮬레이션학회:학술대회논문집
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    • 한국시뮬레이션학회 2003년도 추계학술대회 및 정기총회
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    • pp.147-151
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    • 2003
  • Yield enhancement in semiconductor fabrication is important. Even though DRAM yield loss may be attributed to many problems, the existence of defects on the wafer is one of the main causes. When the defects on the wafer form patterns, it is usually an indication for the identification of equipment problems or process variations. In this paper describes the techniques to automatically classify a failure pattern using a fail bit map.

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