본 논문에서는 보안장비의 성능평가 및 네트워크 내 센서들의 로그정보를 수집할 수 있는 테스트베드를 구축하였다. 이 테스트베드는 실제 인터넷과 유사한 테스트 환경을 제공하여 테스트베드 내에서 공격을 직접 생성하거나 공격 트래픽이 포함된 데이타셀을 이용하여 공격을 재현할 수 있도록 구성되었다. 본 테스트베드는 기존 테스트베드에 비해 비교적 적은 비용과 시간으로 구축이 가능하며, 공격 트래픽의 유형이나 테스트베드 사용목적에 따라 수정이나 확장이 용이하다. 따라서 많은 비용과 시간의 소모로 인해 쉽게 진행할 수 없었던 보안장비의 성능평가나, 공격 발생 시 네트워크에 존재하는 센서들의 로그 수집을 용이하게 할 수 있다. 본고에서는 테스트베드 구축 시 발생할 수 있는 다양한 문제점과 그 해결방안을 제시하였으며 제안한 테스트베드를 이용하여 DDoS 공격과 월을 재현하는 과정을 보였다.
본 논문은 보드 레벨 테스팅 및 경계주사기법의 응용을 위한 테스트 버스 콘트롤러의 설계와 구현에 관해 다룬다. 테스트 버스 콘트롤러는 프로세서와 인터페이스를 통하여 IEEE 1149.1 테스트 버스를 제어하기 위한 칩이다. 최근 들어 IEEE 1149.1은 여러 분야에서 응용되어지고 있어서 다양한 응용분야에 적합한 테스트 버스 콘트롤러의 설계가 요구된다. 보드 레벨 테스팅을 위해서 SVF에 정의된 테스트를 수행할 수 있어야 하며, System-on-a-Chip (SoC) 설계 방식에서 내장되어지기 위해서는 작은 칩 크기와 높은 고장 검출률을 가져야 한다. 본 논문에서 구현된 칩은 기존의 테스트 장비에서 널리 쓰이는 SVF에 정의된 테스트를 모두 지원하며, 12k 게이트 정도의 크기를 가진다. 또한 독립적인 칩으로 쓰일 경우는 테스트 버스 콘트롤러가 버스 슬래이브로 쓰일 수 있으므로 IEEE 1149.1 테스트 회로를 가지도록 설계하였다.
고속직렬프로토콜의 출현으로 기존의 병렬 인터페이스에서 중요하게 사용되던 파라미터들의 의미가 변화되고 있다. 특히 ‘1’, ‘0’의 디지털 신호가 고속의 차동신호로 전송되면서 신호 무결성의 파라미터로 지터(jitter)가 중요한 의미를 가지게 되었다. 본 고는 지터의 발생과 분석, 테스트 등 전분야를 다루고 있다. 지터를 분석하기 위한 방법으로 Eye Diagram, Bathtub 곡선, TIE 히스토그램 등을 다루며 이러한 방법을 사용하여 지터를 각각의 특성별로 분리한다. 그리고 지터를 테스트 장비와 각각의 특징을 살펴본 후 PCI Express 트랜시버 지터 테스트의 실례를 통하여 지터 테스트 방법과 분석을 보여준다.
요즈음 생산되는 반도체의 제품이 제대로 작동하는지, 낮은 습도 또는 높은 온도에서 잘 견디는가를 검사하는 패키지 조립 및 검사 공정이 현장에 많이 있다. 또한 검사공정에서 사용되고 있는 반도체 테스트 핸들러 픽커 검사장비가 있는데, 본 연구에서는 CATIA 프로그램을 이용하여 3D 모델링하였으며, ANSYS 프로그램을 이용하여 반도체 테스트 핸들러 픽커 검사장비 프레임의 모델에 대하여 3가지 피로하중에 대한 해석을 하였다. 해석 결과로서 Case 1과 Case 2 모두 프레임의 가운데에서 최대 변형량이 발생하고 불규칙 피로 하중들 중에서 가장 하중의 변동이 심한 'SAE bracket history'가 가장 불안정하고 'Sample history'가 가장 안정함을 보이고 있다. 본 연구의 피로 해석 결과는 반도체 테스트 핸들러 픽커 검사장비 프레임의 파손방지 및 내구성을 검토함으로서 그 프레임의 설계에 효율적으로 활용이 될 수 있다.
유도탄 체계개발 기간 중 유도탄 기능 점검을 위하여 유도탄 종합점검장비를 제작하여 사용하는데, 장비 제작을 위하여 전원 및 통신 등에 대한 요구사항을 관리한다. 유도탄 종합점검장비 개발자는 유도탄과 통신하는 데이터의 신뢰성 확보를 위하여 제시된 통신 규격에 따라 소프트웨어를 구현한다. 구현 후 테스트베드를 구축하여 자체 성능평가를 수행하고 기준 장비를 이용하여 검증하는 프로세스로 진행하는데, 테스트 베드 구축 시 데이터의 주기적 지연 전송 특성을 반영하여야 한다. 본 논문은 주기적 지연 데이터 처리를 위한 테스트 베드 구축 방법에 대하여 기술하였고, 기존 설계된 알고리즘을 변경하여 성능을 비교 평가 하였다.
