• 제목/요약/키워드: 전기 전자부품 스크리닝(EEE part screening)

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인공위성용 전기 전자 부품의 평가 방법

  • 이창호;한동인
    • 항공우주기술
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    • 제1권2호
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    • pp.173-178
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    • 2002
  • 전자부품 높은 신뢰성이 요구되며 극한의 운용 환경을 견디어야 하는 우주 프로그램에는 High-Reliability Part로 분류되는 Class S 이상의 Microcircuit, JANS 급 이상의 Discrete Semiconductor, 그리고 ER(Established Reliability) 등급 R 수준 이상의 Passive 소자들이 주로 사용된다. 그러나 일부 부품에 대해서는 High-Reliability Part로서 검증되지 않은 이른바 비표준 부품을 사용해할 경우가 빈번하게 생기고 있다. 이 경우 위성의 제작자는 자체적으로 부품을 검증하여 잠재적인 결함이 있는 부품들을 Screening할 수 있어야 한다. 본 기술 논문에서는 아리랑위성 1호기 및 2호기 개발을 통해서 이루어진 부품 검증과정을 간략히 소개하고자한다.

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