도로면 크랙실링 공법은 균열발생 초기에 도로면을 보수하여 균열의 확산을 예방하는 유지보수공법으로써 북미를 중심으로 한 선진 외국에서는 이미 오래전부터 많은 도로 보수 물량에 적용되어 왔다. 그러나 재래식 크랙실링 공법은 작업 특성상 교통량이 많은 일반도로나 고속국도에서 작업이 수행되므로 교통사고가 빈번하게 발생하고, 가열된 실런트를 도로면에 직접 분사하기 때문에 화상의 위험으로부터 노무자의 안전을 확보하기 어려운 문제점이 있다. 이러한 문제점을 해결하기 위하여 선진 외국에서는 1990년대 초부터 ARMM, OCCSM, TTLS 등의 크랙실링 자동화 장비를 지속적으로 연구 개발해 왔으며, 국내에서도 2004년 APCS 장비와 2013년 ACSTM 장비를 개발 완료한 바 있다. 그러나 다수의 연구기관에서 서로 상이한 시기에 개발된 크랙실링 자동화 장비는 각기 다른 테스트베드 조건과 생산성 측정 방법을 사용하여 개발 장비의 작업 생산성을 측정, 표기함으로써 각 크랙실링 자동화 장비의 성능을 객관적으로 비교, 평가할 수 없는 문제점이 있었다. 이 연구에서는 동일한 환경 조건 내에서 크랙실링 자동화 장비의 생산성을 측정하기 위해 완전자동 맵핑 및 반자동 맵핑 방식에 따른 각 크랙실링 자동화 장비의 이미지 프로세싱 소요시간을 추정하고, 작업 프로세스상의 동작요소별 이동시간을 산정하였다. 또한 국내 도로환경이 반영된 생산성 측정 테스트베드를 설계하였으며, 이를 기반으로 국내외에서 개발된 크랙실링 자동화 장비의 생산성을 동일한 조건 내에서 측정하고 상호 비교, 분석하였다.
여러 장치들과 연동하여서 동작하는 네트워크 시스템 개발 시, 회귀 테스트는 전체 시스템의 안정성을 보장하기 위한 가장 필요한 테스트중의 하나이다. 그러나, 서비스가 되고 있거나 연동을 위한 추가적인 장비가 필요할 경우 테스트의 제약을 받게 된다. 본 논문에서는 자동 회귀 테스트를 위한 가상 네트워크 망을 제공하는 시뮬레이터를 디자인 한다. 또한, 시뮬레이터를 효율적으로 관리 및 동작하기 위한 UI 환경을 제안한다. 오픈 소스를 기반으로 제작된 본 시나리오의 관리 툴은 회귀 테스트의 자동화와 시나리오의 생성 및 배포가 가능하며 여러 프로토콜을 통합하여 사용할 수 있는 환경과 검증 코드를 제공한다. 이로 인해 네트워크 시스템 상의 소프트웨어에 대해 기능 및 회귀 테스트가 가능해 질것이고 결과적으로 프로그램의 개발 시간 단축과 유지보수에 탁월한 환경을 제공받게 될 것이다.
본 연구에서는 현재 IBM PC등에 사용되는 8088프로세서의 16비트버젼인 8086프로세서의 ICE를 설계 제작하였다. 8088프로세서와 8086프로세서는 그 내부 기능이 동일하기 때문에 어셈블러나 링커등의 소프트웨어 개발장비들을 IBM PC에서 지원받을 수 있으므로 IBM PC에 연결된 ICE는 전체적으로 하나의 MDS시스템을 구성할 수 있다. 제작된 ICE는 1) 테스트하려는 시스템의 메모리에 대한 읽기 및 쓰기, 2) 테스트프로그램의 실제 조건에서의 수행, 3) 디버깅 기능, 4) ICE의 메모리 영역을 테스트하려는 시스템에서 활용하도록하는 기능 등을 수행할 수 있도록 하였다. 또 8086프로세서는 싱글프로세서모드와 멀티프로세서모드의 두가지 동작 모드가 있는데 싱글프로세서모드에서 동작될 수 있도록 설계되었으며 ICE의 기능 수행을 위한 논리 회로의 구성과 이해에 주안점을 두었다.
반도체 검사장비를 제조하는 전문 벤처기업 (주)미래산업은 창업 15년만에 '테스트 핸들러'라는 장비를 개발, 돈방석에 앉았다. 공직생활 18년을 끝내고 중소기업현장에 뛰어들었다가 퇴직금 사기당하고, 18억원 들인 '완전자동웨이퍼 검사기' 개발마저 실패하는 등의 역경을 딛고 새로운 기술개발로 벤처기업의 신화를 창조했다.
본 논문에서는 4K UHD (Ultra High Definiation) 디스플레이 기기들의 품질 측정을 위해 TTA 4K 방송용 비디오 모니터 테스트 항목과 내용을 소개한다. 이를 통해서 테스트 패턴 설계에 대한 요구사항을 정리하여 4K 디스플레이에 적용 가능한 계측용 테스트 패턴과 육안확인용 테스트 패턴을 제안한다. 본 논문에서 제안하는 테스트 패턴을 통해 4K UHD 디스플레이 기기들의 적절한 평가와 성능 측정이 가능해지며 아울러 관련 장비를 개발하는 입장에서 객관적 측정 평가뿐만 아니라 육안평가도 손쉽게 할 수 있을 것으로 기대된다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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